本发明专利技术公开一种金属探测线圈、金属探测器及金属探测线圈的生产方法，其通过接收线圈包括与发射线圈绕向相反的第二接收段和与发射线圈绕向相同的第一接收段、第三接收段，第一接收段与第二接收段的感应磁场互感抵消，第三接收段弥补第一接收段互感抵消的部分信号，能够实现发射线圈发射产生的磁场的基础抵消，避免了接收线圈由于发射线圈的影响而存在的默认值，进而提升金属探测线圈的灵敏度，同时不依赖于复杂的分析判别算法，即可实现金属的远距离探测，在弱信号探测下，探测效果更佳且实现机理更加简单，还能够消除发射线圈对接收线圈的影响，在不提高发射信号强度的前提下，提升金属探测线圈的灵敏度以及精度。升金属探测线圈的灵敏度以及精度。升金属探测线圈的灵敏度以及精度。
【技术实现步骤摘要】
一种金属探测线圈、金属探测器及金属探测线圈的生产方法
[0001]本专利技术特别涉及一种金属探测线圈、金属探测器及金属探测线圈的生产方法，应用于检测定位领域。
技术介绍
[0002]目前的金属探测线圈一般包括接收线圈，接收线圈之间绕向相同，通过接收线圈接收目标金属物产生的第二磁场，并在接收线圈上产生感应电压相互叠加，以提高目标金属物被检测的灵敏度，譬如中国专利(申请号：201510454543.5)公开的一种传感器、用于分析传感器的测量信号的方法以及检测物体的方法，即采用上述结构。
[0003]但是现有技术中，采用上述结构的金属探测线圈，其对于发射线圈本身产生的影响未做优化处理，即不管有无被测金属，接收线圈由于发射线圈的影响始终存在一个默认值，该默认值会对弱信号产生巨大的影响，降低被测物体的灵敏度；与此同时，由于收发信号之间的干扰未相互抵消，弱信号存在误检、漏检情况，因此金属探测线圈的设计过程中需要使用复杂的金属判别算法来弥补线圈设计的不足；且现有技术中的金属探测线圈只能在较小的发射信号下使用，当发射信号的增大探测距离不能同比变化，当发射信号越强，金属感应的信号也会随之增强，接收线圈直接受发射线圈的影响也会随之增强，而且所述影响大于所提升的灵敏度；现有技术中的金属探测线圈还存在由于接收线圈与发射线圈处于同平面或近平面，接收线圈与发射线圈的间距要明显大于金属探测线圈与被测金属之间的距离才能保证探测灵敏度的问题。
技术实现思路
[0004]本专利技术针对现有技术中的不足，提供一种金属探测线圈、金属探测器及金属探测线圈的生产方法。
[0005]本专利技术解决其技术问题采用的技术方案是：一种金属探测线圈，包括用于发射产生磁场的发射线圈和用于接收发射线圈发射产生的磁场经金属物体反射的磁场的接收线圈，所述接收线圈对应设置于发射线圈的外围，所述接收线圈包括与发射线圈绕向相反的第二接收段和与发射线圈绕向相同的第一接收段、第三接收段，所述第一接收段、第二接收段和第三接收段在同一平面上依次连接。
[0006]进一步地，所述第二接收段靠近发射线圈设置，所述第三接收段远离发射线圈设置，所述第一接收段设置于第二接收段与第三接收段之间。
[0007]进一步地，所述第一接收段包括相互连接的第一接收部分和第二接收部分，所述第一接收部分和第二接收部分依次对应设置于发射线圈的外围。
[0008]进一步地，所述第一接收部分和第二接收部分关于发射线圈对称分布。
[0009]进一步地，所述接收线圈还包括第一连接部和第二连接部，所述第一接收部分通过第一连接部与第二接收部分连接，所述第二接收段通过第二连接部与第三接收段连接。
[0010]进一步地，所述接收线圈还包括信号输出端，所述信号输出端包括第一输出端和
第二输出端，所述第一输出端与第一接收段相连接，所述第二输出端与第三接收段相连接。
[0011]进一步地，所述发射线圈和接收线圈安装在印制电路板上，所述印制电路板上设有多个供所述发射线圈固定安装的定位孔和多个供所述信号输出端穿过的信号输出孔位。
[0012]进一步地，所述定位孔设置为三个，所述三个定位孔呈等边三角形设置。
[0013]一种金属探测器，所述金属探测器包括一种金属探测线圈、探测信号输入电路、放大电路和分析电路，所述探测信号输入电路的输出端与发射线圈相连接，金属探测线圈的信号输出端与所述放大电路的信号输入端相连接，所述放大电路的信号输出端与分析电路的信号输入端相连接。
[0014]一种金属探测线圈的生产方法，所述生产方法包括以下步骤：
[0015]S1、在印制电路板上设置定位孔和信号输出孔位；
[0016]S2、顺时针绕线形成发射线圈，并通过定位孔将发射线圈固定于印制电路板上；
[0017]S3、围绕发射线圈顺时针绕线形成第一接收段，在第一接收段末端逆时针绕线形成环绕于第一接收段内部的第二接收段，在第二接收段末端通过第二连接部顺时针绕线形成环绕于第一接收段外侧的第三接收段，从而形成接收线圈，其绕线的起始位置和终点位置即为信号输出端；
[0018]S4、将信号输出端穿过信号输出孔位，得到金属探测线圈。
[0019]本专利技术的有益效果：本专利技术提供了一种金属探测线圈、金属探测器及金属探测线圈的生产方法，通过接收线圈包括与发射线圈绕向相反的第二接收段和与发射线圈绕向相同的第一接收段、第三接收段，第一接收段与第二接收段的感应磁场互感抵消，第三接收段弥补第一接收段互感抵消的部分信号，能够达到以下效果：
[0020]1、实现发射线圈发射产生的磁场的基础抵消，避免了接收线圈由于发射线圈的影响而存在的默认值，进而提升金属探测线圈的灵敏度；
[0021]2、不依赖于复杂的分析判别算法，即可实现金属的远距离探测，在弱信号探测下，探测效果更佳且实现机理更加简单；
[0022]3、消除发射线圈对接收线圈的影响，在不提高发射信号强度的前提下，提升金属探测线圈的灵敏度以及精度，且本专利技术能够通过提升发射信号的大小以增加探测距离，而不用过多考虑收发信号之间的干扰问题；
[0023]4、该金属探测线圈更好地平衡了线圈内外部的感应强度，削弱了接收线圈与发射线圈在同平面或近平面的影响，排除了发射信号对金属探测线圈探测灵敏度的干扰，进而实现金属探测线圈的最大探测性能。
附图说明
[0024]图1是本专利技术提供的一种金属探测线圈的结构示意图；
[0025]图2是本专利技术提供的第一接收段的结构示意图；
[0026]图3是本专利技术提供的A部分的放大图；
[0027]图4是本专利技术提供的金属探测线圈另一形式的结构示意图。
[0028]附图标记：1
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发射线圈；2
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接收线圈；21
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第一接收段；211
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第一接收部分；212
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第二接收部分；22
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第二接收段；23
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第三接收段；241
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第一连接部；242
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第二连接部；25
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信号输出端；251
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第一输出端；252
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第二输出端；31
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定位孔。
具体实施方式
[0029]为使本专利技术实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本专利技术实施例的附图，对本专利技术实施例的技术方案进行清楚、完整的描述。显然，所描述的实施例是本专利技术的一部分实施例，而不是全部的实施例。基于所描述的本专利技术的实施例，本领域普通技术人员在无需创造性劳动的前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。
[0030]在本专利技术的描述中，需要理解的是，术语“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“顶”、“底”“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本专利技术和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种金属探测线圈，其特征在于：包括用于发射产生磁场的发射线圈(1)和用于接收发射线圈发射产生的磁场经金属物体反射的磁场的接收线圈(2)，所述接收线圈(2)对应设置于发射线圈(1)的外围，所述接收线圈(2)包括与发射线圈(1)绕向相反的第二接收段(22)和与发射线圈(1)绕向相同的第一接收段(21)、第三接收段(23)，所述第一接收段(21)、第二接收段(22)和第三接收段(23)在同一平面上依次连接。2.根据权利要求1所述的一种金属探测线圈，其特征在于：所述第二接收段(22)靠近发射线圈(1)设置，所述第三接收段(23)远离发射线圈(1)设置，所述第一接收段(21)设置于第二接收段(22)与第三接收段(23)之间。3.根据权利要求2所述的一种金属探测线圈，其特征在于：所述第一接收段(21)包括相互连接的第一接收部分(211)和第二接收部分(212)，所述第一接收部分(211)和第二接收部分(212)依次对应设置于发射线圈(1)的外围。4.根据权利要求3所述的一种金属探测线圈，其特征在于：所述第一接收部分(211)和第二接收部分(212)关于发射线圈(1)对称分布。5.根据权利要求3所述的一种金属探测线圈，其特征在于：所述接收线圈(2)还包括第一连接部(241)和第二连接部(242)，所述第一接收部分(211)通过第一连接部(241)与第二接收部分(212)连接，所述第二接收段(22)通过第二连接部(242)与第三接收段(23)连接。6.根据权利要求1所述的一种金属探测线圈，其特征在于：所述接收线圈(2)还包括信号输出端(25)，所述信号输出端(25)包括第一输出端(251)和第...
【专利技术属性】
技术研发人员：雷鸣，
申请(专利权)人：永州市诺方舟电子科技有限公司，
类型：发明
国别省市：
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