本实用新型专利技术涉及LED芯片技术领域，具体涉及一种LED芯片的推力测试装置，所述旋转台设置在机架上，所述卡接环与旋转台同轴且设置在旋转台的侧方并固定在机架上；所述滑轨竖直且连接在旋转台的侧壁上，所述滑柱滑动连接滑轨，所述驱动结构连接滑柱，所述卡接环内壁倾斜，所述滑柱下端抵接卡接环内壁。本实用新型专利技术的有益效果在于：本实用新型专利技术提供的LED芯片的推力测试装置中，工作人员越向下移动滑柱，使滑柱下端在卡接环上卡接越牢固。而向上移动滑柱后使旋转台可以在机架上旋转，调整旋转台的角度，可以更正确的使推刀经过某一行或某一列的LED芯片的上方。的LED芯片的上方。的LED芯片的上方。
【技术实现步骤摘要】
一种LED芯片的推力测试装置
[0001]本技术涉及LED芯片
，具体涉及一种LED芯片的推力测试装置。
技术介绍
[0002]LED(Light Emitting Diode)即发光二极管，是一种电能转化为光能的固态半导体器件。作为新型的发光器件，LED具有高光效、节能、使用寿命长、响应时间短、环保等优点，因此被称为最有潜力的新一代光源。
[0003]在倒装的LED芯片的可靠性验证中，锡膏固晶后的推力是极为重要的参数；多个所述LED芯片是阵列在基板上的。现有技术中，在LED芯片的推力测试中，推力机对基板位置角度调整不方便，在基板的位置角度调整完成后也没有稳固的固定；因为推力机的推刀需要施力在基板的各个LED芯片上，上述的问题将导致推刀抵接LED芯片的位置不正确，进而造成推力测试失败的问题。
技术实现思路
[0004]本技术所要解决的技术问题是：提供一种LED芯片的推力测试装置，便于使推刀施力在各个LED芯片上的正确位置。
[0005]为了解决上述技术问题，本技术采用的一种技术方案为：一种LED芯片的推力测试装置，包括机架、旋转台、卡接环、滑轨、滑柱、驱动结构和推刀；
[0006]所述旋转台设置在机架上，所述卡接环与旋转台同轴且设置在旋转台的侧方并固定在机架上；所述滑轨竖直且连接在旋转台的侧壁上，所述滑柱滑动连接滑轨，所述驱动结构连接滑柱，所述卡接环内壁倾斜，所述滑柱下端抵接卡接环内壁；
[0007]所述推刀架设在机架上。
[0008]进一步地，还包括移动轨，所述移动轨架设在机架上且旋转台上方，所述移动轨水平，所述推刀通过滑动连接移动轨而架设在机架上。
[0009]进一步地，还包括挡板，所述挡板竖直设置在推刀的侧壁上，并与推刀间隔设置。
[0010]进一步地，还包括卡接条，所述滑柱通过卡接条抵接卡接环，所述卡接条水平设置，所述卡接条的中部连接于滑柱的下端，所述卡接条的两端均抵接卡接环的内壁。
[0011]进一步地，所述驱动结构包括螺栓和轴承，所述螺栓竖直且螺纹连接在滑轨的上端，所述螺栓的下端通过轴承连接滑柱。
[0012]进一步地，还包括水平二维移动机构，所述水平二维移动机构设置在机架上，所述旋转台通过水平二维移动机构设置在机架上。
[0013]本技术的有益效果在于：本技术提供的LED芯片的推力测试装置中，工作人员操作驱动结构可以使滑柱在滑轨中竖直移动；因为卡接环的内壁倾斜，故而越向下移动滑柱，使滑柱下端在卡接环上卡接越牢固。而向上移动滑柱后使旋转台可以在机架上旋转，工作人员将带有LED芯片的基板固定在旋转台后，调整旋转台的角度，因为多个LED芯片阵列，故在旋转台角度调整后，只需沿一个方向调整推刀和旋转台的相对位置，就可以更正
确的使推刀经过某一行或某一列的LED芯片的上方，这使推刀能抵接在LED芯片上的正确位置。
附图说明
[0014]图1为本技术具体实施方式的一种LED芯片的推力测试装置的整体结构示意图；
[0015]标号说明：
[0016]1、机架；2、旋转台；3、卡接环；4、滑轨；5、推刀；6、挡板；7、卡接条；8、螺栓；9、水平二维移动机构。
具体实施方式
[0017]为详细说明本技术的
技术实现思路
、所实现目的及效果，以下结合实施方式并配合附图予以说明。
[0018]请参照图1，一种LED芯片的推力测试装置，包括机架1、旋转台2、卡接环3、滑轨4、滑柱、驱动结构和推刀5；
[0019]所述旋转台2设置在机架1上，所述卡接环3与旋转台2同轴且设置在旋转台2的侧方并固定在机架上；所述滑轨4竖直且连接在旋转台2的侧壁上，所述滑柱滑动连接滑轨4，所述驱动结构连接滑柱，所述卡接环3内壁倾斜，所述滑柱下端抵接卡接环3内壁；
[0020]所述推刀5架设在机架1上。
[0021]由上描述可知，本技术的有益效果在于：本技术提供的LED芯片的推力测试装置中，工作人员操作驱动结构可以使滑柱在滑轨4中竖直移动；因为卡接环3的内壁倾斜，故而越向下移动滑柱，使滑柱下端在卡接环3上卡接越牢固。而向上移动滑柱后使旋转台2可以在机架1上旋转，工作人员将带有LED芯片的基板固定在旋转台2后，调整旋转台2的角度，因为多个LED芯片阵列，故在旋转台2角度调整后，只需沿一个方向调整推刀5和旋转台2的相对位置，就可以更正确的使推刀5经过某一行或某一列的LED芯片的上方，这使推刀5能抵接在LED芯片上的正确位置。
[0022]所述卡接环最底面的横截面的内圈直径小于滑柱下端移动轨迹的直径。
[0023]进一步地，还包括移动轨，所述移动轨架设在机架1上且旋转台2上方，所述移动轨水平，所述推刀5通过滑动连接移动轨而架设在机架1上。
[0024]由上描述可知，所述移动轨提供一种简单高效的推刀5水平移动的结构。
[0025]进一步地，还包括挡板6，所述挡板6竖直设置在推刀5的侧壁上，并与推刀5间隔设置。
[0026]由上描述可知，所述挡板6避免LED芯片受高压后破碎飞溅而伤害工作人员。
[0027]进一步地，还包括卡接条7，所述滑柱通过卡接条7抵接卡接环3，所述卡接条7水平设置，所述卡接条7的中部连接于滑柱的下端，所述卡接条7的两端均抵接卡接环3的内壁。
[0028]由上描述可知，所述卡接条7的设置，使旋转台2可以在两个点位上卡接卡接环3，这使旋转台2的固定更加牢固。
[0029]进一步地，所述驱动结构包括螺栓8和轴承，所述螺栓8竖直且螺纹连接在滑轨4的上端，所述螺栓8的下端通过轴承连接滑柱。
[0030]由上描述可知，所述轴承使螺栓8可相对滑柱自转，工作人员通过旋转螺栓8而驱动滑柱竖直移动。
[0031]进一步地，还包括水平二维移动机构9，所述水平二维移动机构9设置在机架1上，所述旋转台2通过水平二维移动机构9设置在机架1上。
[0032]由上描述可知，水平二维移动机构9提供一种简单高效的旋转台2可以在水平方向上相对推刀5移动的结构。
[0033]本技术提供的LED芯片的推力测试装置的应用背景为：当LED芯片需要进行推力测试时。
[0034]实施例一
[0035]请参照图1，一种LED芯片的推力测试装置，包括机架1、旋转台2、卡接环3、滑轨4、滑柱、驱动结构和推刀5；
[0036]所述旋转台2设置在机架1上，所述卡接环3与旋转台2同轴且设置在旋转台2的侧方并固定在机架上；所述滑轨4竖直且连接在旋转台2的侧壁上，所述滑柱滑动连接滑轨4，所述驱动结构连接滑柱，所述卡接环3内壁倾斜，所述滑柱下端抵接卡接环3内壁；
[0037]所述推刀5架设在机架1上。
[0038]所述LED芯片的推力测试装置还包括挡板6、卡接条7和水平二维移动机构9，所述挡板6竖直设置在推刀5的侧壁上，并与推刀5间隔设置。
[0039]所述滑柱通过卡接条7抵接卡本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种LED芯片的推力测试装置，其特征在于，包括机架、旋转台、卡接环、滑轨、滑柱、驱动结构和推刀；所述旋转台设置在机架上，所述卡接环与旋转台同轴且设置在旋转台的侧方并固定在机架上；所述滑轨竖直且连接在旋转台的侧壁上，所述滑柱滑动连接滑轨，所述驱动结构连接滑柱，所述卡接环内壁倾斜，所述滑柱下端抵接卡接环内壁；所述推刀架设在机架上。2.根据权利要求1所述LED芯片的推力测试装置，其特征在于，还包括移动轨，所述移动轨架设在机架上且旋转台上方，所述移动轨水平，所述推刀通过滑动连接移动轨而架设在机架上。3.根据权利要求1所述LED芯片的推力测试装置，其特征在于，还包括挡板，所...
【专利技术属性】
技术研发人员：黄章挺，郑高林，沈铃琳，施恩力，
申请(专利权)人：福建兆元光电有限公司，
类型：新型
国别省市：
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