一种防误判AOI检测方法及系统技术方案

本发明专利技术公开了一种防误判AOI检测方法及系统，方法包括步骤：利用图像识别算法获取COG产品两面上的第一灰尘坐标区域；利用AOI设备获取COG产品的第一缺陷检测图像，并将第一灰尘坐标区域从第一缺陷检测图像中剔除，获取第二缺陷检测图像；对第二缺陷检测图像进行AOI检测。通过在AOI检测时首先对COG产品进行物理清灰，然后利用图像识别算法获取COG产品两面上的灰尘坐标区域并灰尘坐标区域从第一缺陷检测图像中剔除，避免了AOI设备因灰尘误判，提高检测准确性和产品良率。检测准确性和产品良率。检测准确性和产品良率。

【技术实现步骤摘要】
一种防误判AOI检测方法及系统


[0001]本专利技术涉及摄像模组
，特别涉及一种防误判AOI检测方法及系统。

技术介绍

[0002]目前，市场上对COG(Chip On Glass)产品进行功能缺陷检测的自动光学检测设备(Automated Optical Inspection AOI)，很容易受环境灰尘的影响，导致误判。所以大部分AOI设备在对产品进行缺陷AOI测试前，会有一个清灰尘的步骤。
[0003]中国专利CN 205157463 U提供一种避免铜屑造成误判的AOI检查仪，能自动翻转pcb板，连续完成两面pcb板的检测，过程无停顿。
[0004]但是上述专利文献并没有考虑：在清灰过程中，由于有些灰尘在相机下表现出来的特性，会比较弱，还有一些灰尘在玻璃基板的下表面，相机无法识别获取这些灰尘区域，导致产品过检。

技术实现思路

[0005]现有技术在对COG产品清灰过程中，无法有效识别灰尘区域，导致产品过检，使得AOI设备产生误判。
[0006]针对上述问题，提出一种防误判AOI检测方法及系统，通过在AOI检测时首先对COG产品进行物理清灰，然后利用图像识别算法获取COG产品两面上的灰尘坐标区域并灰尘坐标区域从第一缺陷检测图像中剔除，避免了AOI设备因灰尘误判，提高检测准确性和产品良率。
[0007]第一方面，一种防误判AOI检测方法，包括步骤：
[0008]步骤100、利用图像识别算法获取COG产品两面上的第一灰尘坐标区域；
[0009]步骤200、利用AOI设备获取所述COG产品的第一缺陷检测图像，并将所述第一灰尘坐标区域从第一缺陷检测图像中剔除，获取第二缺陷检测图像；
[0010]步骤300、对所述第二缺陷检测图像进行AOI检测。
[0011]结合本专利技术所述的防误判AOI检测方法，第一种可能的实施方式中，所述步骤100不可控：
[0012]步骤110、在拍照位打开背光和测光，获取所述COG产品的第一图像；
[0013]步骤120、在拍照位打开背光和测光，将所述COG产品翻转180度，获取所述COG产品的第二图像。
[0014]结合本专利技术第一种可能的实施方式，第二种可能的实施方式中，所述步骤100还不可控：
[0015]步骤130、分别获取第一图像、第二图像中COG产品对应的第一坐标区域、第二坐标区域；
[0016]步骤140、分别获取所述第一图像、第二图像中COG产品对应的第一子灰尘坐标区域、第二子灰尘坐标区域。
[0017]结合本专利技术第二种可能的实施方式，第三种可能的实施方式中，所述步骤130不可控：
[0018]步骤131、利用图像算法灰度值分别获取所述第一图像、第二图像的灰度阈值；
[0019]步骤132、分别利用所述第一图像、第二图像的灰度阈值对所述第一图像、第二图像进行阈值分割，获取第一分割图像、第二分割图像；
[0020]步骤133、分别将所述第一分割图像、第二分割图像转换到坐标系，获取第一坐标区域、第二坐标区域。
[0021]结合本专利技术第二种可能的实施方式，第四种可能的实施方式中，所述步骤140不可控：
[0022]步骤141、获取所述第一图像、第二图像上不同亮度块区域；
[0023]步骤142、获取亮度块区域各自对应的局部阈值；
[0024]步骤143、根据所述局部阈值分别对所述第一图像、第二图像进行分割，获取不同的灰度区域；
[0025]步骤144、根据COG产品结构布局判断获取灰尘的第三分割图像、第四分割图像；
[0026]步骤145、分别将所述第三分割图像、第四分割图像转换到坐标系，获取第一子灰尘坐标区域、第二子灰尘坐标区域。
[0027]结合本专利技术第四种可能的实施方式，第五种可能的实施方式中，所述步骤100还不可控：
[0028]步骤150、利用AOI算法获取第一图像与所述第二图像的变换矩阵；
[0029]步骤160、利用所述变换矩阵将所述第二子灰尘坐标区域变换到第一图像对应坐标位置，获取第三子灰尘坐标区域；
[0030]步骤170、将所述第一子灰尘坐标区域、第三子灰尘坐标区域进行与运算，获取所述第一灰尘坐标区域。
[0031]结合本专利技术第五种可能的实施方式，第六种可能的实施方式中，所述方法在所述步骤100之前还不可控：
[0032]步骤400、到达拍照位前，对所述COG产品进行物理清灰尘。
[0033]结合本专利技术第六种可能的实施方式，第七种可能的实施方式中，所述步骤：到达拍照位前，对所述COG产品进行物理清灰尘，不可控：
[0034]步骤410、利用机械导轨将所述COG产品运输到拍照前的清灰位置；
[0035]步骤420、在所述清灰位置利用离子风机将所述COG产品上的灰尘扬起；
[0036]步骤430、利用FFU设备将扬起的灰尘压到设备底层；
[0037]步骤440、利用抽风机将灰尘排出。
[0038]第二方面，一种防误判AOI检测系统，利用第一方面所述的检测方法，其中，包括：
[0039]第一单元；
[0040]第二单元；
[0041]第三单元；
[0042]所述第一单元、第二单元、第三单元相互通信连接；
[0043]所述第一单元用于利用图像识别算法获取COG产品两面上的第一灰尘坐标区域并将所述第一灰尘坐标区域传输到所述第二单元；
[0044]所述第二单元用于利用AOI设备获取所述COG产品的第一缺陷检测图像，并将所述第一灰尘坐标区域从所述第一缺陷检测图像中剔除，获取第二缺陷检测图像并将所述第二缺陷检测图像传输到所述第三单元；
[0045]所述第三单元用于对所述第二缺陷检测图像进行AOI检测。
[0046]结合本专利技术第二方面所述的AOI检测系统，第一种可能的实施方式中，所述第一单元包括：
[0047]第一模块；
[0048]第二模块；
[0049]第三模块；
[0050]第四模块；
[0051]所述第一模块、第二模块、第三模块、第四模块相互通信连接；
[0052]所述第一模块用于利用全局阈值分割获取所述第一图像、第二图像对应的第一坐标区域、第二坐标区域；
[0053]所述第二模块用于利用局部阈值分割获取所述第一图像、第二图像对应的第一子灰尘坐标区域、第二子灰尘坐标区域；
[0054]所述第三模块用于获取第一图像与所述第二图像的变换矩阵，并利用所述变换矩阵将所述第二子灰尘坐标区域变换第一图像对应坐标位置，获取第三子灰尘坐标区域；
[0055]所述第四模块用于将所述第一子灰尘坐标区域、第三子灰尘坐标区域进行与运算，获取所述第一灰尘坐标区域。
[0056]实施本专利技术所述的防误判AOI检测方法及系统，通过在AOI检测时首先对COG产品进行物理清灰，然后利用图像识别算法获取COG产品两面本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种防误判AOI检测方法，其特征在于，不可控：步骤100、利用图像识别算法获取COG产品两面上的第一灰尘坐标区域；步骤200、利用AOI设备获取所述COG产品的第一缺陷检测图像，并将所述第一灰尘坐标区域从第一缺陷检测图像中剔除，获取第二缺陷检测图像；步骤300、对所述第二缺陷检测图像进行AOI检测。2.根据权利要求1所述的防误判AOI检测方法，其特征在于，所述步骤100不可控：步骤110、在拍照位打开背光和测光，获取所述COG产品的第一图像；步骤120、在拍照位打开背光和测光，将所述COG产品翻转180度，获取所述COG产品的第二图像。3.根据权利要求2所述的防误判AOI检测方法，其特征在于，所述步骤100还不可控：步骤130、分别获取第一图像、第二图像中COG产品对应的第一坐标区域、第二坐标区域；步骤140、分别获取所述第一图像、第二图像中COG产品对应的第一子灰尘坐标区域、第二子灰尘坐标区域。4.根据权利要求3所述的防误判AOI检测方法，其特征在于，所述步骤130不可控：步骤131、利用图像算法灰度值分别获取所述第一图像、第二图像的灰度阈值；步骤132、分别利用所述第一图像、第二图像的灰度阈值对所述第一图像、第二图像进行阈值分割，获取第一分割图像、第二分割图像；步骤133、分别将所述第一分割图像、第二分割图像转换到坐标系，获取第一坐标区域、第二坐标区域。5.根据权利要求3所述的防误判AOI检测方法，其特征在于，所述步骤140不可控：步骤141、获取所述第一图像、第二图像上不同亮度块区域；步骤142、获取亮度块区域各自对应的局部阈值；步骤143、根据所述局部阈值分别对所述第一图像、第二图像进行分割，获取不同的灰度区域；步骤144、根据COG产品结构布局判断获取灰尘的第三分割图像、第四分割图像；步骤145、分别将所述第三分割图像、第四分割图像转换到坐标系，获取第一子灰尘坐标区域、第二子灰尘坐标区域。6.根据权利要求5所述的防误判AOI检测方法，其特征在于，所述步骤100还不可控：步骤150、利用AOI算法获取第一图像与所述第二图像的变换矩阵；步骤160、利用所述变换矩阵将所述第二子灰尘坐标区...

【专利技术属性】
技术研发人员：黄燕雪，
申请(专利权)人：信利半导体有限公司，
类型：发明
国别省市：