硬度计底座制造技术

技术编号:38831721 阅读:12 留言:0更新日期:2023-09-17 09:51
本实用新型专利技术公开了一种硬度计底座,属于测量仪器技术领域,包括从上至下依次设置的磁力吸附台(1)、吸附台支撑柱(2)、滑轨台(3)和底座(10),在两个所述磁力吸附台(1)的中间位置从上至下依次设置有固定台(6)和调节台(7),所述调节台(7)设置在滑轨台(3)的所述滑槽中,在所述调节台(7)的左右两侧设置卡槽(8),并设置有调节扳钮(4);还设置有用于调整固定台(6)位置的螺旋测微器(11);本申请的底座采用了非一体的可组装式,各零件可以轻松拆卸,并且组装流程较为简单,可以携带至工作现场进行装配;可对固定台的位置进行精密调整,从而一次性实现对待测材料的不同位置的硬度的测量。对待测材料的不同位置的硬度的测量。对待测材料的不同位置的硬度的测量。

【技术实现步骤摘要】
硬度计底座


[0001]本技术涉及测量仪器
,尤其涉及一种硬度计底座。

技术介绍

[0002]硬度计是一种硬度测试仪器。现有的硬度计底座大多为固定式、一体式,且相对而言比较笨重,不便于携带。
[0003]另外,现有的硬度计底座,当待测材料放置于固定台上后,很难再对其位置进行调整,如若要对待测材料的不同位置进行测量,则需将材料取下重新固定,非常繁琐,影响测量效率。

技术实现思路

[0004]本技术的目的就在于提供一种硬度计底座,以解决上述问题。
[0005]为了实现上述目的,本技术采用的技术方案是这样的:一种硬度计底座,包括从上至下依次设置的磁力吸附台、吸附台支撑柱、滑轨台和底座,其中,所述磁力吸附台、吸附台支撑柱和底座均为两个并且左右对称设置,在两个所述磁力吸附台的中间位置从上至下依次设置有固定台和调节台,所述滑轨台上设置有滑槽,所述调节台设置在滑轨台的所述滑槽中,在所述调节台的左右两侧设置卡槽,并设置有用于调节卡槽宽度的调节扳钮;还设置有用于调整调节台位置的螺旋测微器。
[0006]作为优选的技术方案:所述底座的下端还设置有橡胶脚垫。橡胶脚垫的抓地性很强,可以防止硬度计底座在工作时发生滑动,以避免测量误差。
[0007]作为优选的技术方案:所述卡槽分为左右两部分,每部分分别采用一个调节扳钮进行调节。
[0008]作为优选的技术方案:所述卡槽与调节扳钮通过弹簧和轴柱进行连接。
[0009]与现有技术相比,本技术的优点在于:本申请的底座则采用了非一体的可组装式,各零件均可以轻松拆卸,并且组装流程较为简单,可以携带至工作现场进行装配;本申请可通过各零件的相互组合尤其是通过螺旋测微器对固定台的位置进行精密调整,从而一次性实现对待测材料的不同位置的硬度的测量。
附图说明
[0010]图1为本技术的立体图;
[0011]图2为图1的后视图;
[0012]图3为图1的俯视图;
[0013]图4为图1中卡槽与调节扳钮的连接结构图;
[0014]图5为图4的A

A剖视图。
[0015]图中:1、磁力吸附台;2、吸附台支撑柱;3、滑轨台;4、调节扳钮;5、橡胶脚垫;6、固定台;7、调节台;8、卡槽;9、底板;10、底座;11、螺旋测微器;12、支座;13、轴柱;14、立柱块;
15、弹簧;16、金属块。
实施方式
[0016]下面将结合附图对本技术作进一步说明。
实施例
[0017]参见图1至图5,一种硬度计底座,包括从上至下依次设置的磁力吸附台1、吸附台支撑柱2、滑轨台3和底座10,其中,所述磁力吸附台1、吸附台支撑柱2和底座10均为两个并且左右对称设置,在两个所述磁力吸附台1的中间位置从上至下依次设置有固定台6和调节台7,所述滑轨台3上设置有滑槽,所述调节台7设置在滑轨台3的所述滑槽中,在所述调节台7的左右两侧设置卡槽8,并设置有用于调节卡槽8宽度的调节扳钮4,卡槽8可以对调节台7起到固定的作用;所述卡槽8分为左右两部分,每部分分别采用一个调节扳钮4进行调节,所述卡槽8与调节扳钮4通过弹簧和轴柱进行连接,具体连接方式如图4所示,调节扳钮4与轴柱13连接,轴柱13再与立柱块14连接,立柱块14再与弹簧15相连接,弹簧15再与金属块16相连接,金属块16与卡槽8相连接,还设置有用于调整调节台7位置的螺旋测微器11,其连接方式为:螺旋测微器11通过支座12与滑轨台3相连接,螺旋测微器11的一端抵住调节台7的台面;
[0018]本实施例中,所述底座10的下端还设置有橡胶脚垫5;
[0019]工作流程:
[0020](1)取待测材料,置于固定台6的凹槽内,并通过调节扳钮4松开卡槽8,此时调节台7未被卡槽8固定;
[0021](2)将硬度计吸附在磁力吸附台1上;
[0022](3)通过螺旋测微器11调整调节台7的位置,锁定待测材料的特定部位后,并通过调节扳钮4夹紧卡槽8,此时调节台7被卡槽8固定;
[0023](4)开始硬度测量操作;
[0024](5)待测材料该部位的硬度测量完成后,松开卡槽8,通过螺旋测微器11调整调节台7的位置,重复测量步骤,以测量不同的待测材料部位。
[0025]以上所述仅为本技术的较佳实施例而已,并不用以限制本技术,凡在本技术的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等,均应包含在本技术的保护范围之内。
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种硬度计底座,其特征在于:包括从上至下依次设置的磁力吸附台(1)、吸附台支撑柱(2)、滑轨台(3)和底座(10),其中,所述磁力吸附台(1)、吸附台支撑柱(2)和底座(10)均为两个并且左右对称设置,在两个所述磁力吸附台(1)的中间位置从上至下依次设置有固定台(6)和调节台(7),所述滑轨台(3)上设置有滑槽,所述调节台(7)设置在滑轨台(3)的所述滑槽中,在所述调节台(7)的左右两侧设置卡槽(8),并设置有用...

【专利技术属性】
技术研发人员:刘波
申请(专利权)人:四川中芯晶创科技有限公司
类型:新型
国别省市:

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