【技术实现步骤摘要】
一种压力传感器及其制备方法
[0001]本专利技术涉及一种压力传感器及其制备方法,属于半导体技术与制造领域。
技术介绍
[0002]氮化镓压力传感器的基本原理是利用氮化镓材料的良好的压阻特性,当材料受到外力作用时,会产生电阻值的变化。该变化可以通过外部电路进行测量,并将其转化为压力值。
[0003]具体来说,当氮化镓材料受到压力作用时,会发生晶格畸变,导致电子在材料内部移动的困难程度发生改变,从而导致电阻值的变化。这种电阻值的变化与受到的压力成正比,可以通过外部电路进行测量。
[0004]氮化镓压力传感器可以实现高精度、高速度和长期稳定的压力测量,可以帮助企业及时发现设备或产品中的压力异常情况,避免产品质量问题和安全事故的发生,此外,氮化镓压力传感器具有高精度和高温稳定性等特点,可以减少检测成本和设备维护成本,提高企业的经济效益。
[0005]目前氮化镓压力传感器的灵敏元件通常使用氮化镓薄膜,其厚度通常在几微米到几十微米之间,其形状可以是膜片、梁或者柱状等。当受到外力作用时,氮化镓薄膜会发生微小的形变 ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种压力传感器,其特征在于,所述压力传感器由下往上依次包括:硅衬底、缓冲层、GaN层和AlGaN层,所述AlGaN层上有栅极、源极和漏极;所述硅衬底包括:基底,所述基底上从左往右依次设置第一支撑体、第二支撑体和第三支撑体;所述第二支撑体和第三支撑体的上表面与所述缓冲层下表面贴合,所述第二支撑体和第三支撑体之间形成空腔;所述第一支撑体的高度小于所述第二支撑体,与所述缓冲层之间有间隙。2.根据权利要求1所述的压力传感器,其特征在于,所述硅衬底的厚度为:350
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1000um。3.根据权利要求1所述的压力传感器,其特征在于,所述第一支撑体与所述缓冲层之间的间隙为:10
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130um。4.根据权利要求1所述的压力传感器,其特征在于,所述缓冲层的厚度为:2
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15um。5.根据权利要求1所述的压力传感器,其特征在于,所述GaN层的厚度为:1
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5um。6.根据权利要求1所述的压力传感器,其特征在于,所述AlGaN层的厚度为:10
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20nm。7.一种压力传感方法,其特征在于,所述方法基于权利要求1
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6任一项所述的压力传感器实现,包括:当在源极或者漏极地方施加压力时,所述压力传感器左侧出现弯曲形变,导致源极与漏极之间电流传感通道的电阻发生增加,从而导致电流下降...
【专利技术属性】
技术研发人员:段文哲,李杨,王霄,陈治伟,敖金平,
申请(专利权)人:江南大学,
类型:发明
国别省市:
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