极片涂布的边缘检测方法及装置制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种极片涂布的边缘检测方法及装置，该方法包括：对极片涂布进行扫描得到待处理图像；基于待处理图像中各个像素点的位置和灰度值，确定各个像素点的变化趋势；所述变化趋势为变白、变黑或不变；基于各个像素点的位置、灰度值和变化趋势，确定目标边缘像素点；将目标边缘像素点所在位置，作为所述极片涂布的边缘位置，这样，可实现对极片涂布的边缘位置检测，较为准确的确定极片涂布的边缘。缘。缘。

【技术实现步骤摘要】
极片涂布的边缘检测方法及装置


[0001]本申请涉及锂电领域，更具体地，涉及一种极片涂布的边缘检测方法及装置。

技术介绍

[0002]在锂电行业中，锂电池的极片涂布对电池的容量、内阻、循环寿命和安全性等产生影响，因此，对锂电池的极片涂布进行检测并调整，可较好的保证所得到的锂电池的性能。在此基础上，如何对锂电池极片涂布的边缘进行检测，是目前有待解决的技术问题。

技术实现思路

[0003]本申请实施例提供一种极片涂布的边缘检测方法及装置，用以检测锂电池的极片涂布的边缘。
[0004]第一方面，提供一种极片涂布的边缘检测方法，所述方法包括：对极片涂布进行扫描得到待处理图像；基于所述待处理图像中各个像素点的位置和灰度值，确定所述各个像素点的变化趋势；所述变化趋势为变白、变黑或不变；基于所述各个像素点的位置、灰度值和变化趋势，确定目标边缘像素点；将目标边缘像素点所在位置，作为所述极片涂布的边缘位置。
[0005]第二方面，提供一种极片涂布的边缘检测装置，所述装置包括：扫描模块，用于对极片涂布进行扫描得到待处理图像；变化趋势确定模块，用于基于所述待处理图像中各个像素点的位置和灰度值，确定所述各个像素点的变化趋势；所述变化趋势为变白、变黑或不变；目标边缘像素点确定模块，用于基于所述各个像素点的位置、灰度值和变化趋势，确定目标边缘像素点；边缘位置确定模块，用于将目标边缘像素点所在位置，作为所述极片涂布的边缘位置。
[0006]第三方面，提供一种电子设备，所述电子设备包括处理器、通信接口、存储器和通信总线，其中，处理器，通信接口，存储器通过通信总线完成相互间的通信；存储器，用于存放计算机程序；处理器，用于执行存储器上所存放的程序时，实现如第一方面所述的极片涂布的边缘检测方法的步骤。
[0007]第四方面，提供一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现如第一方面所述的极片涂布的边缘检测方法的步骤。
[0008]通过应用以上技术方案，基于对极片涂布进行扫描得到的待处理图像中各个像素点的位置、像素和灰度值等，先确定各个像素的变化趋势为变黑、变白还是不变，再在各个像素点的位置、灰度值的基础上，结合各个像素点的变化趋势，确定目标边缘像素点，最后，将目标边缘像素点所在位置，作为或者说确定为极片涂布的边缘位置，从而实现对极片涂
布的边缘位置检测，确定极片涂布的边缘。
附图说明
[0009]为了更清楚地说明本申请实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例，对于本领域技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0010]图1示出了本专利技术实施例提出的一种极片涂布的边缘检测方法的流程示意图；图2示出了本专利技术实施例中确定所有第二像素点的变化趋势的流程的示意图；图3示出了本专利技术实施例中确定初始边缘的结束像素点与起始像素点的流程的示意图；图4示出了本专利技术实施例中确定目标边缘像素点的流程的示意图；图5示出了本专利技术实施例提出的一种极片涂布的边缘检测装置的示意图；图6示出了本专利技术实施例提出的一种电子设备的结构示意图。
具体实施方式
[0011]下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本申请一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围。
[0012]为了实现对极片涂布的边缘位置的检测，本申请实施例提供一种极片涂布的边缘检测方法，应用于任一设备中。如图1所示，该方法包括步骤S101
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S104：步骤S101，对极片涂布进行扫描得到待处理图像。
[0013]可选地，使用线扫相机（或者说线阵相机），对极片涂布进行扫描得到待处理图像。
[0014]在一种可能的实现方式中，使用线扫相机，对实际的极片涂布区域进行扫描，得到待处理图像。
[0015]或者，在另一种可能的实现方式中，使用线扫相机，对预先拍摄得到的极片涂布的图像进行扫描，得到待处理图像。
[0016]其中，使用线阵相机扫描得到的待处理图像的宽度很小，例如几个像素，但该待处理图像的长度很长，例如几千个像素。
[0017]示例性地，待处理图像的宽度为1个像素，长度为1500个像素。
[0018]需要说明的是，关于线扫相机、线扫相机的扫描方式以及通过线扫相机扫描得到的图像等的具体介绍，可以参照现有技术，在此不进行赘述。
[0019]步骤S102，基于待处理图像中各个像素点的位置和灰度值，确定各个像素点的变化趋势。
[0020]其中，变化趋势为变白、变黑或者不变。
[0021]可选地，基于预设距离和待处理图像中各个像素点的位置，将待处理图像中的像素点划分为第一像素点、第二像素点和第三像素点，随后，对这三种像素点分别进行处理，确定这三种像素点的变化趋势。
[0022]其中，对于第一像素点，将第一像素点的变化趋势设置为变白。
[0023]对于第二像素点，基于预设距离、各个像素点的位置和各个像素点的灰度值，计算确定第二像素点的变化趋势。
[0024]对于第三像素点，将第三像素点的变化趋势设置为变黑。
[0025]需要说明的是，预设距离与待处理图像中的各个像素点的位置有关，可以理解为预设的位置数。
[0026]在一种可能的实现方式中，在划分第一像素点、第二像素点和第三像素点时，基于预设距离和各个像素点的位置，将待处理图像中第一个像素点和第预设距离个像素点，划分为第一像素点，将待处理图像中位于第预设距离个像素点之后，且位于倒数第预设距离个像素点之前的像素点，划分为第二像素点，将待处理图像中最后预设距离个的像素点，划分为第三像素点。
[0027]示例性地，预设距离或者说预设的位置数为x，对于待处理图像中的n个像素点，将第1个到第x个像素点或者说将前x个像素点，划分为第一像素点，将第x+1到第n
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x个像素点，划分为第二像素点，将第n
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x+1个图像到第n个像素点或者说将最后x个像素点，划分为第三像素点。
[0028]也就是说，将待处理图像中位于首尾位置处的像素点的变化趋势设置为预设的变化趋势。例如，将待处理图像中开始至少一个位置处的像素点对应的预设的变化趋势为变白，即将开始至少一个位置处的像素点的变化趋势直接设置为变白，将待处理图像中结束至少一个位置处的像素点对应的预设的变化趋势为变黑，即将结束至少一个位置处的像素点的变化趋势直接设置为变黑。
[0029]示例性地，以预设距离为x为例，将待处理图像中位于最前x个的像素点的变化趋势设置为变白，将待处理图像中位于最后x个的像素点的变化趋势设置为变黑，这样，可以较好的避免待处理图像中最前和最后x位由于位置限制，不能使用本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种极片涂布的边缘检测方法，其特征在于，对极片涂布进行扫描得到待处理图像；基于所述待处理图像中各个像素点的位置和灰度值，确定所述各个像素点的变化趋势；所述变化趋势为变白、变黑或不变；基于所述各个像素点的位置、灰度值和变化趋势，确定目标边缘像素点；将目标边缘像素点所在位置，作为所述极片涂布的边缘位置。2.如权利要求1所述的极片涂布的边缘检测方法，其特征在于，所述基于所述待处理图像中各个像素点的位置和灰度值，确定所述各个像素点的变化趋势，包括：基于预设距离和各个像素点的位置，将所述待处理图像中的像素点划分为第一像素点、第二像素点和第三像素点；将所述第一像素点的变化趋势设置为变白；基于所述预设距离、所述各个像素点的位置和所述各个像素点的灰度值，计算确定所述第二像素点的变化趋势；将所述第三像素点的变化趋势设置为变黑。3.如权利要求2所述的极片涂布的边缘检测方法，其特征在于，所述基于所述预设距离、所述各个像素点的位置和所述各个像素点的灰度值，计算确定所述第二像素点的变化趋势，包括：将与所述第二像素点的距离为所述预设距离的像素点，确定为所述第二像素点的关联像素点；基于所述第二像素点的关联像素点的灰度值的大小，以及所述关联像素点的灰度值之间的灰度差值，确定所述第二像素点的变化趋势。4.如权利要求3所述的极片涂布的边缘检测方法，其特征在于，所述第二像素点的关联像素点包括第一关联像素点与第二关联像素点；所述第一关联像素点位于所述第二像素点之前，所述第二关联像素点位于所述第二像素点之后；所述基于所述第二像素点的关联像素点的灰度值的大小，以及所述关联像素点的灰度值之间的灰度差值，确定所述第二像素点的变化趋势，包括：若第一关联像素点的灰度值小于第二关联像素点的灰度值，且所述灰度差值大于第一预设差值阈值，则确定所述第二像素点的变化趋势为变白；若第一关联像素点的灰度值小于第二关联像素点的灰度值，且所述灰度差值小于或等于第一预设差值阈值，则确定所述第二像素点的变化趋势为不变；若第一关联像素点的灰度值大于或等于第二关联像素点的灰度值，且所述灰度差值大于第二预设差值阈值，则确定所述第二像素点的变化趋势为变黑；若第一关联像素点的灰度值大于或等于第二关联像素点的灰度值，且所述灰度差值小于或等于第二预设差值阈值，则确定所述第二像素点的变化趋势为不变。5.如权利要求1所述的极片涂布的边缘检测方法，其特征在于，所述基于所述各个像素点的位置、灰度值和变化趋势，确定目标边缘像素点，包括：基于所述各个像素点的位置以及相邻像素点的变化趋势是否相同，确定初始边缘的起始像素点和所述初始边缘的结束像素点；
基于所述初始边缘的结束像素点的变化趋势和灰度值，以及所述初始边缘的起始像素点的灰度值，计算确定所述初始边缘的变化特征；基于所述初始边缘的变化特征，确定目标边缘像素点。6.如权...

【专利技术属性】
技术研发人员：杨牧，郝宏基，庞国迎，方亮，郝瀚，
申请(专利权)人：钛玛科北京工业科技有限公司，
类型：发明
国别省市：