测试装置和测试设备制造方法及图纸

本申请公开了一种测试装置和测试设备，所述测试装置，用于测试NM储存卡大板，所述NM储存卡大板上设置有多个未切割的NM储存卡所述测试装置包括：测试承载板、测试座和测试板；所述测试承载板上设置有NM放置区和两个测试连接区，两个所述测试连接区分别设置在所述测试承载板的正反两面；所述NM储存卡大板设置在所述NM放置区，且与测试板的内部电路连通；所述测试座分别设置在所述测试连接区，所述测试座用于连接所述测试板，所述测试板用于检测NM储存卡大板并输出数据。通过双面设置测试座的方式减少测试承载板的走线长度的方式，避免信号传输不稳定。传输不稳定。传输不稳定。

【技术实现步骤摘要】
测试装置和测试设备


[0001]本申请涉及芯片
，尤其涉及一种测试装置和测试设备。

技术介绍

[0002]储存卡一般是用于手机、数码相机、便携式电脑、MP3和其它数码产品上的独立存储介质，一般是卡片的形态。NM存储卡(Nano Memory Card，简称NM卡)是华为自创的一种超微型存储卡，与Micro SD存储卡相比，体积减小45％，和Nano SIM卡的规格几乎完全相同。华为NM存储卡的顺序读取速率可达90MB/s，顺序写入速率达70MB/s。需要使用手机中的一个Nano SIM卡槽，实现手机存储的扩展，增大手机存储容量。
[0003]储存卡在晶圆在封装过程中，进行打线(wire bonding)后需要对其进行一个检测，检测是否在使用时存在接触不良的情况，整个检测过程利用检测装置实现；但是目前的检测设备在检测时，由于插装NM卡的测试承载板中布线空间限制，导致布线过长，信号传输不稳定，导致有可能出现检测失误的情况。

技术实现思路

[0004]本申请的目的是提供一种测试装置和测试设备，通过双面设置测试座的方式减少测试承载板的走线长度的方式，避免信号传输不稳定。
[0005]本申请公开了一种测试装置，用于测试NM储存卡大板，所述NM储存卡大板上设置有多个未切割的NM储存卡所述测试装置包括：测试承载板、测试座和测试板；所述测试承载板上设置有NM放置区和两个测试连接区，两个所述测试连接区分别设置在所述测试承载板的正反两面；所述NM储存卡大板设置在所述NM放置区，且与测试板的内部电路连通；所述测试座分别设置在所述测试连接区，所述测试座用于连接所述测试板，所述测试板用于检测NM储存卡大板并输出数据。
[0006]可选的，所述测试连接区设置有多个贴片，所述测试座采用贴片封装的方式固定在所述测试承载板上。
[0007]可选的，两个所述测试连接区分别为正面测试连接区和反面测试连接区，所述正面测试连接区设置在所述测试承载板的正面，所述反面测试连接区设置在所述测试承载板的反面；设置在所述正面测试连接区的测试座为正面测试座，设置在所述反面测试连接区的测试座为反面测试座；在所述测试承载板的投影上，多个所述正面测试座与多个所述反面测试座交错设置。
[0008]可选的，所述测试承载板上还设置有多个定位孔，多个所述定位孔围绕所述NM放置区设置；所述NM储存卡大板上设置有多个通孔，多个定位孔与多个所述通孔一一对应设置。
[0009]可选的，所述测试装置还包括多条排线，所述测试座上设置有排线接口，多条排线分别连接至多个所述测试座的排线接口上，多条排线的另一端连接至所述测试板上。
[0010]可选的，所述测试座上设置有插针接口，所述测试板上设置有插针，所述测试板的
插针直接插入所述插针接口。
[0011]可选的，所述NM放置区设置有多个NM贴片接口，分别与NM储存卡大板上的多个NM储存卡的引脚对应设置。
[0012]可选的，所述测试装置还包括NM放置座，所述NM储存卡大板设置在所述NM放置座上，并与测试座，所述测试NM放置座的内部设置有多个顶针，所述顶针穿过所述NM放置座，多个所述顶针的一端与所述NM放置区中的多个NM贴片接口一一对应连接，多个所述顶针的一端与NM储存卡大板上的多个NM储存卡的引脚一一对应连接，所述NM储存卡大板固定在所述NM放置座上。
[0013]可选的，所述测试承载板内部设置有走线，所述走线连接于所述NM放置区和所述测试连接区。
[0014]本申请还公开了一种测试设备，其特征在于，包括上的测试装置。
[0015]本申请通过重新设计测试承载板上的电路布局，主要将测试座设置在测试承载板的两面，分别通过测试座连接到不同的测试板。而且通过将测试座两面设计后，各测试座与NM放置区之间的距离较为接近，且由于不需要在全部正面排布，节省了正面的布局空间，更缩短了测试座与NM放置区之间的走线距离，使得走线更短，更有利于信号传输，且信号传输更为稳定；也可以降低测试装置的功耗等。从另一方面来说，可减少测试承载板大小。需要理解的是，本申请针对的NM储存卡大板指的是还未切割成单个储存卡的大板。因而在测试过程中，需要对大板中的每一单个的储存卡进行测试，对于线路布局更为复杂，所需稳定性更高。
附图说明
[0016]所包括的附图用来提供对本申请实施例的进一步的理解，其构成了说明书的一部分，用于例示本申请的实施方式，并与文字描述一起来阐释本申请的原理。显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。在附图中：
[0017]图1是本申请测试装置的示意图；
[0018]图2是本申请的测试承载板的正面示意图；
[0019]图3是本申请的测试承载板的反面示意图。
[0020]图中示出：1、测试装置；2、NM储存卡大板；10、测试承载板；11、定位孔；20、测试连接区；21、贴片；30、测试座；31、正面测试座；32、背面测试座；40、NM放置区；41、NM贴片接口；50、NM放置座；51、顶针。
具体实施方式
[0021]需要理解的是，这里所使用的术语、公开的具体结构和功能细节，仅仅是为了描述具体实施例，是代表性的，但是本申请可以通过许多替换形式来具体实现，不应被解释成仅受限于这里所阐述的实施例。
[0022]在本申请的描述中，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示相对重要性，或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，除非另有说明，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个该特征；“多个”的含义是两个或两个
以上。术语“包括”及其任何变形，意为不排他的包含，可能存在或添加一个或更多其他特征、整数、步骤、操作、单元、组件和/或其组合。对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语在本申请中的具体含义。
[0023]下面参考附图和可选的实施例对本申请作详细说明。
[0024]参见图1
‑
3所示，图1是本申请测试装置的示意图，图2是本申请的测试承载板的正面示意图，图3是本申请的测试承载板的反面示意图，本申请公开了一种测试装置1，用于测试NM储存卡大板2，所述NM储存卡大板2上设置有多个未切割的NM储存卡所述测试装置1包括：测试承载板10、测试座30和测试板；所述测试承载板10上设置有NM放置区40和两个测试连接区20，两个所述测试连接区20分别设置在所述测试承载板10的正反两面；所述NM储存卡大板2设置在所述NM放置区40，且与测试板的内部电路连通；所述测试座30分别设置在所述测试连接区20，所述测试座30用于连接所述测试板，所述测试板用于检测NM储存卡大板2并输出数据。
[0025]本申请通过重新设计测试承载板10上的电路布局，主要将测试座30设置在测试承载板10的两面，分别通过测试座30连接到不同的测试板。而且本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种测试装置，用于测试NM储存卡大板，所述NM储存卡大板上设置有多个未切割的NM储存卡，其特征在于，所述测试装置包括：测试承载板、测试座和测试板；所述测试承载板上设置有NM放置区和两个测试连接区，两个所述测试连接区分别设置在所述测试承载板的正反两面；所述NM储存卡大板设置在所述NM放置区，且与测试板的内部电路连通；所述测试座分别设置在所述测试连接区，所述测试座用于连接所述测试板，所述测试板用于检测NM储存卡大板并输出数据。2.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于，所述测试连接区设置有多个贴片，所述测试座采用贴片封装的方式固定在所述测试承载板上。3.根据权利要求2所述的测试装置，其特征在于，两个所述测试连接区分别为正面测试连接区和反面测试连接区，所述正面测试连接区设置在所述测试承载板的正面，所述反面测试连接区设置在所述测试承载板的反面；设置在所述正面测试连接区的测试座为正面测试座，设置在所述反面测试连接区的测试座为反面测试座；在所述测试承载板的投影上，多个所述正面测试座与多个所述反面测试座交错设置。4.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于，所述测试承载板上还设置有多个定位孔，多个所述定位孔围绕所述NM放置区设置；所述NM储存卡大板上设置有多个通孔，多个定位孔与多个所述通...

【专利技术属性】
技术研发人员：陈昌雄，顾红伟，胡晓辉，薛玉妮，
申请(专利权)人：深圳市时创意电子有限公司，
类型：新型
国别省市：