一种用于反激式变压器屏蔽层的屏蔽效果检测方法技术

本发明专利技术涉及反激式变压器屏蔽检测领域，尤其涉及一种用于反激式变压器屏蔽层的屏蔽效果检测方法，包括：在反激式变压器设置双重屏蔽绕组；获取所述双重屏蔽绕组对应实时监测数据；根据所述实时监测数据得到屏蔽效果检测结果，用于反激式变压器的屏蔽快速监测，直观有效的评估反激变压器屏蔽绕组的屏蔽效果。并满足EMI实验要求，降低研发成本和测试成本。降低研发成本和测试成本。降低研发成本和测试成本。

【技术实现步骤摘要】
一种用于反激式变压器屏蔽层的屏蔽效果检测方法


[0001]本专利技术涉及反激式变压器屏蔽检测领域，具体涉及一种用于反激式变压器屏蔽层的屏蔽效果检测方法。

技术介绍

[0002]反激式开关电源的应用增加，并且很多的产品都有严苛的EMI要求。现有的反激式开关电源都会加共模及差模滤波结构，来满足EMI实验。变压器是整个开关电源方案的主要噪声源。设计过程中变压器里面会通过增加屏蔽层的方式来改善噪声，以达到最好的设计效果，从源头降低噪声，减少滤波器，降低生产成本。但是设计过程中往往只能通过专用的EMI测试设备来测试评估方案设计是否合理，能不能满足EMI要求。不满足要求还要重复修改在测试评估这整个步骤。拉长了研发周期和研发成本。本专利技术提供了一种反激式变压器的屏蔽层绕制方案，并且同时提供了一种简单易行，能够直观量化的评估变压器内部所加屏蔽层屏蔽效果的检测方式，来评估变压器屏蔽层是否已经是最优方案。

技术实现思路

[0003]针对现有技术的不足，本专利技术提供了一种用于反激式变压器屏蔽层的屏蔽效果检测方法，通过设置反激式变压器绕制屏蔽层并进行屏蔽效果简易检测，有效直观评估屏蔽结果。
[0004]为实现上述目的，本专利技术提供了一种用于反激式变压器屏蔽层的屏蔽效果检测方法，包括：S1、在反激式变压器设置双重屏蔽绕组；S2、获取所述双重屏蔽绕组对应实时监测数据；S3、根据所述实时监测数据得到屏蔽效果检测结果。
[0005]优选的，所述在反激式变压器设置双重屏蔽绕组包括：S1
‑
1、在反激式变压器的磁芯与初级绕组间设置第一屏蔽绕组作为磁芯屏蔽绕组；S1
‑
2、在反激式变压器的初级绕组与次级绕组间设置第二屏蔽绕组作为输出屏蔽绕组；S1
‑
3、利用所述磁芯屏蔽绕组与输出屏蔽绕组作为双重屏蔽绕组；其中，所述输出屏蔽绕组的起绕点悬空，输出屏蔽绕组的终绕点与初级绕组的接地端连接，所述输出屏蔽绕组的圈数比相邻次级绕组的圈数低。
[0006]进一步的，获取所述双重屏蔽绕组对应实时监测数据包括：利用第一示波器采集所述双重屏蔽绕组对应反激式变压器的磁芯波形作为磁芯屏蔽绕组对应波形；利用第二示波器采集次级绕组的地上噪声波形作为输出屏蔽绕组对应波形；利用所述磁芯屏蔽绕组对应波形与输出屏蔽绕组对应波形作为双重屏蔽绕组对
应实时监测数据；其中，所述第一示波器为交流测量模式，所述第一示波器的输出负载为纯电阻，所述第一示波器的电源无Y电容。
[0007]进一步的，根据所述实时监测数据得到屏蔽效果检测结果包括：S3
‑
1、根据所述实时监测数据的磁芯屏蔽绕组对应波形得到第一屏蔽效果检测结果；S3
‑
2、根据所述实时监测数据的输出屏蔽绕组对应波形得到第二屏蔽效果检测结果；S3
‑
3、利用所述第一屏蔽效果检测结果与第二屏蔽效果检测结果进行波形复验处理得到屏蔽效果检测结果。
[0008]进一步的，根据所述实时监测数据的磁芯屏蔽绕组对应波形得到第一屏蔽效果检测结果包括：当实时监测数据的磁芯屏蔽绕组对应波形小于300mV时，判断所述实时监测数据的磁芯屏蔽绕组对应波形与开关电源芯片的两端电压波形是否方向一致，若是，则所述第一屏蔽效果检测结果为欠补偿，否则，所述第一屏蔽效果检测结果为过补偿。
[0009]进一步的，根据所述实时监测数据的输出屏蔽绕组对应波形得到第二屏蔽效果检测结果包括：判断所述实时监测数据的输出屏蔽绕组对应波形与开关电源芯片的两端电压波形是否相同，若是，则所述第二屏蔽效果检测结果为欠补偿，否则，所述第二屏蔽效果检测结果为过补偿。
[0010]进一步的，利用所述第一屏蔽效果检测结果与第二屏蔽效果检测结果进行波形复验处理得到屏蔽效果检测结果包括：S3
‑3‑
1、利用所述双重屏蔽绕组的基础属性进行物理属性复验得到双重屏蔽绕组的物理属性复验结果；S3
‑3‑
2、根据所述物理属性复验结果获取第一屏蔽效果检测结果与第二屏蔽效果检测结果的数据合理性结果；S3
‑3‑
3、根据所述数据合理性结果得到屏蔽效果检测结果；其中，所述基础属性为双重屏蔽绕组对应初级绕组与次级绕组。
[0011]进一步的，利用所述双重屏蔽绕组的基础属性进行物理属性复验得到双重屏蔽绕组的物理属性复验结果包括：S3
‑3‑1‑
1、判断所述双重屏蔽绕组对应初级绕组至次级绕组间是否存在第一电容耦合，若是，则所述物理属性复验结果为异常，并返回S1
‑
1，否则，执行S3
‑3‑1‑
2；S3
‑3‑1‑
2、判断所述双重屏蔽绕组对应次级绕组至初级绕组间是否存在第二电容耦合，若是，则所述物理属性复验结果为异常，并返回S1
‑
2，否则，执行S3
‑3‑1‑
3；S3
‑3‑1‑
3、判断所述双重屏蔽绕组的对地耦合感应电动势波形是否正常，若是，则所述物理属性复验结果为正常，否则，所述物理属性复验结果为异常；其中，所述第一电容耦合为初级绕组的开关噪声耦合到次级绕组，第二电容耦合为次级绕组开关噪声耦合到初级绕组。
[0012]进一步的，根据所述物理属性复验结果获取第一屏蔽效果检测结果与第二屏蔽效
果检测结果的数据合理性结果包括：S3
‑3‑2‑
1、判断所述物理属性复验结果是否存在循环处理，若是，则执行S3
‑3‑2‑
2，否则，直接执行S3
‑3‑2‑
3；S3
‑3‑2‑
2、判断所述第一屏蔽效果检测结果对应波形与第二屏蔽效果检测结果对应波形是否与所述实时监测数据对应DS两端电压波形均为对应，若是，则执行S3
‑3‑2‑
3，否则，所述数据合理性结果为异常，进行旁路滤波清除后返回S3
‑
1；S3
‑3‑2‑
3、判断所述第一屏蔽效果检测结果对应波形与第二屏蔽效果检测结果对应波形是否相互对应，若是，则所述数据合理性结果为正常，否则，所述数据合理性结果为异常；其中，所述循环处理为双重屏蔽绕组对应初级绕组至次级绕组间存在第一电容耦合或双重屏蔽绕组对应次级绕组至初级绕组间存在第二电容耦合。
[0013]进一步的，根据所述数据合理性结果得到屏蔽效果检测结果包括：S3
‑3‑3‑
1、判断所述数据合理性结果是否为正常，若是，则直接输出第一屏蔽效果检测结果与第二屏蔽效果检测作为屏蔽效果检测结果，否则，执行S3
‑3‑3‑
2；S3
‑3‑3‑
2、判断所述数据合理性结果是否存在循环处理，若是，则所述屏蔽效果检测结果为异常，并输出对应循环处理初级绕组与次级绕组，否则，直接输出屏蔽效果检测结果为异常。
[0014]与最接近的现有技术相比，本专利技术具有的有益效果：本专利技术提供了一种用于反激式变压器屏蔽层的屏蔽效果检测方法，通过提出的反激式变压器屏蔽本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种用于反激式变压器屏蔽层的屏蔽效果检测方法，其特征在于，包括：S1、在反激式变压器设置双重屏蔽绕组；S2、获取所述双重屏蔽绕组对应实时监测数据；S3、根据所述实时监测数据得到屏蔽效果检测结果。2.如权利要求1所述的一种用于反激式变压器屏蔽层的屏蔽效果检测方法，其特征在于，所述在反激式变压器设置双重屏蔽绕组包括：S1
‑
1、在反激式变压器的磁芯与初级绕组间设置第一屏蔽绕组作为磁芯屏蔽绕组；S1
‑
2、在反激式变压器的初级绕组与次级绕组间设置第二屏蔽绕组作为输出屏蔽绕组；S1
‑
3、利用所述磁芯屏蔽绕组与输出屏蔽绕组作为双重屏蔽绕组；其中，所述输出屏蔽绕组的起绕点悬空，输出屏蔽绕组的终绕点与初级绕组的接地端连接，所述输出屏蔽绕组的圈数比相邻次级绕组的圈数低。3.如权利要求2所述的一种用于反激式变压器屏蔽层的屏蔽效果检测方法，其特征在于，获取所述双重屏蔽绕组对应实时监测数据包括：利用第一示波器采集所述双重屏蔽绕组对应反激式变压器的磁芯波形作为磁芯屏蔽绕组对应波形；利用第二示波器采集次级绕组的地上噪声波形作为输出屏蔽绕组对应波形；利用所述磁芯屏蔽绕组对应波形与输出屏蔽绕组对应波形作为双重屏蔽绕组对应实时监测数据；其中，所述第一示波器为交流测量模式，所述第一示波器的输出负载为纯电阻，所述第一示波器的电源无Y电容。4.如权利要求3所述的一种用于反激式变压器屏蔽层的屏蔽效果检测方法，其特征在于，根据所述实时监测数据得到屏蔽效果检测结果包括：S3
‑
1、根据所述实时监测数据的磁芯屏蔽绕组对应波形得到第一屏蔽效果检测结果；S3
‑
2、根据所述实时监测数据的输出屏蔽绕组对应波形得到第二屏蔽效果检测结果；S3
‑
3、利用所述第一屏蔽效果检测结果与第二屏蔽效果检测结果进行波形复验处理得到屏蔽效果检测结果。5.如权利要求4所述的一种用于反激式变压器屏蔽层的屏蔽效果检测方法，其特征在于，根据所述实时监测数据的磁芯屏蔽绕组对应波形得到第一屏蔽效果检测结果包括：当实时监测数据的磁芯屏蔽绕组对应波形小于300mV时，判断所述实时监测数据的磁芯屏蔽绕组对应波形与开关电源芯片的两端电压波形是否方向一致，若是，则所述第一屏蔽效果检测结果为欠补偿，否则，所述第一屏蔽效果检测结果为过补偿。6.如权利要求4所述的一种用于反激式变压器屏蔽层的屏蔽效果检测方法，其特征在于，根据所述实时监测数据的输出屏蔽绕组对应波形得到第二屏蔽效果检测结果包括：判断所述实时监测数据的输出屏蔽绕组对应波形与开关电源芯片的两端电压波形是否相同，若是，则所述第二屏蔽效果检测结果为欠补偿，否则，所述第二屏蔽效果检测结果为过补偿。7.如权利要求6所述的一种用于反激式变压器屏蔽层的屏蔽效果检测方法，其特征在于，利用所述第一屏蔽效果检测结果与第二屏蔽效果检测结果进行波形复验处理得到屏蔽
效果检测结果包括：S3
‑3‑
1、利用所述双重屏蔽绕组的基础属性进行物理属性复验得到双重屏蔽绕组的物理属性复验结果；S3
‑3‑
2、根据所述物理...

【专利技术属性】
技术研发人员：朱华健，万久森，
申请(专利权)人：杭州得明电子有限公司，
类型：发明
国别省市：