一种半实物仿真数据的处理方法及装置制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种半实物仿真数据的处理方法及装置，方法包括：获取半实物仿真数据的录波数据包及其采样周期；基于所述采样周期，对所述录波数据包进行数据拆分，得到在所有工况信息下的拆分后的数据段；将所述工况信息和所述拆分后的数据段进行组合，形成绘图表信息；依据所述绘图表信息生成对应的多个半实物仿真绘图。通过按照预先设定的数据间隔提取所有工况对应的子数据包，与对应工况进行组合，形成会图表，以生成对应数据绘图，提高作图效率和作图质量，实现作图尺寸及图像像素标准化。化。化。

【技术实现步骤摘要】
一种半实物仿真数据的处理方法及装置


[0001]本专利技术涉及半实物仿真技术技域，尤其涉及一种半实物仿真数据的处理方法及装置。

技术介绍

[0002]当前主流的半实物仿真测试平台对测试过程中的数据处理普遍采用直接看图的形式。这些数据处理程序都存在共性问题：对于多个工况组合在一起的录波数据包，无法进行定制化切割和拆分，波形回放需要根据时间轴位置去找对应物理量的数据位置，操作起来效率较低而且麻烦、不适用于需要数据标准化处理的情景，同时也很难满足用户的更高级需求。

技术实现思路

[0003]本专利技术提供了一种半实物仿真数据的处理方法及装置，通过按照预先设定的数据间隔提取所有工况对应的子数据包，与对应工况进行组合，形成会图表，以生成对应数据绘图。
[0004]第一方面，本专利技术提供的一种半实物仿真数据的处理方法，包括：
[0005]获取半实物仿真数据的录波数据包及其采样周期；
[0006]基于所述采样周期，对所述录波数据包进行数据拆分，得到在所有工况信息下的拆分后的数据段；
[0007]将所述工况信息和所述拆分后的数据段进行组合，形成绘图表信息；
[0008]依据所述绘图表信息生成对应的多个半实物仿真绘图。
[0009]可选地，基于所述采样周期，对所述录波数据包进行数据拆分，得到拆分后的数据段，包括：
[0010]基于所述采样周期为时间轴上的初始时间间隔，确定目标时间间隔；
[0011]以所述目标时间间隔对所述录波数据包进行数据拆分，得到所述拆分后的数据段。
[0012]可选地，以所述目标时间间隔对所述录波数据包进行数据拆分，得到所述拆分后的数据段，包括：
[0013]按照所述目标时间间隔从所述录波数据包中提取时间间隔标志位和数据截取顺序标志位；
[0014]按照所述时间间隔标志位和所述数据截取顺序标志位，提取所有所述工况对应的子数据包，得到所述拆分后的数据段。
[0015]可选地，基于所述采样周期为时间轴上的初始时间间隔，确定目标时间间隔，包括：
[0016]通过循环判断语句对所获取时间轴点对所述录波数据包的逐个采样点作差，直至得到满足采样周期范围的目标时间轴点；所述目标时间轴点由所述采样周期和预设的周期
倍数集所确定；所述目标时间轴点即所述目标时间间隔。。
[0017]第二方面，本专利技术还提供了一种半实物仿真数据的处理装置，包括：
[0018]获取模块，用于获取半实物仿真数据的录波数据包及其采样周期；
[0019]拆分模块，用于基于所述采样周期，对所述录波数据包进行数据拆分，得到在所有工况信息下的拆分后的数据段；
[0020]组合模块，用于将所述工况信息和所述拆分后的数据段进行组合，形成绘图表信息；
[0021]绘图生成模块，用于依据所述绘图表信息生成对应的多个半实物仿真绘图。
[0022]可选地，所述拆分模块包括：
[0023]时间间隔确定子模块，用于基于所述采样周期为时间轴上的初始时间间隔，确定目标时间间隔；
[0024]拆分子模块，用于以所述目标时间间隔对所述录波数据包进行数据拆分，得到所述拆分后的数据段。
[0025]可选地，所述拆分子模块包括：
[0026]第一提取单元，用于按照所述目标时间间隔从所述录波数据包中提取时间间隔标志位和数据截取顺序标志位；
[0027]第二提取单元，用于按照所述时间间隔标志位和所述数据截取顺序标志位，提取所有所述工况对应的子数据包，得到所述拆分后的数据段。
[0028]可选地，所述时间间隔确定子模块具体为：
[0029]通过循环判断语句对所获取时间轴点对所述录波数据包的逐个采样点作差，直至得到满足采样周期范围的目标时间轴点；所述目标时间轴点由所述采样周期和预设的周期倍数集所确定；所述目标时间轴点即所述目标时间间隔。
[0030]本申请第三方面提供了一种电子设备，所述设备包括处理器以及存储器；
[0031]所述存储器用于存储程序代码，并将所述程序代码传输给所述处理器；
[0032]所述处理器用于根据所述程序代码中的指令执行第一方面所述的半实物仿真数据的处理方法。
[0033]本申请第四方面提供了一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质用于存储程序代码，所述程序代码用于执行第一方面所述的半实物仿真数据的处理方法。
[0034]从以上技术方案可以看出，本专利技术具有以下优点：
[0035]本专利技术通过获取半实物仿真数据的录波数据包及其采样周期；基于所述采样周期，对所述录波数据包进行数据拆分，得到在所有工况信息下的拆分后的数据段；将所述工况信息和所述拆分后的数据段进行组合，形成绘图表信息；依据所述绘图表信息生成对应的多个半实物仿真绘图。通过按照预先设定的数据间隔提取所有工况对应的子数据包，与对应工况进行组合，形成会图表，以生成对应数据绘图，提高作图效率和作图质量，实现作图尺寸及图像像素标准化。
附图说明
[0036]为了更清楚地说明本专利技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本
专利技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其它的附图；
[0037]图1为本专利技术的一种半实物仿真数据的处理方法实施例一的步骤流程图；
[0038]图2为本专利技术的一种半实物仿真数据的处理方法实施例二的步骤流程图；
[0039]图3为本专利技术的一种半实物仿真数据的处理装置实施例的结构框图。
具体实施方式
[0040]本专利技术实施例提供了一种半实物仿真数据的处理方法及装置，通过按照预先设定的数据间隔提取所有工况对应的子数据包，与对应工况进行组合，形成会图表，以生成对应数据绘图。
[0041]为使得本专利技术的专利技术目的、特征、优点能够更加的明显和易懂，下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，下面所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分实施例，而非全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其它实施例，都属于本专利技术保护的范围。
[0042]当前主流的半实物测试仿真系统主要有RT
‑
LAB(Real Time Laboratory；)、RTDS(Real Time Digital Simulator)、ADPSS(Advanced Digital Power System Simulator)，这些半实物测试仿真系统对测试过程中的数据处理普遍为采用如RT
‑
LAB的ScopeView、ADPSS的曲线阅览室程序等直接查看。这些数据处理程序都存在共性问题：对于多个工况组合在一起的录波数据包，无法进行定制化切割和拆分，如RT
‑
LAB半实物测试实际应本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种半实物仿真数据的处理方法，其特征在于，包括：获取半实物仿真数据的录波数据包及其采样周期；基于所述采样周期，对所述录波数据包进行数据拆分，得到在所有工况信息下的拆分后的数据段；将所述工况信息和所述拆分后的数据段进行组合，形成绘图表信息；依据所述绘图表信息生成对应的多个半实物仿真绘图。2.根据权利要求1所述的半实物仿真数据的处理方法，其特征在于，基于所述采样周期，对所述录波数据包进行数据拆分，得到拆分后的数据段，包括：基于所述采样周期为时间轴上的初始时间间隔，确定目标时间间隔；以所述目标时间间隔对所述录波数据包进行数据拆分，得到所述拆分后的数据段。3.根据权利要求2所述的半实物仿真数据的处理方法，其特征在于，以所述目标时间间隔对所述录波数据包进行数据拆分，得到所述拆分后的数据段，包括：按照所述目标时间间隔从所述录波数据包中提取时间间隔标志位和数据截取顺序标志位；按照所述时间间隔标志位和所述数据截取顺序标志位，提取所有所述工况对应的子数据包，得到所述拆分后的数据段。4.根据权利要求2所述的半实物仿真数据的处理方法，其特征在于，基于所述采样周期为时间轴上的初始时间间隔，确定目标时间间隔，包括：通过循环判断语句对所获取时间轴点对所述录波数据包的逐个采样点作差，直至得到满足采样周期范围的目标时间轴点；所述目标时间轴点由所述采样周期和预设的周期倍数集所确定；所述目标时间轴点即所述目标时间间隔。5.一种半实物仿真数据的处理装置，其特征在于，包括：获取模块，用于获取半实物仿真数据的录波数据包及其采样周期；拆分模块，用于基于所述采样周期，对所述录波数据包进行数据拆分，得到在...

【专利技术属性】
技术研发人员：曾有芝，苏伟，盛超，郭敬梅，苏秦，吴小可，余超耘，韩琬钰，张靖宜，
申请(专利权)人：南方电网电力科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：