一种光电探测器多波长光响应度测量系统技术方案

本发明专利技术公开一种光电探测器多波长光响应度测量系统，包括：由各个波长的光源组成的输出光源组以及通道与各光源一一对应的多通道光开关，通过控制所述多通道光开关内各通道的开启/关闭选择所述输出光源组输出的波长。通过在光链路中引入多通道光开关，将光路切换到各光源波长，使得多波长光响应度的多次测量合为一次测量，克服了单波长光响应度测量系统反复多次测量效率低的缺点，同时不需要采用高成本的可调谐光源方案，测量系统成本更低，测量方法更简单，测量效率更高。测量效率更高。测量效率更高。

【技术实现步骤摘要】
一种光电探测器多波长光响应度测量系统


[0001]本专利技术涉及光电芯片及器件测量
，尤其涉及一种光电探测器多波长光响应度测量系统。

技术介绍

[0002]光电探测器作为光纤通信中光接收机的重要组成部分，可以将传输过来的光信号转换成电信号输出，光响应度就是衡量这种光电转换效率的重要指标，其数值与照射光波长即照射光功率相关。
[0003]最初光电探测器是应用在单个波长的光纤传输系统中，光响应度只需要测量一个波长，比如1310nm或1550nm通信波长。但随着光通信技术的发展，对通信速率的要求越来越高，多通道波分复用成为主流，测量光电探测器单个波长光响应度越来越难以满足应用需求。针对上述情况，目前是在各个波长点均进行一次测量，测量效率非常低，因此本领域技术人员采取将单波长光响应度测量系统中的单波长光源替换成可调谐光源，通过控制可调谐光源的输出光波长和光功率完成测量。但这种方式所采用的可调谐光源成本较高，特别是在测量波长数是个位数如CWDM4、LAN
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WDM4时，使用可调谐光源会造成设备资源的浪费。
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种光电探测器多波长光响应度测量系统，其特征在于，包括：由各个波长的光源组成的输出光源组以及通道与各光源一一对应的多通道光开关，通过控制所述多通道光开关内各通道的开启/关闭选择所述输出光源组输出的波长。2.根据权利要求1所述的一种光电探测器多波长光响应度测量系统，其特征在于，所述多通道光开关的通道数量多于所述输出光源组的光源数量，用于测量光电探测器的暗电流。3.根据权利要求2所述的一种光电探测器多波长光响应度测量系统，其特征在于，还包括：光衰减器；所述输出光源组输出的各波长的光经所述多通道光开关输入至所述光衰减器，以调整照射到光电探测器的光功率。4.根据权利要求3所述的一种光电探测器多波长光响应度测量系统，其特征在于，还包括：光功率计，设置于所述光衰减器的输出侧，用于采集每一个波长点下的光功率测量值。5.根据权利要求4所述的一种光电探测器多波长光响应度测量系统，其特征在于，还包括：数字源表，与光电探测器连接，用于给光电探测器施加工作电压，同时测量光电探...

【专利技术属性】
技术研发人员：侯广辉，王品一，蔡鹏飞，
申请(专利权)人：NANO科技北京有限公司，
类型：发明
国别省市：