针对触觉负载的阻抗测量制造技术

在一些实现中，测量电路可使用第一晶体管来驱动触觉负载的第一节点。当驱动触觉负载的电压满足第一条件时，该测量电路可触发第一比较器。该第一比较器可具有并联连接到第二晶体管的漏极的第一节点并且可具有连接到触觉负载的第一节点的第二节点。附加地，第二晶体管可具有连接到第一晶体管的栅极的栅极并且可具有连接到第一参考电流的漏极。具有连接到第一参考电流的漏极。具有连接到第一参考电流的漏极。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】针对触觉负载的阻抗测量
[0001]相关申请的交叉引用
[0002]本专利申请要求于2021年1月13日提交的题为“IMPEDANCE MEASUREMENT FOR A HAPTIC LOAD(针对触觉负载的阻抗测量)”的美国非临时专利申请No.17/148,100的优先权，该申请由此通过援引被明确纳入于此。
[0003]公开领域
[0004]本公开的各方面一般涉及触觉振动，并且例如涉及针对触觉负载的阻抗测量。
[0005]背景
[0006]用户装备(UE)(诸如智能电话、平板、以及其他移动计算设备)可使用触觉振动来与用户通信。例如，UE可使用触觉系统来产生向用户提供触觉确认、警报或其他消息的一个或多个振动模式。
[0007]概述
[0008]在一些实现中，一种测量电路包括：第一晶体管，该第一晶体管被配置成驱动触觉负载的第一节点；第二晶体管，该第二晶体管具有连接到该第一晶体管的栅极的栅极以及连接到第一参考电流的漏极；以及第一比较器，该第一比较器具有并联连接到该第二晶体管的漏极的第一节点并具有连接到该触觉负载的第一节点的第二节点，其中当驱动该触觉负载的电压满足第一条件时该第一比较器触发。
[0009]在一些实现中，一种测量电路包括：第一晶体管，该第一晶体管被配置成驱动触觉负载的第一节点；第二晶体管，该第二晶体管具有连接到该第一晶体管的栅极的栅极以及连接到第一参考电流的漏极；以及第一模数转换器，该第一模数转换器具有并联连接到该第二晶体管的漏极的第一节点并具有连接到该触觉负载的第一节点的第二节点，其中该第一模数转换器输出与该触觉负载的阻抗相关联的第一比率。
[0010]在一些实现中，一种由测量电路执行的方法包括：使用第一晶体管来驱动触觉负载的第一节点；以及当驱动该触觉负载的电压满足第一条件时触发第一比较器，其中该第一比较器具有并联连接到第二晶体管的漏极的第一节点并具有连接到该触觉负载的第一节点的第二节点，并且其中该第二晶体管具有连接到该第一晶体管的栅极的栅极并具有连接到第一参考电流的漏极。
[0011]在一些实现中，一种由测量电路执行的方法包括：使用第一晶体管来驱动触觉负载的第一节点；以及使用第一模数转换器来输出与该触觉负载的阻抗相关联的第一比率，其中该第一模数转换器具有并联连接到第二晶体管的漏极的第一节点并具有连接到该触觉负载的第一节点的第二节点，并且其中该第二晶体管具有连接到该第一晶体管的栅极的栅极并具有连接到第一参考电流的漏极。
[0012]在一些实现中，一种存储指令集的非瞬态计算机可读介质包括：在由一个或多个微处理器执行时使得该一个或多个微处理器进行以下操作的一条或多条指令：传送用以使用第一晶体管来驱动触觉负载的第一节点的指令；以及当驱动该触觉负载的电压满足第一条件时接收来自第一比较器的输出，其中该第一比较器具有并联连接到第二晶体管的漏极的第一节点并具有连接到该触觉负载的第一节点的第二节点，并且其中该第二晶体管具有
连接到该第一晶体管的栅极的栅极并具有连接到第一参考电流的漏极。
[0013]在一些实现中，一种存储指令集的非瞬态计算机可读介质包括：在由一个或多个微处理器执行时使得该一个或多个微处理器进行以下操作的一条或多条指令：传送用以使用第一晶体管来驱动触觉负载的第一节点的指令；以及接收使用第一模数转换器的与该触觉负载的阻抗相关联的第一比率，其中该第一模数转换器具有并联连接到第二晶体管的漏极的第一节点并具有连接到该触觉负载的第一节点的第二节点，并且其中该第二晶体管具有连接到该第一晶体管的栅极的栅极并具有连接到第一参考电流的漏极。
[0014]在一些实现中，一种装备包括：用于使用第一晶体管来驱动触觉负载的第一节点的装置；以及用于当驱动该触觉负载的电压满足第一条件时触发第一比较器的装置，其中该第一比较器具有并联连接到第二晶体管的漏极的第一节点并具有连接到该触觉负载的第一节点的第二节点，并且其中该第二晶体管具有连接到该第一晶体管的栅极的栅极并具有连接到第一参考电流的漏极。
[0015]在一些实现中，一种装备包括：用于使用第一晶体管来驱动触觉负载的第一节点的装置；以及用于使用第一模数转换器来输出与该触觉负载的阻抗相关联的第一比率的装置，其中该第一模数转换器具有并联连接到第二晶体管的漏极的第一节点并具有连接到该触觉负载的第一节点的第二节点，并且其中该第二晶体管具有连接到该第一晶体管的栅极的栅极并具有连接到第一参考电流的漏极。
[0016]各方面一般包括如基本上参照附图和说明书描述并且如附图和说明书所解说的方法、装备、系统、计算机程序产品、非瞬态计算机可读介质、用户设备、用户装备、无线通信设备、和/或处理系统。
[0017]前述内容已较宽泛地勾勒出根据本公开的示例的特征和技术优势以力图使下面的详细描述可被更好地理解。附加的特征和优势将在此后描述。所公开的概念和具体示例可容易地被用作修改或设计用于实施与本公开相同目的的其他结构的基础。此类等效构造并不背离所附权利要求书的范围。本文所公开的概念的特性在其组织和操作方法两方面以及相关联的优势将因结合附图来考虑以下描述而被更好地理解。每一附图是出于解说和描述目的来提供的，而非定义对权利要求的限定。
[0018]附图简述
[0019]为了能详细理解本公开的以上陈述的特征，可参照各方面来对以上简要概述的内容进行更具体的描述，其中一些方面在附图中解说。然而应注意，附图仅解说了本公开的某些典型方面，故不应被认为限定其范围，因为本描述可允许有其他等同有效的方面。不同附图中的相同附图标记可标识相同或相似的元素。
[0020]图1是解说根据本公开的各个方面的在其中可以实现本文中所描述的触觉系统的示例环境的示图。
[0021]图2是解说根据本公开的各个方面的在图1中所示的一个或多个设备(诸如触觉系统)的示例组件的示图。
[0022]图3A、3B和3C是解说根据本公开的各个方面的与静态地检测触觉负载的阻抗相关联的示例的示图。
[0023]图4A、4B和4C是解说根据本公开的各个方面的与动态地检测触觉负载的阻抗相关联的示例的示图。
[0024]图5和6是根据本公开的各个方面的与检测触觉负载的阻抗相关联的示例过程的流程图。
[0025]详细描述
[0026]以下参照附图更全面地描述本公开的各个方面。然而，本公开可用许多不同形式来实施并且不应解释为被限于本公开通篇给出的任何具体结构或功能。相反，提供这些方面是为了使得本公开将是透彻和完整的，并且其将向本领域技术人员完全传达本公开的范围。基于本文中的教导，本领域技术人员应领会，本公开的范围旨在覆盖本文中所披露的本公开的任何方面，不论其是与本公开的任何其他方面相独立地实现还是组合地实现的。例如，可使用本文中所阐述的任何数目的方面来实现装置或实践方法。另外，本公开的范围旨在覆盖使用作为本文中所阐述的本公开的各个方面的补充或者另外的其他结构、功能性、或者结构及功能性来实践的此类装置或方法。应当理解，本文中所披露的本公开的任本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】1.一种测量电路，包括：第一晶体管，所述第一晶体管被配置成驱动触觉负载的第一节点；第二晶体管，所述第二晶体管具有连接到所述第一晶体管的栅极的栅极以及连接到第一参考电流的漏极；以及第一比较器，所述第一比较器具有并联连接到所述第二晶体管的漏极的第一节点并具有连接到所述触觉负载的第一节点的第二节点，其中当驱动所述触觉负载的电压满足第一条件时所述第一比较器触发。2.如权利要求1所述的测量电路，其中，所述触觉负载包括线性谐振致动器。3.如权利要求1所述的测量电路，进一步包括：第三晶体管，所述第三晶体管被配置成驱动所述触觉负载的第二节点；第四晶体管，所述第四晶体管具有连接到所述第三晶体管的栅极的栅极以及连接到第二参考电流的漏极；以及第二比较器，所述第二比较器具有并联连接到所述第四晶体管的漏极的第一节点并具有连接到所述触觉负载的第二节点的第二节点，其中当驱动所述触觉负载的所述电压满足第二条件时所述第二比较器触发。4.如权利要求3所述的测量电路，进一步包括：门，所述门连接到所述第一比较器和所述第二比较器并且被配置成：将来自所述第一比较器的输出与来自所述第二比较器的输出进行组合。5.如权利要求1所述的测量电路，进一步包括：微处理器，所述微处理器被配置成：至少部分地基于驱动所述触觉负载的所述电压、来自所述第一比较器的输出、所述第一参考电流、以及与所述第二晶体管相关联的感测比率来确定与所述触觉负载相关联的阻抗。6.如权利要求5所述的测量电路，其中，所述微处理器被进一步配置成：将与所述触觉负载相关联的所述阻抗与阈值进行比较，并且当所述阻抗满足所述阈值时生成误差信号。7.如权利要求1所述的测量电路，进一步包括：微处理器，所述微处理器被配置成：扫掠驱动所述触觉负载的多个电压，并至少部分地基于使用所述多个电压的二分搜索来确定与所述触觉负载相关联的阻抗。8.如权利要求1所述的测量电路，进一步包括：微处理器，所述微处理器被配置成：扫掠所述第二晶体管的多个参考电流，并至少部分地基于使用所述多个参考电流的二分搜索来确定与所述触觉负载相关联的阻抗。9.如权利要求1所述的测量电路，进一步包括：微处理器，所述微处理器被配置成：扫掠与所述第二晶体管相关联的多个感测比率，并至少部分地基于使用所述多个感测比率的二分搜索来确定与所述触觉负载相关联的阻抗。10.如权利要求1所述的测量电路，其中，所述第一晶体管的源极和所述第二晶体管的源极连接到电源。11.如权利要求1所述的测量电路，其中，所述第一晶体管的源极和所述第二晶体管的源极连接到接地。12.如权利要求1所述的测量电路，进一步包括：微处理器，所述微处理器被配置成：使用电压波形来驱动所述触觉负载，并至少部分地
基于触发点来确定与所述触觉负载相关联的阻抗，所述触发点与所述电压波形相关联并且是至少部分地基于所述第一比较器的输出来确定的。13.如权利要求12所述的测量电路，其中，所述电压波形包括正弦波或三角波。14.一种测量电路，包括：第一晶体管，所述第一晶体管被配置成驱动触觉负载的第一节点；第二晶体管，所述第二晶体管具有连接到所述第一晶体管的栅极的栅极以及连接到第一参考电流的漏极；以及第一模数转换器，所述第一模数转换器具有并联连接到所述第二晶体管的漏极的第一节点并具有连接到所述触觉负载的第一节点的第二节点，其中所述第一模数转换器输出与所述触觉负载的阻抗相关联的第一比率。15.如权利要求14所述的测量电路，其中，所述触觉负载包括线性谐振致动器。16.如权利要求14所述的测量电路，进一步包括：第三晶体管，所述第三晶体管被配置成驱动所述触觉负载的第二节点；第四晶体管，所述第四晶体管具有连接到所述第三晶体管的栅极的栅极以及连接到第二参考电流的漏极；以及第二模数转换器，所述第二模数转换器具有并联连接到所述第四晶体管的漏极的第一节点并具有连接到所述触觉负载的第二节点的第二节点，其中所述第二模数转换器输出与所述触觉负载的所述阻抗相关联的第二比率。17.如权利要求14所述的测量电路，进一步包括：微处理器，所述微处理器被配置成：至少部分地基于驱动所述触觉负载的电压、所述第一比率、所述第一参考电流、以及与所述第二晶体管相关联的感测比率来确定所述触觉负载的所述阻抗。18.如权利要求17所述的测量电路，其中，所述微处理器被进一步配置成：将所述触觉负载的所述阻抗与阈值进行比较，并且当所述阻抗满足所述阈值时生成误差信号。19.如权利要求14所述的测量电路，其中，所述第一晶体管的源极和所述第二晶体管的源极连接到电源。20.如权利要求14所述的测量电路，其中，所述第一晶体管的源极和所述第二晶体管的源极连接到接地。21.一种由测量电路执行的方法，包括：使用第一晶体管来驱动触觉负载的第一节点；以及当驱动所述触觉负载的电压满足第一条件时触发第一比较器，其中所述第一比较器具有并联连接到第二晶体管的漏极的第一节点并具有连接到所述触觉负载的第一节点的第二节点，并且其中所述第二晶体管具有连接到所述第一晶体管的栅极的栅极并具有连接到第一参考电流的漏极。22.如权利要求21所述的方法，其中，所述触觉负载包括线性谐振致动器。23.如权利要求21所述的方法，进一步包括：使用第三晶体管来驱动所述触觉负载的第二节点；以及当驱动所述触觉负载的所述电压满足第二条件时触发第二比较器，其中所述第二比较器具有并联连接到第四晶体管的漏极的第一节点并具有连接到所述触觉负载的第二节点
的第二节点，并且其中所述第四晶体管具有连接到所述第三晶体管的栅极的栅极并...

【专利技术属性】
技术研发人员：L，
申请(专利权)人：高通股份有限公司，
类型：发明
国别省市：