本申请提供一种基于BIM模型的净高分析方法、装置及电子设备，所述方法应用于服务器，包括：获取第一构件模型，所述第一构件模型为多个构件模型中的任意一个构件模型，所述构件模型为预设区域内的待检测构件的模型；通过第一预设方式，获取第一交点和第二交点，所述第一交点和所述第二交点均为多个交点中的任意一个交点，所述交点为所述第一构件模型的底面上不同轮廓线的相交的点；通过第二预设方式，获取所述第一交点的第一净高值和所述第二交点的第二净高值；判断所述第一净高值是否大于所述第二净高值；若确定所述第一净高值大于所述第二净高值，则确定所述第二净高值为所述第一构件模型的构件净高值。本申请具有提高净高计算的效率的效果。算的效率的效果。算的效率的效果。
【技术实现步骤摘要】
一种基于BIM模型的净高分析方法、装置及电子设备
[0001]本申请涉及建筑信息化模型应用的
，具体涉及一种基于BIM模型的净高分析方法、装置及电子设备。
技术介绍
[0002]BIM（Building Information Modeling）模型即建筑信息模型，是一种数字化的建筑设计和施工管理工具。它是在建筑信息化的基础上，采用三维建模技术将建筑物的各种信息整合到一个综合的数字模型中，该信息模型不仅包含描述建筑物构件的几何信息、专业属性及人为添加的多种信息，也包括非实体构件的对象（如面积、高度以及空间等），该类构件对象也具备其属性以及人为添加的各种信息。
[0003]工程上的净高，通常指的是楼面或地面至上部楼板底面或吊顶底面之间的垂直距离，也就是在房间内能自由移动的高度。房间净高是建筑设计中一个非常重要的概念，因为它关系到室内空气流通、照明、通风、安全以及使用舒适度等因素，而且也会影响到室内装修、家具摆放等方面。
[0004]目前，计算房间净高时，有时候会出现倾斜的吊顶，或者底面倾斜的构件，此时需要相关专业的工程师在BIM模型中创建剖面视图进行测量标注构件与地面的高度，不断增加剖面视图或反复创建若干个剖面视图，算出构件的最低点，将最低点作为该构件的净高，即需要人为计算构件净高，计算房间净高的效率较低。因此需要一种方法提高净高计算的效率。
技术实现思路
[0005]本申请提供一种基于BIM模型的净高分析方法、装置及电子设备，具有提高净高计算的效率的效果。
[0006]在本申请的第一方面提供了一种基于BIM模型的净高分析方法，所述方法应用于服务器，包括：获取第一构件模型，所述第一构件模型为多个构件模型中的任意一个构件模型，所述构件模型为预设区域内的待检测构件的模型；通过第一预设方式，获取第一交点和第二交点，所述第一交点和所述第二交点均为多个交点中的任意一个交点，所述交点为所述第一构件模型的底面不同轮廓线的相交的点；通过第二预设方式，获取所述第一交点的第一净高值和所述第二交点的第二净高值；判断所述第一净高值是否大于所述第二净高值；若确定所述第一净高值大于所述第二净高值，则确定所述第二净高值为所述第一构件模型的构件净高值。
[0007]通过采用上述技术方案，服务器直接获取预设区域内的待检测构件的构件模型，
再获取构件模型中底面的各个交点，并自动分析计算各个交点的净高值，最后基于交点的净高值直接计算待检测构件的净高值。上述步骤通过自动化获取数据和计算净高值的过程，避免了手动测绘、遍历查找和汇总计算的繁琐过程，大大提高了净高计算的效率。
[0008]可选的，通过第二预设方式，获取所述第一交点的第一净高值，具体包括：获取所述第一交点的第一位置数据和第一高度数据；基于所述第一位置数据，获取地面的第一地面点的第二高度数据，所述第一交点的水平位置与所述第一地面点的水平位置相同；基于所述第一高度数据和所述第二高度数据，计算所述第一净高值。
[0009]通过采用上述技术方案，服务器直接获取与交点水平位置相同的底面点，并获取底面点的高度数据，通过两个点的高度计算交点的净高值，提高了净高计算的准确性。
[0010]可选的，在通过第一预设方式，获取第一交点和第二交点之前，所述方法还包括：基于预设平面对所述第一构件模型的表面的截取结果，获取所述表面低于所述预设平面的可用区域，所述预设平面到所述地面的距离为预设高度；获取局部面积，所述局部面积为多个所述可用区域的投影面积之和，所述投影面积为所述可用区域在所述地面进行正投影的阴影区域的面积；判断所述局部面积与预设的区域面积阈值的大小关系，若确定所述局部面积大于所述区域面积阈值，则获取所述可用区域的所述交点。
[0011]通过采用上述技术方案，服务器基于预设平面对各个构件的表面进行截取，获取低于预设平面的可用区域，从而确定了需要计算净高值的构件范围。通过以上步骤，可以针对待检测区域内的不同构件类型和大小，确定需要计算净高值的具体构件和位置，提高了净高计算的准确性和效率。
[0012]可选的，通过第一预设方式，获取第一交点和第二交点，具体包括：获取所述第一构件模型的第一几何要素，所述第一几何要素包括构成所述第一构件模型的面要素；基于所述第一几何要素，获取所述第一构件模型的底面；获取所述底面的第二几何要素，所述第二几何要素包括构成所述底面的点要素；基于所述第二几何要素，获取所述第一交点和所述第二交点。
[0013]通过采用上述技术方案，服务器通过第一预设方式获取第一构件模型的底面的多个交点，为后续的净高计算提供了必要的数据支持。
[0014]可选的，在所述获取第一构件模型之前，所述方法还包括：获取需要执行净高计算的区域的标高范围；基于所述标高范围，获取BIM模型中的多个所述预设区域。
[0015]通过采用上述技术方案，基于标高范围，可以快速获取BIM模型中的多个预设区域，避免手动查找和筛选的繁琐过程，提高计算效率。
[0016]可选的，在所述若确定所述第一净高值大于所述第二净高值，则确定所述第二净高值为所述第一构件模型的构件净高值之后，所述方法还包括：基于所述第一位置数据，在所述第一构件模型中标记所述第一净高值；基于多个所述交点的净高值，计算底面点的底面点净高值，所述底面点为所述底面上的任意一个点。
[0017]通过采用上述技术方案，可以实现在确定第二净高值后，进一步计算底面点的净高值，并在第一构件模型中标记第一交点的净高值的功能，方便用户进行后续的操作。
[0018]可选的，在所述基于多个所述交点的净高值，计算底面点的底面点净高值之后，所述方法还包括：基于预设的净高值与颜色的对应关系，根据所述底面点净高值，对所述底面点进行颜色填充。
[0019]通过采用上述技术方案，基于预设的净高值与颜色的对应关系，可以根据底面点的净高值，自动对底面点进行填充，提高可视化程度。
[0020]可选的，在所述基于多个所述交点的净高值，计算底面点的底面点净高值之后，所述方法还包括：判断所述底面点净高值与预设阈值的大小关系；若确定所述底面点净高值小于所述预设阈值，则对所述底面点进行预设颜色填充。
[0021]通过采用上述技术方案，当底面点净高值小于预设阈值时，对底面点进行预设颜色填充，这样可以在可视化界面上直观地显示净高情况，方便用户对净高过低的区域进行调整。
[0022]在本申请的第二方面提供了一种基于BIM模型的净高分析装置，所述装置安装于服务器，包括第一获取模块、第二获取模块、第三获取模块、判断模块以及处理模块，其中：所述第一获取模块用于获取第一构件模型，所述第一构件模型为多个构件模型中的任意一个构件模型，所述构件模型为预设区域内的待检测构件的模型。
[0023]所述第二获取模块用于通过第一预设方式，获取第一交点和第二交点，所述第一交点和所述第二交点均为多个交点中的任意一个交点，所述交点为所述第一构件模型的底面不同轮廓线的相交的点。
[0024]所述第三获取本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种基于BIM模型的净高分析方法，其特征在于，所述方法应用于服务器，包括：获取第一构件模型，所述第一构件模型为多个构件模型中的任意一个构件模型，所述构件模型为预设区域内的待检测构件的模型；通过第一预设方式，获取第一交点和第二交点，所述第一交点和所述第二交点均为多个交点中的任意一个交点，所述交点为所述第一构件模型的底面上不同轮廓线的相交的点；通过第二预设方式，获取所述第一交点的第一净高值和所述第二交点的第二净高值；判断所述第一净高值是否大于所述第二净高值；若确定所述第一净高值大于所述第二净高值，则确定所述第二净高值为所述第一构件模型的构件净高值。2.根据权利要求1所述的一种基于BIM模型的净高分析方法，其特征在于，通过第二预设方式，获取所述第一交点的第一净高值，具体包括：获取所述第一交点的第一位置数据和第一高度数据；基于所述第一位置数据，获取地面的第一地面点的第二高度数据，所述第一交点的水平位置与所述第一地面点的水平位置相同；基于所述第一高度数据和所述第二高度数据，计算所述第一净高值。3.根据权利要求2所述的一种基于BIM模型的净高分析方法，其特征在于，在通过第一预设方式，获取第一交点和第二交点之前，所述方法还包括：基于预设平面对所述第一构件模型的表面的截取结果，获取所述表面低于所述预设平面的可用区域，所述预设平面到所述地面的距离为预设高度；获取局部面积，所述局部面积为多个所述可用区域的投影面积之和，所述投影面积为所述可用区域在所述地面进行正投影的阴影区域的面积；判断所述局部面积与预设的区域面积阈值的大小关系，若确定所述局部面积大于所述区域面积阈值，则获取所述可用区域的所述交点。4.根据权利要求3所述的一种基于BIM模型的净高分析方法，其特征在于，通过第一预设方式，获取第一交点和第二交点，具体包括：获取所述第一构件模型的第一几何要素，所述第一几何要素包括构成所述第一构件模型的面要素；基于所述第一几何要素，获取所述第一构件模型的底面；获取所述底面的第二几何要素，所述第二几何要素包括构成所述底面的点要素；基于所述第二几何要素，获取所述第一交点和所述第二交点。5.根据权利要求1所述的一种基于BIM模型的净高分析方法，其特征在于，在所述获取第一构件模型之前，所述方法还包括：获取需要执行净高计算的区域的标高范围；基于所述标高范围，获取BIM模型中的多个所述预设区域。6.根据权利要求2...
【专利技术属性】
技术研发人员：贺迎满，韩智华，
申请(专利权)人：中设数字技术有限公司，
类型：发明
国别省市：
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