量子比特装置量子信息泄露的测试方法及装置制造方法及图纸

本发明专利技术提供了一种量子比特装置量子信息泄露的测试方法和装置、量子计算机、可读存储介质，所述量子比特装置量子信息泄露的测试方法包括：获取接收π脉冲后的待测量子比特处于|1>态的第一保真度；获取所述待测量子比特接收π脉冲，调节初始比特频率至目标频率并保持一定时间长度后恢复至所述初始比特频率后，所述待测量子比特处于|1>态的第二保真度；根据所述第一保真度以及所述第二保真度获取所述待测量子比特在所述目标频率位置的量子信息泄露强度。本发明专利技术的技术方案能够确定在目标频率位置是否会引发量子信息泄露，进而在做两比特门的过程中，能够设置两比特门的工作点远离这些会引发量子信息泄露的频率位置。这些会引发量子信息泄露的频率位置。这些会引发量子信息泄露的频率位置。

【技术实现步骤摘要】
量子比特装置量子信息泄露的测试方法及装置


[0001]本专利技术属于量子计算
，特别涉及一种量子比特装置量子信息泄露的测试方法及装置、量子计算机、可读存储介质。

技术介绍

[0002]量子计算机是一种遵循量子力学规律调控量子信息单元进行计算的新型计算模式，量子比特需要工作在对磁通噪声敏感度最低的位置，使得量子比特有较长的退相干时间，此时量子比特所处的频率为最佳工作点。
[0003]量子比特在某个频率位置上的时候，与芯片工艺产生的微观缺陷等发生相互作用耦合会引发量子信息泄露(Population Loss即占据态发生跃迁丢失)，在做两比特门的过程中，会调低量子比特的频率，量子比特频率在下降过程中若穿过存在微观缺陷的位置时也会发生量子信息泄露，进而影响两比特门的保真度，因此，需要保证两比特门工作点远离这些存在相互作用耦合的频率位置点且避免调低量子比特频率的过程中会穿过这些存在相互作用耦合的频率位置点。为了确定这些存在会与量子比特发生相互作用耦合引发量子信息泄露的频率位置，需要提出一种量子比特装置量子信息泄露的测试方法。
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种量子比特装置量子信息泄露的测试方法，其特征在于，包括：获取接收π脉冲后的待测量子比特处于|1>态的第一保真度；获取所述待测量子比特接收π脉冲，调节初始比特频率至目标频率并保持一定时间长度后恢复至所述初始比特频率后，所述待测量子比特处于|1>态的第二保真度；根据所述第一保真度以及所述第二保真度获取所述待测量子比特在所述目标频率位置的量子信息泄露强度。2.如权利要求1所述的量子比特装置量子信息泄露的测试方法，其特征在于，所述获取接收π脉冲后的待测量子比特处于|1>态的第一保真度前，还包括：将非测量量子比特设置在第一工作点，所述非测量量子比特为量子芯片中除所述待测量子比特外的所有量子比特，所述第一工作点远离所述待测量子比特的工作点。3.如权利要求1所述的量子比特装置量子信息泄露的测试方法，其特征在于，所述获取接收π脉冲后的待测量子比特处于|1>态的第一保真度，包括：重复多次执行向所述待测量子比特施加一π脉冲，且每次执行后均获取所述待测量子比特的量子态；基于多次获取的所述待测量子比特的量子态获取所述待测量子比特处于|1>态的第一保真度。4.如权利要求1所述的量子比特装置量子信息泄露的测试方法，其特征在于，所述获取所述待测量子比特接收π脉冲，调节初始比特频率至目标频率并保持在所述目标频率一定时间长度再恢复至所述初始比特频率后，所述待测量子比特处于|1>态的第二保真度，包括：重复多次执行向所述待测量子比特施加一π脉冲，调节初始比特频率至目标频率并保持一定的时间长度后恢复至所述初始比特频率，并获取每次执行后所述待测量子比特的量子态；基于...

【专利技术属性】
技术研发人员：李泽东，孔伟成，
申请(专利权)人：本源量子计算科技合肥股份有限公司，
类型：发明
国别省市：