一种可自动定位芯片的测试插座制造技术

本实用新型专利技术涉及自动定位芯片的测试插座技术领域,尤其涉及一种可自动定位芯片的测试插座,包括固定板和浮动板，固定板的顶端安装有浮动板，浮动板表面开设有矩形凹槽，凹槽的四个角落开设有圆形安装槽，凹槽用于放置芯片，凹槽两侧开设有卡接槽，卡接槽的两侧开设有滑槽，滑槽内滑动安装有滑块，滑块与卡接槽的内壁之间通过弹簧连接，滑块用于夹紧芯片，本实用新型专利技术避免了芯片与浮动板之间因有间隙而产生晃动，适用于不同规格的芯片，降低芯片尺寸误差对测试结果产生影响。尺寸误差对测试结果产生影响。尺寸误差对测试结果产生影响。

【技术实现步骤摘要】
一种可自动定位芯片的测试插座


[0001]本技术涉及自动定位芯片的测试插座
，尤其涉及一种可自动定位芯片的测试插座。

技术介绍

[0002]芯片测试分两个阶段，一个是CP(Chip Probing)测试，也就是晶圆(Wafer)测试。另外一个是FT(Final Test)测试，也就是把芯片封装好再进行的测试。目前在FT测试中将待测试的芯片固定到浮动板上时，由于待测的芯片尺寸大小会有误差，造成芯片尺寸偏大时安装困难或者芯片尺寸偏小时出现偏移，从而影响测试的精确性。

技术实现思路

[0003]本技术的目的是为了解决现有技术中存在的目前在FT测试中将待测试的芯片固定到浮动板上时，由于待测的芯片尺寸大小会有误差，造成芯片尺寸偏大时安装困难或者芯片尺寸偏小时出现偏移，从而影响测试的精确性的缺点，而提出的一种可自动定位芯片的测试插座。
[0004]为了实现上述目的，本技术采用了如下技术方案：
[0005]一种可自动定位芯片的测试插座，包括固定板和浮动板，所述固定板的顶端安装有浮动板，所述浮动板表面开设有矩形凹槽，所述凹槽的本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种可自动定位芯片的测试插座，其特征在于，包括固定板(5)和浮动板(4)，所述固定板(5)的顶端安装有浮动板(4)，所述浮动板(4)表面开设有矩形凹槽(41)，所述凹槽(41)的四个角落开设有圆形安装槽(42)，凹槽(41)用于放置芯片(1)，凹槽(41)两侧开设有卡接槽(43)，所述卡接槽(43)的两侧开设有滑槽，滑槽内滑动安装有滑块(3)，所述滑块(3)与卡接槽(43)的内壁之间通过弹簧(2)连接，滑块(3)用于夹紧芯片(1)。2.根据权利要求1所述的一种可自动定位芯片的测试插座，其特...

【专利技术属性】
技术研发人员：薛冰，
申请(专利权)人：安盈半导体技术常州有限公司，
类型：新型
国别省市：