一种基于纹理配准的仪表图像配准方法及装置制造方法及图纸

本发明专利技术涉及一种基于纹理配准的仪表图像配准方法，包括如下步骤：获取标准图像和待配准图像；预处理标准图像和待配准图像；分别提取标准图像和待配准图像的纹理特征，得到第一纹理特征图、第二纹理特征图；分别提取第一纹理特征图、第二纹理特征图的纹理特征点，得到第一特征点集和第二特征点集；计算各第一特征点与各第二特征点之间的相似度；根据所述相似度，对第一纹理特征图、第二纹理特征图进行匹配判断；若匹配判断结果为通过，则继续下一步；否则，重新获取待配准图像；选取相似度最高的N个匹配对；根据这N个匹配对计算标准图像与待配准图像间的单应矩阵；通过单应矩阵将待配准图像映射至标准图像坐标系下，得到配准图像。得到配准图像。得到配准图像。

【技术实现步骤摘要】
一种基于纹理配准的仪表图像配准方法及装置


[0001]本专利技术涉及一种基于纹理配准的仪表图像配准方法及装置，属于图像配准领域。

技术介绍

[0002]图像配准与相关是图像处理研究领域中的一个典型问题和技术难点，其目的在于比较或融合针对同一对象在不同条件下获取的图像，例如图像会来自不同的采集设备，取自不同的时间，不同的拍摄视角等等，有时也需要用到针对不同对象的图像配准问题。具体地说，对于一组图像数据集中的两幅图像，通过寻找一空间变换把一幅图像(浮动图像，moving image)映射到另一幅图像(参考图像，fixed image)上，使得两图中对应于空间同一位置的点一一对应起来，使得参考图像中人工或自动标注的先验信息(如刻度位置、量程上下限、指针旋转中心点等)可以直接映射到浮动图像中，从而达到信息融合的目的，便于后面的表计读数识别。
[0003]现有技术存在以下缺点：浮动测试图像与参考图像之间，时常存在视差角度过大、非共面、区分性特征过少、虚焦、模糊等，给测试图表盘和模板表盘实现纹理配准造成极大难度，特别是对不同标记点时表盘不一致性更加本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种基于纹理配准的仪表图像配准方法，其特征在于，包括：获取标准图像和待配准图像；预处理标准图像和待配准图像；分别提取标准图像和待配准图像的纹理特征，得到第一纹理特征图、第二纹理特征图；分别提取第一纹理特征图、第二纹理特征图的纹理特征点，得到第一特征点集和第二特征点集；计算各第一特征点与各第二特征点之间的相似度；根据所述相似度，对第一纹理特征图、第二纹理特征图进行匹配判断；若匹配判断结果为通过，则继续下一步；否则，重新获取待配准图像；选取相似度最高的N个匹配对；根据这N个匹配对计算标准图像与待配准图像间的单应矩阵；通过单应矩阵将待配准图像映射至标准图像坐标系下，得到配准图像。2.根据权利要求1所述的一种基于纹理配准的仪表图像配准方法，其特征在于，所述预处理标准图像，包括如下步骤：对标准图像进行灰化及二值化处理，得到灰度图像；提取灰度图像中的前景，将标准图像转化为前景图像。3.根据权利要求2所述的一种基于纹理配准的仪表图像配准方法，其特征在于，所述提取标准图像纹理特征，具体为：利用gabor模板对前景图像进行卷积，得到纹理特征图。4.根据权利要求1所述的一种基于纹理配准的仪表图像配准方法，其特征在于，所述对第一纹理特征图、第二纹理特征图进行匹配判断，包括如下步骤：前向匹配：根据第二特征点集建立第二KD树；根据所述描述算子，通过最邻近算法在第二KD树中查找与第一特征点集中各特征点相匹配的特征点，将匹配的两特征点称为匹配对，得到第一匹配对集；后向匹配：根据第一特征点集建立第一KD树；根据所述描述算子，通过最邻近算法在第一KD树中查找与第二特征点集中各特征点相匹配的特征点，得到第二匹配对集；若第一匹配对集与第二匹配对集中匹配对的数量差值超过第二阈值，则认定第一图像与第二图像不可配准；否则，认定第一图像与第二图像可配准。5.根据权利要求4所述的一种基于纹理配准的仪表图像配准方法，其特征在于，还包括：计算第一特征点与第二特征点的描述算子之间的汉明距离为相似度。6.一种基于纹理配准的仪表图像配准装置，包括存储器、处理器及存储在存储器上...

【专利技术属性】
技术研发人员：丁晟辉，何春庆，杨丕潆，林桥玉，余燕玉，温昊秋，袁皓，欧晓辉，刘智，卢嘉裕，
申请(专利权)人：国网福建省电力有限公司，
类型：发明
国别省市：