本发明专利技术提供一种计算机配件的测试装置，涉及计算机配件测试领域，包括主插座；所述主插座固定在测试主板上，且主插座顶部插接有插头；所述插头一端连接有排线，且排线一端连接有测试插座；所述主插座外部连接有活动限位件，且活动限位件与插头相连。本发明专利技术依次通过测试插座、排线、插头和主插座将内存条与测试主板连接在一起进行测试，测试插座、排线和插头能够轻易更换，可有效避免内存条直接与主插座相连，导致整块测试主板无法使用状况的发生。解决现有测试装置使用时测试所需的连接插头多采用锡焊方式连接在测试主板上，极易导致连接插头接触不良，造成连接插头无法使用，进而导致整块测试主板报废的问题。而导致整块测试主板报废的问题。而导致整块测试主板报废的问题。
【技术实现步骤摘要】
一种计算机配件的测试装置
[0001]本专利技术涉及计算机配件测试
，特别涉及一种计算机配件的测试装置。
技术介绍
[0002]随着计算机技术的迅速发展和普及，内存条的使用频率也逐渐上升，内存条是CPU可通过总线寻址，并进行读写操作的电脑部件，内存条在个人电脑历史上曾经是主内存的扩展，随着电脑软硬件技术不断更新的要求，内存条已成为读写内存的整体，内存条在生产完成后需要对其进行测试。
[0003]计算机配件的测试装置可参考公开号CN101833998B的专利，包括测试主板，位于所述测试主板上的内存条插槽，其特征在于：其还包括限位底板，所述限位底板上设置有数个用于收容内存条插槽的通孔，所述通孔左右两端分别垂直安装有限位块，内存条测试装置由于在测试主板的内存条插槽周围设置了一个限位底板和限位块，该定位结构防止内存条在测试过程中反复插入内存条插槽而对内存条插槽造成破坏。
[0004]现有计算机配件的测试装置在使用时，测试所需的连接插头多采用锡焊方式连接在测试主板上，后期无损伤拆卸难度较高，在内存条频繁插拔测试过程中极易导致连接插头出现接触不良，造成连接插头无法使用，进而导致整块测试主板报废，影响后续内存条的测试效果。
技术实现思路
[0005]有鉴于此，本专利技术提供一种计算机配件的测试装置，以解决现有的计算机配件的测试装置在使用时，测试所需的连接插头多采用锡焊方式连接在测试主板上，后期无损伤拆卸难度较高，在内存条频繁插拔测试过程中，极易导致连接插头出现接触不良状况，造成连接插头无法使用，进而导致整块测试主板报废，影响后续内存条测试效果的问题。
[0006]本专利技术提供了一种计算机配件的测试装置，具体包括：主插座；所述主插座固定在测试主板上，且主插座顶部插接有插头；所述插头一端连接有排线，且排线一端连接有测试插座；所述主插座外部连接有活动限位件，且活动限位件与插头相连，主插座两侧分别安装有小弹簧；收放筒，所述收放筒内部呈中空状，且排线贯穿于收放筒内部；所述收放筒内部连接有收放轴，且收放轴一端位于收放筒外部；所述收放筒外侧连接有锁止圈，且锁止圈与收放轴相接触，将插头插接于主插座内，通过插头和排线将主插座与测试插座连接在一起，可将内存条插入测试插座内，依次通过测试插座、排线、插头和主插座将内存条与测试主板连接在一起进行测试，可有效避免内存条直接与主插座相连，工作人员频繁插拔内存条测试，导致主插座接触不良，进而导致整块测试主板无法使用，影响后续内存条测试效果。
[0007]进一步的，所述主插座顶部两端设有卡接孔，插头两端设有卡接钩，卡接钩外侧底端呈凸起状，插头所设有的卡接钩卡接于主插座所设有的卡接孔内，卡接钩外侧与卡接孔内侧相贴。
[0008]进一步的，所述活动限位件滑动连接于主插座外侧，活动限位件顶侧与主插座相
接触，活动限位件两侧平面分别与插头所设有的两个卡接钩内侧相接触。
[0009]进一步的，所述主插座外侧设有四个导向竖杆，活动限位件两侧分别设有导向滑孔，主插座所设有的导向竖杆滑动贯穿于活动限位件所设有的导向滑孔内，小弹簧套装在导向竖杆外侧，小弹簧顶部与活动限位件底侧相接触，小弹簧底部与主插座相接触，当插头插接于主插座内时，卡接钩卡接于卡接孔内，活动限位件受小弹簧推力影响向上移动，使两侧平面分别与两个卡接钩内侧相接触，阻止卡接钩向内弯曲形变，保障插头插接主插座连接的牢固性，有效避免插头松动导致接触不良状况的发生，使插头与主插座之间连接固定更加简便。
[0010]进一步的，所述收放筒两侧分别设有收放口，排线贯穿于收放筒所设有的两个收放口内，收放轴转动于收放筒内，收放轴内部设有通孔，排线连接于收放轴所设有的通孔内，可根据实际测试使用所需，对收放轴进行转动调节，通过收放轴将排线卷收至收放筒内，缩短排线长度，更好满足于使用所需。
[0011]进一步的，所述收放筒外侧呈环绕状设有导向滑槽，锁止圈滑动连接于收放筒外侧，锁止圈内侧呈环绕状设有导向滑块，锁止圈所设有的导向滑块滑动连接于收放筒所设有导向滑槽内。
[0012]进一步的，所述收放轴另一端呈环绕状设有限位齿，锁止圈一侧呈环绕状设有限位槽，收放轴所设有的限位齿啮合于锁止圈所设有的限位槽内。
[0013]进一步的，所述收放筒外部套装有大弹簧，大弹簧一端与锁止圈相接触，大弹簧另一端与收放筒相接触，当收放轴转动调节完毕后，锁止圈受大弹簧影响移动，使限位齿啮合于限位槽内，通过锁止圈对收放轴进行限位，从而收放轴对排线进行固定。
[0014]进一步的，所述收放筒由两部分构成，收放筒的两部分相互螺纹连接在一起，收放轴分别与收放筒两部分转动连接，通孔与收放轴一端相连通，当需要将插头、排线和测试插座一并更换时，将收放筒两部分拆分开来，即可将排线与收放轴分离开来。
[0015]有益效果是：1、本专利技术将插头插接于主插座内，通过插头和排线将主插座与测试插座连接在一起，可将内存条插入测试插座内，依次通过测试插座、排线、插头和主插座将内存条与测试主板连接在一起进行测试，可有效避免内存条直接与主插座相连，工作人员频繁插拔内存条测试，导致主插座接触不良，进而导致整块测试主板无法使用，影响后续内存条测试效果，当测试插座频繁使用出现接触不良时，可将插头、排线和测试插座一并更换，保障内存条测试效率；当插头插接于主插座内时，卡接钩卡接于卡接孔内，活动限位件受小弹簧推力影响向上移动，使两侧平面分别与两个卡接钩内侧相接触，阻止卡接钩向内弯曲形变，保障插头插接主插座连接的牢固性，有效避免插头松动导致接触不良状况的发生，使插头与主插座之间连接固定更加简便，当需要将插头与主插座拆分开来时，只需向下移动活动限位件，小弹簧呈收缩状，使活动限位件与卡接钩内侧分离，向上拉动插头，卡接钩受力向内弯曲从卡接孔内分离，即可将插头与主插座拆分开来，操作更加简便。
[0016]2、本专利技术可根据实际测试使用所需，对收放轴进行转动调节，通过收放轴将排线卷收至收放筒内，缩短排线长度，更好满足于使用所需；通过导向滑块与导向滑槽滑动配合，起到对锁止圈导向效果，使锁止圈只能沿导向滑槽移动，避免锁止圈转动状况的发生；当收放轴转动调节完毕后，锁止圈受大弹簧影响移动，使限位齿啮合于限位槽内，通过锁止圈对收放轴进行限位，从而收放轴对排线进行固定，保障排线长度的稳定性；当需要将插
头、排线和测试插座一并更换时，将收放筒两部分拆分开来，即可将排线与收放轴分离开来，当新的排线安装于收放轴所设有的通孔内后，将收放筒两部分螺纹连接在一起，起到对排线限位效果，避免排线与收放轴分离，操作更加简便。
附图说明
[0017]为了更清楚地说明本专利技术的实施例的技术方案，下面将对实施例的附图作简单地介绍。
[0018]下面描述中的附图仅仅涉及本专利技术的一些实施例，而非对本专利技术的限制。
[0019]在附图中：图1是本专利技术的实施例的计算机配件的测试装置的整体轴侧结构示意图；图2是本专利技术的实施例的主插座与插头连接结构示意图；图3是本专利技术的实施例的主插座与插头拆分结构示意本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种计算机配件的测试装置，其特征在于，包括主插座（1）；所述主插座（1）固定在测试主板上，且主插座（1）顶部插接有插头（2）；所述插头（2）一端连接有排线（3），且排线（3）一端连接有测试插座（4）；所述主插座（1）外部连接有活动限位件（5），且活动限位件（5）与插头（2）相连，主插座（1）两侧分别安装有小弹簧（6）；收放筒（7），所述收放筒（7）内部呈中空状，且排线（3）贯穿于收放筒（7）内部；所述收放筒（7）内部连接有收放轴（8），且收放轴（8）一端位于收放筒（7）外部；所述收放筒（7）外侧连接有锁止圈（9），且锁止圈（9）与收放轴（8）相接触。2.如权利要求1所述一种计算机配件的测试装置，其特征在于：所述主插座（1）顶部两端设有卡接孔（101），插头（2）两端设有卡接钩（201），卡接钩（201）外侧底端呈凸起状，插头（2）所设有的卡接钩（201）卡接于主插座（1）所设有的卡接孔（101）内，卡接钩（201）外侧与卡接孔（101）内侧相贴。3.如权利要求2所述一种计算机配件的测试装置，其特征在于：所述活动限位件（5）滑动连接于主插座（1）外侧，活动限位件（5）顶侧与主插座（1）相接触，活动限位件（5）两侧平面分别与插头（2）所设有的两个卡接钩（201）内侧相接触。4.如权利要求1所述一种计算机配件的测试装置，其特征在于：所述主插座（1）外侧设有四个导向竖杆（102），活动限位件（5）两侧分别设有导向滑孔（501），主插座（1）所设有的导向竖杆（102）滑动贯穿于活动限位件（5）所设有的导向滑孔（501）内，小弹...
【专利技术属性】
技术研发人员：王珊，
申请(专利权)人：青岛光迅电子科技有限公司，
类型：发明
国别省市：
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