一种晶闸管级现场绝缘测试装置、方法及存储介质制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种晶闸管级现场绝缘测试装置、方法及存储介质，该装置包括放电模块、直流电压模块、转换开关模块、第一测量模块、第二测量模块以及控制模块；放电模块的一端和直流电压模块的一端连接晶闸管级试品的一端；放电模块的另一端和转换开关模块的第一输入端之间连接有第一测量模块，直流电压模块的另一端和转换开关模块的第二输入端之间连接有第二测量模块，转换开关模块的输出端连接晶闸管级试品的另一端；转换开关模块切换晶闸管级试品和直流电压模块或放电模块连接。本装置简单可靠、可获取晶闸管级的绝缘老化问题，避免了现场高压测量对设备造成损坏，能够满足工程现场的应用需求。的应用需求。的应用需求。

【技术实现步骤摘要】
一种晶闸管级现场绝缘测试装置、方法及存储介质


[0001]本专利技术涉及晶闸管级测试
，具体涉及一种晶闸管级现场绝缘测试装置、方法及存储介质。

技术介绍

[0002]换流阀是换流站的核心设备，晶闸管级是换流阀最基本的电气结构单元，具有通流容量大、耐压水平高等优点。
[0003]随着运行时间的增加，晶闸管级承受长期的电、热应力导致出现绝缘老化等缺陷，一旦多个晶闸管级故障可能导致直流系统的停运。基于此，设备运维单位定期对换流阀晶闸管级开展现场测试。
[0004]现有技术中，对晶闸管级现场测试装备没有绝缘性能的检测功能，无法识别晶闸管级出现的绝缘老化问题，无法达到提前排除查晶闸管级缺陷的要求。

技术实现思路

[0005]本专利技术的目的在于提供一种晶闸管级现场绝缘测试装置、方法及存储介质，以解决现有技术中晶闸管级现场测试装备没有绝缘性能的检测功能，无法识别晶闸管级出现的绝缘老化问题。
[0006]为达到上述目的，本专利技术是采用下述技术方案实现的：
[0007]第一方面，本专利技术公开了一种晶闸管级现场绝缘测试装置，所述装置与晶闸管级试品并联，包括放电模块、直流电压模块、转换开关模块、第一测量模块、第二测量模块以及控制模块；
[0008]所述放电模块的一端和直流电压模块的一端连接晶闸管级试品的一端；
[0009]所述放电模块的另一端和转换开关模块的第一输入端之间连接有第一测量模块，第一测量模块用于测量放电模块电压变化；
[0010]所述直流电压模块的另一端和转换开关模块的第二输入端之间连接有第二测量模块，第二测量模块用于测量直流电压模块电压变化；
[0011]所述转换开关模块的输出端连接晶闸管级试品的另一端；当转换开关模块切换为晶闸管级试品与所述直流电压模块连接时，直流电压模块向晶闸管级试品充电，当转换开关模块切换为晶闸管级试品与所述放电模块连接时，晶闸管级试品通过放电模块放电；
[0012]当所述晶闸管级试品放电时，所述控制模块根据所述第一测量模块测量的放电模块电压变化拟合出所述晶闸管级试品的试验波形，并根据所述试验波形计算出时间常数t；
[0013]所述控制模块还用于将时间常数t与时间常数标准值T进行比较，根据比较结果获取晶闸管级试品的绝缘老化信息。
[0014]进一步地，所述直流电压模块、测量模块、转换开关模块和控制模块还通过电源转换模块和外部交流电源相连接。
[0015]进一步地，所述直流电压模块、转换开关模块、第一测量模块及第二测量模块均和
控制模块信号连接。
[0016]进一步地，若时间常数t的幅值小于等于时间常数标准值T的幅值的10％，则判定晶闸管级试品正向绝缘老化或反向绝缘老化，否则判定晶闸管级试品正向绝缘合格或反向绝缘合格。
[0017]第二方面，本专利技术提供了一种晶闸管级现场绝缘测试方法，利用第一方面任一项所述装置而实现，包括：
[0018]将晶闸管级试品切换至与直流电压模块连接，对晶闸管级试品充电；
[0019]当晶闸管级试品充电至电压预设值后将晶闸管级试品切换至和放电模块连接，对晶闸管级试品放电；
[0020]当所述晶闸管级试品放电时，获取所述晶闸管级试品的试验波形，并根据所述试验波形计算出时间常数t；
[0021]将时间常数t与时间常数标准值T进行比较，根据比较结果获取晶闸管级试品的绝缘老化信息。
[0022]进一步地，若得到的时间常数t的幅值小于等于时间常数标准值T的10％，则判定晶闸管级试品正向绝缘老化或反向绝缘老化，否则判定晶闸管级试品正向绝缘合格或反向绝缘合格。
[0023]进一步地，所述时间常数t采用公式y＝y0+Ae
‑
x/t
进行拟合获得；
[0024]其中，纵坐标y为晶闸管级试品两端的直流电压，y0为晶闸管级试品的初始电压，A为斜率系数，横坐标x为时间，t为时间常数，e为自然对数的底数。
[0025]进一步地，所述晶闸管级充电的电压预设值小于晶闸管级额定电压的一半。
[0026]第三方面，本专利技术公开了计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，该程序被处理器执行时实现第二方面任一项所述方法的步骤。
[0027]第四方面，本专利技术公开了一种设备，包括：
[0028]存储器，用于存储指令；
[0029]处理器，用于执行所述指令，使得所述设备执行实现第二方面任一项所述的晶闸管级现场绝缘测试方法的操作。
[0030]根据上述技术方案，本专利技术具有以下效果：本申请设计的绝缘测试装置，转换开关模块切换晶闸管级试品与放电模块及直流电压模块的连接关系，，当晶闸管级试品放电时，控制模块根据第一测量模块测量的放电模块电压变化拟合出晶闸管级试品的试验波形，并计算出时间常数t，根据时间常数t与时间常数标准值T的比较结果可获取晶闸管级试品的绝缘老化信息；本装置简单可靠、可获取晶闸管级的绝缘老化问题，避免了现场高压测量对设备造成损坏，能够满足工程现场的应用需求。
附图说明
[0031]图1为本专利技术绝缘测试装置的示意图；
[0032]图2为本专利技术绝缘测试装置充电的示意图；
[0033]图3为本专利技术绝缘测试装置放电的示意图；
[0034]图4为本专利技术直流电压模块正向加在晶闸级的两端进行充电并放电后的波形图；
[0035]图5为本专利技术直流电压模块反向加在晶闸级的两端进行充电并放电后的波形图；
[0036]图6为本专利技术测试方法的流程图。
[0037]其中，R1、第一电阻；R
41
、第二电阻；R
41
、第三电阻R
42
；Cc1、第一电容；Cc2、第二电容；C3、第三电容C3；TCE、触发控制电路。
具体实施方式
[0038]为使本专利技术实现的技术手段、创作特征、达成目的与功效易于明白了解，下面结合具体实施方式，进一步阐述本专利技术。
[0039]实施例1
[0040]如图1至图3所示，本专利技术公开了一种晶闸管级现场绝缘测试装置，装置与晶闸管级试品并联，包括放电模块、直流电压模块、转换开关模块、第一测量模块、第二测量模块以及控制模块；放电模块的一端和直流电压模块的一端连接晶闸管级试品的一端；放电模块的另一端和转换开关模块的第一输入端之间连接有第一测量模块，第一测量模块用于测量放电模块电压变化；直流电压模块的另一端和转换开关模块的第二输入端之间连接有第二测量模块，第二测量模块用于测量直流电压模块电压变化；转换开关模块的输出端连接晶闸管级试品的另一端；当转换开关模块切换为晶闸管级试品与直流电压模块连接时，直流电压模块向晶闸管级试品充电，当转换开关模块切换为晶闸管级试品与放电模块连接时，晶闸管级试品通过放电模块放电；当晶闸管级试品放电时，控制模块根据第一测量模块测量的放电模块电压变化拟合出晶闸管级试品的试验波形，并根据试验波形计算出时间常数t；控制模块还用于将时间常数t与时间本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种晶闸管级现场绝缘测试装置，所述装置与晶闸管级试品并联，其特征在于，包括放电模块、直流电压模块、转换开关模块、第一测量模块、第二测量模块以及控制模块；所述放电模块的一端和直流电压模块的一端连接晶闸管级试品的一端；所述放电模块的另一端和转换开关模块的第一输入端之间连接有第一测量模块，第一测量模块用于测量放电模块电压变化；所述直流电压模块的另一端和转换开关模块的第二输入端之间连接有第二测量模块，第二测量模块用于测量直流电压模块电压变化；所述转换开关模块的输出端连接晶闸管级试品的另一端；当转换开关模块切换为晶闸管级试品与所述直流电压模块连接时，直流电压模块向晶闸管级试品充电，当转换开关模块切换为晶闸管级试品与所述放电模块连接时，晶闸管级试品通过放电模块放电；当所述晶闸管级试品放电时，所述控制模块根据所述第一测量模块测量的放电模块电压变化拟合出所述晶闸管级试品的试验波形，并根据所述试验波形计算出时间常数t；所述控制模块还用于将时间常数t与时间常数标准值T进行比较，根据比较结果获取晶闸管级试品的绝缘老化信息。2.根据权利要求1所述的晶闸管级现场绝缘测试装置，其特征在于，所述直流电压模块、测量模块、转换开关模块和控制模块还通过电源转换模块和外部交流电源相连接。3.根据权利要求1所述的晶闸管级现场绝缘测试装置，其特征在于，所述直流电压模块、转换开关模块、第一测量模块及第二测量模块均和控制模块信号连接。4.根据权利要求1所述的晶闸管级现场绝缘测试装置，其特征在于，若时间常数t的幅值小于等于时间常数标准值T的幅值的10％，则判定晶闸管级试品正向绝缘老化或反向绝缘老化，否则判定晶闸管级试品正向绝缘合格或反向绝缘合格...

【专利技术属性】
技术研发人员：徐阳，陶风波，张照辉，庞磊，
申请(专利权)人：国网江苏省电力有限公司，
类型：发明
国别省市：