显示屏的缺陷检测方法、装置及电子设备制造方法及图纸

本申请适用于显示技术领域，提供了一种显示屏的缺陷检测方法、装置及电子设备，所述缺陷检测方法包括：获取多个灰阶下的显示屏图像；根据所述多个灰阶下的显示屏图像的光学数据，检测所述显示屏的多种缺陷，所述光学数据包括亮度数据和色度数据中的至少一个。上述方案通过获取多个灰阶下的显示屏图像进行缺陷检测，检测出针对显示屏的多种类型的缺陷，扩大了缺陷检测范围，提高了显示屏缺陷检测的准确性。确性。确性。

【技术实现步骤摘要】
显示屏的缺陷检测方法、装置及电子设备


[0001]本申请属于显示
，尤其涉及一种显示屏的缺陷检测方法、装置及电子设备。

技术介绍

[0002]显示屏在现代电子设备中被广泛应用，而显示屏的质量问题是影响其性能和使用寿命的重要因素之一。为了保证显示屏的质量，对显示屏的缺陷检测成为了显示屏生产过程中不可缺少的一环。
[0003]相关技术中，在对显示屏进行缺陷检测时，往往针对单一缺陷进行检测，而不能检测出多种缺陷，比如，一些现有的方法仅仅能够检测出亮度不均或者坏点等缺陷，而无法检测出其他类型的缺陷，导致缺陷检测的准确性较差。

技术实现思路

[0004]本申请实施例提供了一种显示屏的缺陷检测方法、装置及电子设备，可以提升缺陷检测的准确性。
[0005]本申请实施例的第一方面提供了一种显示屏的缺陷检测方法，缺陷检测方法包括：
[0006]获取多个灰阶下的显示屏图像；
[0007]根据多个灰阶下的显示屏图像的光学数据，检测显示屏的多种缺陷，光学数据包括亮度数据和色度数据中的至少一个。<br/>[0008]本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种显示屏的缺陷检测方法，其特征在于，所述缺陷检测方法包括：获取多个灰阶下的显示屏图像；根据所述多个灰阶下的显示屏图像的光学数据，检测所述显示屏的多种缺陷，所述光学数据包括亮度数据和色度数据中的至少一个。2.如权利要求1所述的缺陷检测方法，其特征在于，所述多个灰阶至少包括第一灰阶和第二灰阶，所述第一灰阶小于或等于灰阶阈值，所述第二灰阶大于所述灰阶阈值；所述显示屏的多种缺陷至少包括与所述第一灰阶对应的第一缺陷以及与所述第二灰阶对应的第二缺陷。3.如权利要求2所述的缺陷检测方法，其特征在于，所述根据所述多个灰阶下的显示屏图像的光学数据，检测所述显示屏的多种缺陷，包括：获取第一显示屏图像中每个灯点的光学数据，所述第一显示屏图像是指所述显示屏在所述第一灰阶下显示的显示屏图像；根据每个灯点对应邻域范围内包括的灯点的光学数据，确定所述第一显示屏图像中灯点的第一基准光学数据；将所述每个灯点的光学数据与所述第一基准光学数据进行对比，确定与所述第一基准光学数据之间的光学差异大于第一预设阈值的灯点为所述显示屏的第一缺陷。4.如权利要求2所述的缺陷检测方法，其特征在于，所述根据所述多个灰阶下的显示屏图像的光学数据，检测所述显示屏的多种缺陷，还包括：获取第二显示屏图像中每个灯点的光学数据，所述第二显示屏图像是指所述显示屏在所述第二灰阶下显示的显示屏图像；根据每个灯点对应邻域范围内包括的灯点的光学数据，确定所述第二显示屏图像中灯点的第二基准光学数据；将所述每个灯点的光学数据与所述第二基准光学数据进行对比，确定与所述第二基准光学数据之间的光学差异在第二预设阈值范围内的灯点为所述显示屏的第二缺陷。5.如权利要求1至4任一项所述的缺陷检测方法，其特征在于，在所述根据所述多个灰阶下的显示屏图像的光学数据，检测所述显示屏的多种缺陷之前，还包括：对所述显示屏图像进行图像预处理，以使...

【专利技术属性】
技术研发人员：李鹏鹏，杨城，白绳武，程甲一，樊兴旺，
申请(专利权)人：西安诺瓦星云科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：