显示屏的缺陷检测方法、装置及电子设备制造方法及图纸

本申请适用于显示技术领域，提供了一种显示屏的缺陷检测方法、装置及电子设备，所述缺陷检测方法包括：获取多个灰阶下的显示屏图像；根据所述多个灰阶下的显示屏图像的光学数据，检测所述显示屏的多种缺陷，所述光学数据包括亮度数据和色度数据中的至少一个。上述方案通过获取多个灰阶下的显示屏图像进行缺陷检测，检测出针对显示屏的多种类型的缺陷，扩大了缺陷检测范围，提高了显示屏缺陷检测的准确性。确性。确性。

【技术实现步骤摘要】
显示屏的缺陷检测方法、装置及电子设备


[0001]本申请属于显示
，尤其涉及一种显示屏的缺陷检测方法、装置及电子设备。

技术介绍

[0002]显示屏在现代电子设备中被广泛应用，而显示屏的质量问题是影响其性能和使用寿命的重要因素之一。为了保证显示屏的质量，对显示屏的缺陷检测成为了显示屏生产过程中不可缺少的一环。
[0003]相关技术中，在对显示屏进行缺陷检测时，往往针对单一缺陷进行检测，而不能检测出多种缺陷，比如，一些现有的方法仅仅能够检测出亮度不均或者坏点等缺陷，而无法检测出其他类型的缺陷，导致缺陷检测的准确性较差。

技术实现思路

[0004]本申请实施例提供了一种显示屏的缺陷检测方法、装置及电子设备，可以提升缺陷检测的准确性。
[0005]本申请实施例的第一方面提供了一种显示屏的缺陷检测方法，缺陷检测方法包括：
[0006]获取多个灰阶下的显示屏图像；
[0007]根据多个灰阶下的显示屏图像的光学数据，检测显示屏的多种缺陷，光学数据包括亮度数据和色度数据中的至少一个。
[0008]可选地，在第一方面的一种可能的实现方式中，多个灰阶至少包括第一灰阶和第二灰阶，第一灰阶小于或等于灰阶阈值，第二灰阶大于灰阶阈值；显示屏的多种缺陷至少包括与第一灰阶对应的第一缺陷以及与第二灰阶对应的第二缺陷。
[0009]可选地，在第一方面的一种可能的实现方式中，根据多个灰阶下的显示屏图像的光学数据，检测显示屏的多种缺陷，包括：
[0010]获取第一显示屏图像中每个灯点的光学数据，第一显示屏图像是指显示屏在第一灰阶下显示的显示屏图像；
[0011]根据每个灯点对应邻域范围内包括的灯点的光学数据，确定第一显示屏图像中灯点的第一基准光学数据；
[0012]将每个灯点的光学数据与第一基准光学数据进行对比，确定与第一基准光学数据之间的光学差异大于第一预设阈值的灯点为显示屏的第一缺陷。
[0013]可选地，在第一方面的一种可能的实现方式中，根据多个灰阶下的显示屏图像的光学数据，检测显示屏的多种缺陷，还包括：
[0014]获取第二显示屏图像中每个灯点的光学数据，第二显示屏图像是指显示屏在第二灰阶下显示的显示屏图像；
[0015]根据每个灯点对应邻域范围内包括的灯点的光学数据，确定第二显示屏图像中灯
点的第二基准光学数据；
[0016]将每个灯点的光学数据与第二基准光学数据进行对比，确定与第二基准光学数据之间的光学差异在第二预设阈值范围内的灯点为显示屏的第二缺陷。
[0017]可选地，在第一方面的一种可能的实现方式中，在根据多个灰阶下的显示屏图像的光学数据，检测显示屏的多种缺陷之前，还包括：
[0018]对显示屏图像进行图像预处理，以使显示屏图像中处于第一点亮状态的灯点的成像亮度大于预设亮度；其中第一点亮状态的灯点根据灯点的成像亮度确定。
[0019]可选地，在第一方面的一种可能的实现方式中，显示屏图像中处于第一点亮状态的灯点的成像亮度大于预设亮度，第一点亮状态的灯点根据灯点的成像亮度确定，显示屏图像在采集设备的采集参数对应调整为预设参数值时进行获取。
[0020]可选地，在第一方面的一种可能的实现方式中，显示屏图像为显示屏在第二灰阶下进行隔点显示的图像；根据多个灰阶下的显示屏图像的光学数据，检测显示屏的多种缺陷，还包括：
[0021]根据显示屏图像中每个灯点对应邻域范围内包括的灯点的光学数据，确定显示屏图像中灯点的第三基准光学数据；
[0022]若检测到隔点显示的灯点的光学数据与第三基准光学数据的光学差异在第三预设阈值范围内，则确定该隔点显示的灯点为显示屏的第二缺陷；和/或
[0023]若检测到隔点未显示的灯点的光学数据大于第四预设阈值，则确定该隔点未显示的灯点为显示屏的第二缺陷。
[0024]可选地，在第一方面的一种可能的实现方式中，根据多个灰阶下的显示屏图像的光学数据，检测显示屏的多种缺陷，还包括：
[0025]提取多个灰阶下的显示屏图像中每个灯点的中心亮色度数据；
[0026]根据每个灯点的中心亮色度数据，检测显示屏的多种缺陷。
[0027]本申请实施例的第二方面提供了一种显示屏的缺陷检测装置，缺陷检测装置包括：
[0028]图像获取模块，用于获取多个灰阶下的显示屏图像；
[0029]缺陷检测模块，用于根据多个灰阶下的显示屏图像的光学数据，检测显示屏的多种缺陷，光学数据包括亮度数据和色度数据中的至少一个。
[0030]本申请实施例的第三方面提供了一种电子设备，包括：存储器、处理器以及存储在存储器中并可在处理器上运行的计算机程序，处理器执行计算机程序时实现上述第一方面提供的显示屏的缺陷检测方法。
[0031]本申请实施例的第四方面提供了一种计算机可读存储介质，计算机可读存储介质存储有计算机程序，计算机程序被处理器执行时实现上述第一方面提供的显示屏的缺陷检测方法。
[0032]本申请实施例的第五方面提供了一种计算机程序产品，当计算机程序产品在电子设备上运行时，使得电子设备执行上述第一方面提供的显示屏的缺陷检测方法。
[0033]本申请实施例与现有技术相比存在的有益效果是：
[0034]本申请实施例通过获取多个灰阶下的显示屏图像，可以得到多个灰阶下显示屏图像的光学数据，根据多个灰阶下显示屏图像的光学数据，对显示屏进行缺陷检测，可以检测
出针对显示屏的多种类型的缺陷，通过扩大缺陷检测范围，提高了显示屏缺陷检测的准确性。
附图说明
[0035]为了更清楚地说明本申请实施例中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0036]图1是本申请实施例提供的一种显示屏的缺陷检测方法的流程示意图；
[0037]图2是本申请实施例提供的第一缺陷的检测流程示意图；
[0038]图3是本申请实施例提供的第二缺陷的检测流程示意图；
[0039]图4是本申请实施例提供的一种显示屏的缺陷检测装置的结构示意图；
[0040]图5是本申请实施例提供的一种电子设备的结构示意图。
具体实施方式
[0041]以下描述中，为了说明而不是为了限定，提出了诸如特定系统结构、技术之类的具体细节，以便透彻理解本申请实施例。然而，本领域的技术人员应当清楚，在没有这些具体细节的其它实施例中也可以实现本申请。在其它情况中，省略对众所周知的系统、装置、电路以及方法的详细说明，以免不必要的细节妨碍本申请的描述。
[0042]应当理解，当在本申请说明书和所附权利要求书中使用时，术语“包括”指示所描述特征、整体、步骤、操作、元素和/或组件的存在，但并不排除一个或多个其它特征、整体、步骤、操作、元素、组件和/或其本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种显示屏的缺陷检测方法，其特征在于，所述缺陷检测方法包括：获取多个灰阶下的显示屏图像；根据所述多个灰阶下的显示屏图像的光学数据，检测所述显示屏的多种缺陷，所述光学数据包括亮度数据和色度数据中的至少一个。2.如权利要求1所述的缺陷检测方法，其特征在于，所述多个灰阶至少包括第一灰阶和第二灰阶，所述第一灰阶小于或等于灰阶阈值，所述第二灰阶大于所述灰阶阈值；所述显示屏的多种缺陷至少包括与所述第一灰阶对应的第一缺陷以及与所述第二灰阶对应的第二缺陷。3.如权利要求2所述的缺陷检测方法，其特征在于，所述根据所述多个灰阶下的显示屏图像的光学数据，检测所述显示屏的多种缺陷，包括：获取第一显示屏图像中每个灯点的光学数据，所述第一显示屏图像是指所述显示屏在所述第一灰阶下显示的显示屏图像；根据每个灯点对应邻域范围内包括的灯点的光学数据，确定所述第一显示屏图像中灯点的第一基准光学数据；将所述每个灯点的光学数据与所述第一基准光学数据进行对比，确定与所述第一基准光学数据之间的光学差异大于第一预设阈值的灯点为所述显示屏的第一缺陷。4.如权利要求2所述的缺陷检测方法，其特征在于，所述根据所述多个灰阶下的显示屏图像的光学数据，检测所述显示屏的多种缺陷，还包括：获取第二显示屏图像中每个灯点的光学数据，所述第二显示屏图像是指所述显示屏在所述第二灰阶下显示的显示屏图像；根据每个灯点对应邻域范围内包括的灯点的光学数据，确定所述第二显示屏图像中灯点的第二基准光学数据；将所述每个灯点的光学数据与所述第二基准光学数据进行对比，确定与所述第二基准光学数据之间的光学差异在第二预设阈值范围内的灯点为所述显示屏的第二缺陷。5.如权利要求1至4任一项所述的缺陷检测方法，其特征在于，在所述根据所述多个灰阶下的显示屏图像的光学数据，检测所述显示屏的多种缺陷之前，还包括：对所述显示屏图像进行图像预处理，以使...

【专利技术属性】
技术研发人员：李鹏鹏，杨城，白绳武，程甲一，樊兴旺，
申请(专利权)人：西安诺瓦星云科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：