用于ADC芯片的FPGA验证方法、装置、设备及介质制造方法及图纸

本发明专利技术涉及验证测试领域，尤其涉及一种用于ADC芯片的FPGA验证方法、装置、设备及介质。所述方法包括：在FPGA中搭建中央处理器、ADC控制器、ADC验证模块、接口监控模块以及内存；利用ADC验证模块从ADC芯片获取采样数据；利用ADC控制器从ADC验证模块获取采样数据；利用接口监控模块采样ADC控制器与ADC验证模块之间的接口时序数据；利用中央处理器从ADC控制器获取采样数据并写入内存生成第一文件，以及获取接口时序数据并写入内存以生成第二文件；在上位机中运行分析软件并使用分析软件从内存获取第一文件和第二文件并进行分析以判定ADC控制器采样是否正确。本发明专利技术的方案提高FPGA验证效率。证效率。证效率。

【技术实现步骤摘要】
用于ADC芯片的FPGA验证方法、装置、设备及介质


[0001]本专利技术涉及验证测试领域，尤其涉及一种用于ADC芯片的FPGA验证方法、装置、设备及介质。

技术介绍

[0002]服务器基板管理控制器(Baseboard Management Controller，简称BMC)中的模拟数字转换器(Analog to Digital Converter，简称ADC)，用于BMC采集服务器主板上的一些电压信号。实现对一些关键电源的实时监控，辅助服务器管理系统对服务器的安全管理。
[0003]在芯片设计的FPGA验证阶段，由于ADC知识产权(Intellectual Property core，简称IP)为外购模拟硬核，无法进行ADC完整模块的FPGA验证，只能验证外围数字控制部分程序。在验证过程中，需要检验被验证程序工作是否正常，一方面采用抓取内部信号的方式，观测信号波形是否符合设计规范。另一方面通过软件查看采样数据是否正确。当长时间测试时，如果发生错误，需要复现错误并找到问题原因，需要花费大量的时间定位问题。

技术实现思路

[0004]有鉴于此，有必要针对以上技术问题，提供一种用于ADC芯片的FPGA验证方法、装置、设备及介质。
[0005]根据本专利技术的第一方面，提供了一种用于ADC芯片的FPGA验证方法，所述方法包括：
[0006]在FPGA中搭建中央处理器、ADC控制器、ADC验证模块、接口监控模块以及内存；
[0007]利用所述ADC验证模块从ADC芯片获取采样数据；
[0008]利用所述ADC控制器从所述ADC验证模块获取采样数据；
[0009]利用所述接口监控模块采样所述ADC控制器与所述ADC验证模块之间的接口时序数据；
[0010]利用所述中央处理器从所述ADC控制器获取所述采样数据并写入内存生成第一文件，以及从所述接口监控模块获取所述接口时序数据并写入内存以生成第二文件；
[0011]在上位机中运行分析软件，并使用所述分析软件从所述内存获取第一文件和第二文件并进行分析以判定所述ADC控制器采样是否正确。
[0012]在一些实施例中，所述方法还包括：
[0013]利用所述ADC验证模块在内部通过软件算法产生的数据作为采样数据。
[0014]在一些实施例中，所述使用所述分析软件从所述内存获取第一文件和第二文件并进行分析以判定所述ADC控制器采样是否正确，包括：
[0015]将所述第二文件中的接口时序数据与ADC接口规范进行比对以判断所述ADC验证模块和所述ADC控制器之间的接口访问是否正确；
[0016]响应于所述ADC验证模块和所述ADC控制器之间的接口访问正确，则从所述第二文件中的接口时序数据提取采样数据，并将提取的采样数据与所述第一文件中的采样数据进
行比对；
[0017]响应于提取的采样数据与所述第一文件中的采样数据相同，则确认从所述ADC控制器采样正确。
[0018]在一些实施例中，所述使用所述分析软件从所述内存获取第一文件和第二文件并进行分析以判定所述ADC控制器采样是否正确，进一步还包括：
[0019]响应于采样数据为所述ADC验证模块在内部通过软件算法产生的数据，则将所述软件算法移植到所述分析软件中；
[0020]在所述分析软件中使用所述软件算法生成数据，并判断所述生成数据与所述第一文件中的采样数据是否相同；
[0021]响应于所述生成数据与所述第一文件中的采样数据相同，则确认从所述ADC控制器采样正确。
[0022]在一些实施例中，所述将所述第二文件中的接口时序数据与ADC接口规范进行比对以判断所述ADC验证模块和所述ADC控制器之间的接口访问是否正确，包括：
[0023]根据所述第二文件中的接口时序数据恢复出用于描述ADC控制器工作过程中的ADC数字接口时序图；
[0024]根据所述ADC数字接口时序图计算出所有数字接口信号间的相对变化时间差值，以得到实际工作中的信号时序；
[0025]将所述实际工作中的信号时序与ADC接口规范中的要求对比；
[0026]响应于实际工作中的信号时序符合ADC接口规范中的要求，则确认所述ADC验证模块和所述ADC控制器之间的接口访问正确；
[0027]响应于实际工作中的信号时序违反ADC接口规范中的要求，则确认所述ADC验证模块和所述ADC控制器之间的接口访问不正确，并绘制并输出违反规范时的时序图。
[0028]在一些实施例中，所述ADC芯片为基板管理控制器中的模拟数字转换器。
[0029]在一些实施例中，所述模拟数字转换器用于采集服务器主板上的电压信号。
[0030]根据本专利技术的第二方面，提供了一种用于ADC芯片的FPGA验证装置，所述装置包括：
[0031]搭建单元，配置用于在FPGA中搭建中央处理器、ADC控制器、ADC验证模块、接口监控模块以及内存；
[0032]第一获取单元，配置用于利用所述ADC验证模块从ADC芯片获取采样数据；
[0033]第二获取单元，配置用于利用所述ADC控制器从所述ADC验证模块获取采样数据；
[0034]采样单元，配置用于利用所述接口监控模块采样所述ADC控制器与所述ADC验证模块之间的接口时序数据；
[0035]写入单元，配置用于利用所述中央处理器从所述ADC控制器获取所述采样数据并写入内存生成第一文件，以及从所述接口监控模块获取所述接口时序数据并写入内存以生成第二文件；
[0036]分析单元，配置用于在上位机中运行分析软件，并使用所述分析软件从所述内存获取第一文件和第二文件并进行分析以判定所述ADC控制器采样是否正确。
[0037]根据本专利技术的第三方面，还提供了一种计算机设备，该计算机设备包括：
[0038]至少一个处理器；以及
[0039]存储器，存储器存储有可在处理器上运行的计算机程序，处理器执行程序时执行前述的用于ADC芯片的FPGA验证方法。
[0040]根据本专利技术的第四方面，还提供了一种计算机可读存储介质，计算机可读存储介质存储有计算机程序，计算机程序被处理器执行时执行前述的用于ADC芯片的FPGA验证方法。
[0041]上述一种用于ADC芯片的FPGA验证方法，通过在FPGA内部增加监控模块不间断采样内部信号并保存为时序文件，通过专用软件分析时序文件，帮助设计人员判断ADC控制器是否正常工作，并可快读定位问题出现的位置和状态，帮助设计人员排查问题，提高FPGA验证工作的效率。
[0042]此外，本专利技术还提供了一种用于ADC芯片的FPGA验证装置、一种计算机设备和一种计算机可读存储介质，同样能实现上述技术效果，这里不再赘述。
附图说明
[0043]为了更清楚地说明本专利技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种用于ADC芯片的FPGA验证方法，其特征在于，所述方法包括；在FPGA中搭建中央处理器、ADC控制器、ADC验证模块、接口监控模块以及内存；利用所述ADC验证模块从ADC芯片获取采样数据；利用所述ADC控制器从所述ADC验证模块获取采样数据；利用所述接口监控模块采样所述ADC控制器与所述ADC验证模块之间的接口时序数据；利用所述中央处理器从所述ADC控制器获取所述采样数据并写入内存生成第一文件，以及从所述接口监控模块获取所述接口时序数据并写入内存以生成第二文件；在上位机中运行分析软件，并使用所述分析软件从所述内存获取第一文件和第二文件并进行分析以判定所述ADC控制器采样是否正确。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：利用所述ADC验证模块在内部通过软件算法产生的数据作为采样数据。3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述使用所述分析软件从所述内存获取第一文件和第二文件并进行分析以判定所述ADC控制器采样是否正确，包括：将所述第二文件中的接口时序数据与ADC接口规范进行比对以判断所述ADC验证模块和所述ADC控制器之间的接口访问是否正确；响应于所述ADC验证模块和所述ADC控制器之间的接口访问正确，则从所述第二文件中的接口时序数据提取采样数据，并将提取的采样数据与所述第一文件中的采样数据进行比对；响应于提取的采样数据与所述第一文件中的采样数据相同，则确认从所述ADC控制器采样正确。4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述使用所述分析软件从所述内存获取第一文件和第二文件并进行分析以判定所述ADC控制器采样是否正确，进一步还包括：响应于采样数据为所述ADC验证模块在内部通过软件算法产生的数据，则将所述软件算法移植到所述分析软件中；在所述分析软件中使用所述软件算法生成数据，并判断所述生成数据与所述第一文件中的采样数据是否相同；响应于所述生成数据与所述第一文件中的采样数据相同，则确认从所述ADC控制器采样正确。5.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述将所述第二文件中的接口时序数据与ADC接口规范进行比对以判断所述ADC验证模块和所述ADC控制器之间的接口访问是否正...

【专利技术属性】
技术研发人员：李默，
申请(专利权)人：山东云海国创云计算装备产业创新中心有限公司，
类型：发明
国别省市：