处理中断事件的方法、装置、系统和存储介质制造方法及图纸

技术编号:38156945 阅读:32 留言:0更新日期:2023-07-13 09:26
本申请提供处理中断事件的方法,包括:运行第一线程以从多个可编程逻辑器件的一个接收中断数据;经由第一线程在第一队列中存储中断数据并唤醒第二线程;响应于在第一队列不为空,经由第二线程读取第一队列的队首处的第一中断数据,以确定与第一中断数据对应的第一可编程逻辑器件的第一标识和第一中断类型;经由第二线程确定第二队列是否为空,其中第二队列与第一中断类型对应;响应于第二队列不为空,经由第二线程在第二队列中查找第一标识;响应于第二队列中查找到第一标识,经由第二线程从第二队列中移除第一标识;经由第二线程再次确定第二队列是否为空;响应于第二队列为空,经由第二线程根据第一中断数据处理多个可编程逻辑器件的中断事件。逻辑器件的中断事件。逻辑器件的中断事件。

【技术实现步骤摘要】
处理中断事件的方法、装置、系统和存储介质


[0001]本申请涉及芯片验证
,尤其涉及一种处理多个可编程逻辑器件的中断事件的方法、装置、系统和存储介质。

技术介绍

[0002]仿真工具(例如,原型验证板或硬件仿真工具(emulator))可以原型化(prototype)并且调试一个包括一个或多个模块的逻辑系统设计。所述逻辑系统设计可以是,例如,用于供专门应用的集成电路(ApplicationSpecificIntegratedCircuit,简称ASIC)或者片上系统芯片(System

On

Chip,简称SOC)的设计。因此,在仿真工具中被测试的逻辑系统设计又可以称为待测设计(DesignUnderTest,简称DUT)。仿真工具可以包括一个或多个可编程逻辑器件(例如,现场可编程逻辑门阵列(FieldProgrammableGateArray,简称FPGA)),用来仿真该待测设计,包括执行该待测设计的各种操作,从而在制造之前就测试并验证待测设计的各个模块的功能。通过在仿真工具上外接多种外设子卡还可以本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种处理多个可编程逻辑器件的中断事件的方法,包括:运行第一线程以从所述多个可编程逻辑器件的一个接收中断数据;经由所述第一线程在第一队列中存储所述中断数据并且唤醒第二线程;响应于在所述第一队列不为空,经由所述第二线程读取所述第一队列的队首处的第一中断数据,以确定与所述第一中断数据对应的第一可编程逻辑器件的第一标识和第一中断类型;经由所述第二线程确定第二队列是否为空,其中所述第二队列与所述第一中断类型对应;响应于所述第二队列不为空,经由所述第二线程在所述第二队列中查找所述第一标识;响应于所述第二队列中查找到所述第一标识,经由所述第二线程从所述第二队列中移除所述第一标识;经由所述第二线程再次确定所述第二队列是否为空;响应于所述第二队列为空,经由所述第二线程根据所述第一中断数据处理所述多个可编程逻辑器件的中断事件。2.如权利要求1所述的方法,其中,所述方法进一步包括:响应于所述第二队列为空,经由所述第二线程分别获取所述多个可编程逻辑器件的多个标识并将所述多个标识存储到所述第二队列中。3.如权利要求1所述的方法,其中,经由所述第二线程分别获取所述多个可编程逻辑器件的多个标识并将所述多个标识存储到所述第二队...

【专利技术属性】
技术研发人员:伍阳顾晓峰顾晓光高新宇郑成赵利徐欣
申请(专利权)人:芯华章科技北京有限公司
类型:发明
国别省市:

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