一种超声波卷径测量系统技术方案

本实施例提供的一种超声波卷径测量系统，包括依序连接的MCU、升压电路、超声波发射器、超声波接收器、带通滤波电路和信号放大电路；所述信号放大电路还与所述MCU连接。还可以增加设置指数放大器，以在一定程度上提高测量结果的精准度；还可以增加设置温度补偿模块，以消除环境温度对超声波的影响，提高信号采集结果的准确度；还可以通过设置485通讯模块直接读取出卷径大小，不仅省去AD模块的设置，而且读取更便捷高效，也便于对内部功能进行配置。本实用新型专利技术的具有卷径测量测量精度高，卷径实时测量不滞后，简单实用，体积小等优点。体积小等优点。体积小等优点。

【技术实现步骤摘要】
一种超声波卷径测量系统


[0001]本技术涉及数据测量领域，具体涉及一种超声波卷径测量系统。

技术介绍

[0002]印刷包装材料的卷材张力控制需要实时测量卷径大小，以根据卷径大小给出合适张力大小，从而实现材料不被拉伸，不变形。
[0003]传统的几种卷径测量设备存在以下不足：
[0004]第一种卷径测量设备，需要手动测量并输入初始卷径和材料厚度，计卷也需逐步递增；如此，便存在操作麻烦以及输入卷材厚度可能不准确引起卷径不准的问题。
[0005]第二种卷径测量设备，采用牵引加装编码器，收卷计圈；由于卷径测量需要加装编码器，卷材必须旋转1圈才能测量出来，有些滞后。

技术实现思路

[0006]本技术所要解决的技术问题是：提供一种超声波卷径测量系统，解决操作繁琐、卷径测量滞后以及测量精度不高问题。
[0007]为了解决上述技术问题，本技术采用的技术方案为：
[0008]一种超声波卷径测量系统，包括依序连接的MCU、升压电路、超声波发射器、超声波接收器、带通滤波电路和信号放大电路；所述信号放大电路还与所述本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种超声波卷径测量系统，其特征在于，包括依序连接的MCU、升压电路、超声波发射器、超声波接收器、带通滤波电路和信号放大电路；所述信号放大电路还与所述MCU连接。2.如权利要求1所述的一种超声波卷径测量系统，其特征在于，还包括指数放大器；所述带通滤波电路经由所述指数放大器与所述信号放大电路连接。3.如权利要求1所述的一种超声波卷径测量系统，其特征在于，还包括温度补偿模块；所述温度补偿模块与所述MCU连接。4.如权利要求3所述的一种超声波卷径测量系统，其特征在于，所述温度补偿模块包括TEMP接口、VDD接口、电阻R34、电阻R35、电阻R36、电容C6、电容C16和MF58热敏电阻；所述TEMP接口和所述VD...

【专利技术属性】
技术研发人员：请求不公布姓名，
申请(专利权)人：厦门威视控科技有限公司，
类型：新型
国别省市：