光器件内部电路性能的测试装置制造方法及图纸

本申请公开了光器件内部电路性能的测试装置，属于光器件测试技术领域，一种光器件内部电路性能的测试装置，包括：控制模块、测量仪表以及测试电路板；其中，控制模块分别与测量仪表和测试电路板信号连接，测量仪表与测试电路板信号连接。控制模块控制测量仪表对安装在测试电路板上的待测试光器件，依次进行电阻、单向导电性以及结电容的功能测试；其中，测试电路板上设置有多个CR接口，CR接口的数量大于待测试光器件上IO接口的数量，CR接口一端连接至测量仪表，另一端连接至IO接口，且每个CR接口均设置有切换开关，控制模块控制切换开关的闭合以形成测试回路。闭合以形成测试回路。闭合以形成测试回路。

【技术实现步骤摘要】
光器件内部电路性能的测试装置


[0001]本申请涉及光器件检测
，具体而言，涉及一种光器件内部电路性能的测试装置。

技术介绍

[0002]光器件内TEC,RTH,LD,PD等光电组件，装配完成后，上电前需要对各个组件的性能进行判定，确认无误后再做电性能和光性能测定。避免人为原因导致电性能测定时烧坏组件，引起其他关联组件损毁造成损失。
[0003]现有技术中，人工采样测试仪表对光器件进行逐一测试，根据仪表测试的数据，判断测试是否合格。但是，这种测试方法非常繁琐，需要工人依次对所有的IO端口所形成的回路进行多项检测，在实践中，很容易出现漏检的情况。
[0004]而现有的测试仪表，通常只有接入口和接出口，虽然可以采用电脑记录数据，采用人工或者自动化的方式将待测试光器件的IO端口依次连接到测试仪表上，但是这种检测方式需要频繁的连接和断开测试仪表，也就是在更换待测试光器件检测的IO端口时，需要先将测试仪表的输出端与接出端之间的线路先断开，然后等测试仪表的接触端和待测试光器件的IO端口连接之后，在闭合测试仪表的输出端和接触端，避免在更本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种光器件内部电路性能的测试装置，其特征在于，包括：控制模块、测量仪表以及测试电路板；其中，控制模块分别与测量仪表和测试电路板信号连接，测量仪表与测试电路板信号连接，控制模块控制测量仪表对安装在测试电路板上的待测试光器件，依次进行电阻、单向导电性以及结电容的功能测试；测试电路板上设置有多个CR接口，CR接口的数量大于待测试光器件上IO接口的数量，CR接口一端连接至测量仪表，另一端连接至IO接口，且每个CR接口均设置有切换开关，控制模块控制切换开关的闭合以形成测试回路。2.根据权利要求1所述的光器件内部电路性能的测试装置，其特征在于：CR接口的数量大于待测试光器件上IO接口的数量。3.根据权利要求1所述的光器件内部电路性能的测试装置，其特征在于：测量仪表至少包括接入点和接出...

【专利技术属性】
技术研发人员：刘伟，姚娜，田熙，
申请(专利权)人：成都光创联科技有限公司，
类型：新型
国别省市：