ENDC测试装置和测试系统制造方法及图纸

本实用新型专利技术公开了一种ENDC测试装置和测试系统。其中，ENDC测试装置包括：NR测试仪、LTE测试仪、第一功分器和第二功分器。第一功分器的输入端与待测设备ENDC下NR的天线端口连接，第一功分器的第一输出端与NR测试仪连接。第二功分器的第一输入端与待测设备ENDC下LTE的天线端口连接，第二功分器的第二输入端与第一功分器的第二输出端连接，第二功分器的输出端与LTE测试仪连接。本实用新型专利技术通过更换原有功分器的连接方式，增大了LTE与NR间的发射隔离度，避免了LTE与NR两个频段的信号合并到一路而发生互相干扰，减小对测试结果的影响，从而，提高测试结果的准确度。测试结果的准确度。测试结果的准确度。

【技术实现步骤摘要】
ENDC测试装置和测试系统


[0001]本技术涉及通信
，尤其是涉及一种ENDC测试装置和测试系统。

技术介绍

[0002]在Option3(5G基站与4G核心网之间的接口协议)系列的非独立组网(NSA，Non
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Standalone)架构下，4G核心网对接的5G基站即EN
‑
GNB。这种架构由于是4G ENB(TheeNBfunction，演进型基站功能)(称为E)和5G NR(New Radio，新空口)(称为N)的双连接(DC，Dual Connection)，并且4G ENB为锚点，此为NSA也就是ENDC(ENB NR Dual Connection)。
[0003]在目前的电子设备方案中，会有很多种ENDC的组合，由于天线口、PA、供电等等方案的限制，在研发测试阶段中，测试ENDC时，若未出现测试端口切换的情况，可使用直连的方法，即LTE(Long
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Term Evolution，通用移动通信技术的长期演进)的天线端口连接LTE测试仪，NR的天线端口连接NR测试仪，直接进行ENDC相关测试。但是，遇到端口切换的情况时，则会使用功分器进行连接测试，由于是双输入双输出，一般会采用公共端对接的方式进行连接测试，如图1所示，此种连接方式会使LTE与NR两个频段的信号合并到一路，难免会出现互相干扰的情况，可能会导致相关射频指标测试失败，如EVM(Error Vector Magnitude，误差向量幅度)的测试。

技术实现思路

[0004]本技术旨在至少解决现有技术中存在的技术问题之一。为此，本技术的一个目的在于提出一种ENDC测试装置。该ENDC测试装置可以避免LTE与NR两个频段的信号合并到一路而出现互相干扰的情况，增大了LTE与NR间的发射隔离度，降低对部分频段的测试结果的影响，提高ENDC测试结果的准确度。
[0005]本技术的第二个目的在于提出一种测试系统。
[0006]为了达到上述目的，本技术第一方面实施例的ENDC测试装置，包括：NR测试仪和LTE测试仪；第一功分器，所述第一功分器的输入端与待测设备ENDC下NR的天线端口连接，所述第一功分器的第一输出端与所述NR测试仪连接；第二功分器，所述第二功分器的第一输入端与所述待测设备ENDC下LTE的天线端口连接，所述第二功分器的第二输入端与所述第一功分器的第二输出端连接，所述第二功分器的输出端与所述LTE测试仪连接。
[0007]根据本技术实施例的ENDC测试装置，当遇到天线端口切换的情况时，则会使用功分器进行辅助连接测试，通过采用功分器的新连接方式，即LTE测试仪可以通过两个功分器的连接，与后端任意一个天线端口连接，NR测试仪仅可通过一个功分器连接对应的待测设备ENDC下NR的天线端口，该连接方式增大了LTE与NR间的发射隔离度，避免LTE与NR两个频段的信号合并到一路而出现互相干扰的情况，降低对部分频段的测试结果的影响，提高ENDC测试结果的准确度。
[0008]在一些实施例中，所述待测设备ENDC下NR的天线端口还为LTE单频段时默认的天
线端口。
[0009]在一些实施例中，所述第一功分器为双工器。
[0010]在一些实施例中，所述第二功分器为双工器。
[0011]为了达到上述目的，本技术第二方面实施例的测试系统，包括：待测设备，所述待测设备包括多个天线端口，其中，所述多个天线端口包括ENDC下NR的天线端口和ENDC下LTE的天线端口；上面实施例所述的ENDC测试装置，所述ENDC测试装置与所述ENDC下NR的天线端口和所述ENDC下LTE的天线端口连接。
[0012]根据本技术实施例的测试系统，通过采用上面实施例所述的ENDC测试装置，对待测设备的ENDC下NR的天线端口和ENDC下LTE的天线端口进行测试，在测试过程中，遇到天线端口切换的情况，利用ENDC测试装置中功分器的连接方式，增大了LTE与NR间的发射隔离度，避免了LTE与NR两个频段的信号合并到一路而发生互相干扰，减小对测试结果产生干扰的可能，从而，提高测试结果的准确度。
[0013]在一些实施例中，所述ENDC下NR的天线端口还为LTE单频段时默认的天线端口。
[0014]在一些实施例中，所述ENDC下NR的天线端口为低频段天线端口，所述ENDC下LTE的天线端口为高/中频段天线端口。
[0015]在一些实施例中，所述待测设备包括手机或平板电脑。
[0016]本技术的附加方面和优点将在下面的描述中部分给出，部分将从下面的描述中变得明显，或通过本技术的实践了解到。
附图说明
[0017]本技术的上述和/或附加的方面和优点从结合下面附图对实施例的描述中将变得明显和容易理解，其中：
[0018]图1是相关技术中ENDC测试装置的传统连接方式的示意图；
[0019]图2是根据本技术的一个实施例的ENDC测试装置的新连接方式的示意图；
[0020]图3是根据本技术的一个实施例的功分器不同连接方式的隔离度对比图；
[0021]图4是根据本技术的一个实施例的测试系统的框图；
[0022]图5是根据本技术的一个实施例的待测设备的射频发射的框图。
[0023]附图标记：
[0024]测试系统1；
[0025]ENDC测试装置100；待测设备200；
[0026]NR测试仪10；LTE测试仪20；第一功分器30；第二功分器40；分频器50；第一开关60；第二开关70；第三开关80。
具体实施方式
[0027]下面详细描述本技术的实施例，参考附图描述的实施例是示例性的，下面详细描述本技术的实施例。
[0028]手机方案设计时，都会存在一个单频段的默认路，ENDC下需要使用到至少两根天线做发射，由于待测设备ENDC下NR的天线端口还为LTE单频段时默认的天线端口，那么在连接ENDC时，LTE会有一个切换天线端口的动作，这就导致无法使用两根测试线直连测试。此
时就需要用到功分器进行辅助连接。
[0029]图1是相关技术中ENDC测试装置的传统连接方式的示意图。如图1所示，LTE测试仪20和NR测试仪10可分别与第二功分器40的两个输出端连接，第一功分器30的第一输入端连接ENDC下NR的天线端口以及LTE单频段时默认的天线端口，第二输入端连接ENDC下LTE的天线端口。这种传统的公共对接的连接方式会使LTE，NR两个频段的信号合并到一路。可能对部分频段信号的测试结果造成影响。如接收指标，EVM的测试等等。因此，需要采用新的连接方式以避免LTE与NR两个频段的信号合并到一路，同时，必要时在连接成功后也可以断开两个功分器的连接，尽量避免产生测试结果不准确的现象。
[0030]下面参考图2描述根据本技术实施例的ENDC测试装置。如图2所示，ENDC测试本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种ENDC测试装置，其特征在于，包括：NR测试仪和LTE测试仪；第一功分器，所述第一功分器的输入端与待测设备ENDC下NR的天线端口连接，所述第一功分器的第一输出端与所述NR测试仪连接；第二功分器，所述第二功分器的第一输入端与所述待测设备ENDC下LTE的天线端口连接，所述第二功分器的第二输入端与所述第一功分器的第二输出端连接，所述第二功分器的输出端与所述LTE测试仪连接。2.根据权利要求1所述的ENDC测试装置，其特征在于，所述待测设备ENDC下NR的天线端口还为LTE单频段时默认的天线端口。3.根据权利要求1所述的ENDC测试装置，其特征在于，所述第一功分器为双工器。4.根据权利要求1所述的ENDC测试装置，其特征在于，所述第二功分器为双工器。5.一种测试系统，...

【专利技术属性】
技术研发人员：郭凯强，
申请(专利权)人：闻泰通讯股份有限公司，
类型：新型
国别省市：