一种基于CSAMT找矿目标层厚度信息提取方法技术

本发明专利技术提供了一种基于CSAMT找矿目标层厚度信息提取方法。该方法包括如下步骤：开展CSAMT测量获得原始数据；根据原始数据生成二维反演电阻率断面；结合岩矿石电阻率参数特征，建立找矿目标层在二维反演电阻率断面中的解释标志；根据解释标志，在二维反演电阻率断面中勾画出找矿目标层顶界面、底界面，并读取相应海拔数据；根据海拔数据计算出每个测点对应的找矿目标层的厚度数据；建立每个测点平面位置和找矿目标层厚度信息数据；绘制找矿目标层厚度等值线平面图。本发明专利技术能够将CSAMT二维反演电阻率断面找矿目标层厚度信息投影到平面上，实现找矿目标层厚度在平面上的显示，为矿产资源勘查提供依据和参考。矿产资源勘查提供依据和参考。矿产资源勘查提供依据和参考。

【技术实现步骤摘要】
一种基于CSAMT找矿目标层厚度信息提取方法


[0001]本专利技术涉及找矿目标层厚度信息提取领域，具体地说是一种基于CSAMT找矿目标层厚度信息提取方法。

技术介绍

[0002]矿产资源是一种十分重要的自然资源，同时也是人类社会赖以生存和发展的不可或缺的物质基础。随着社会的发展和科学技术的不断进步，人类对矿产资源的需求也逐步增强。虽然我国矿产资源种类丰富、总量高，但人均占有量很少，难以适应我国经济发展的需要。近年来，国家不断加大矿产资源勘查资金投入，以查明矿产资源分布和潜在储量。
[0003]可控源音频大地电磁法(CSAMT)具有抗干扰能力强、工作效率高等特点，在矿产勘查中可查明地层结构、找矿目标层、断裂构造等与成矿有关的地质问题，为勘查部署提供了重要依据，加速推进了我国找矿进程，提升了勘查效益。尤其是快速查明隐伏目标层(矿体)的厚度对指导后期工程部署起到了关键作用。
[0004]目前，CSAMT测量资料解释内容大多是针对单条测线地层结构、断裂构造以及目标层的顶界面埋深、底界面埋深等，缺少专门针对目标层厚度信息提流程和方法的相关内容，尤其是目标层厚度在平面上的展布特征，从而无法整体直观了解勘测区目标层在平面上的发育情况，最终无法精确为矿产资源勘查提供依据和参考。

技术实现思路

[0005]本专利技术的目的是提供一种基于CSAMT找矿目标层厚度信息提取方法，以提供一种新的找矿目标层厚度信息提取方法，为矿产资源勘查提供依据和参考。
[0006]本专利技术是这样实现的：
[0007]一种基于CSAMT找矿目标层厚度信息提取方法，包括以下步骤：
[0008]a、开展CSAMT测量，获得勘测区每条测线上每个测点的原始数据，包括勘测区每个测点的坐标信息(包括平面位置信息(即平面坐标)和海拔信息)和CSAMT原始数据；
[0009]b、对获取的原始数据进行数据处理，包括静态位移校正、远区数据挑选、地形改正和二维反演；
[0010]c、根据反演的结果，绘制每条测线的二维反演电阻率断面图；
[0011]d、收集、统计、分析勘测区及周边钻孔的测井电阻率资料，提取找矿目标层与上下岩层的电阻率差异；
[0012]e、根据找矿目标层与上下岩层的电阻率差异，在二维反演电阻率断面图中建立找矿目标层解释标志；
[0013]f、依据找矿目标层解释标志，在每条测线的二维反演电阻率断面图中勾画出找矿目标层的顶界面和底界面；
[0014]g、读取每条测线每个测点找矿目标层的顶界面、底界面海拔信息数据；
[0015]h、根据读取的每条测线每个测点找矿目标层的顶界面、底界面海拔信息，计算出
每条测线每个测点的找矿目标层的厚度信息数据；
[0016]i、将每个测点的找矿目标层厚度与其平面位置进行匹配，建立勘测区所有测点平面位置与找矿目标层厚度信息数据之间的匹配关系；
[0017]j、根据建立的勘测区所有测点平面位置与找矿目标层厚度信息数据之间的匹配关系，绘制找矿目标层厚度等值线平面图。
[0018]步骤a中所述开展获得原始数据，包含每个测点的平面坐标、海拔信息和CSAMT原始数据。
[0019]步骤b中静态位移校正和远区数据挑选是通过Astatic软件进行，地形改正和反演处理是通过SCS2D反演软件进行。
[0020]步骤h中所述计算找矿目标层厚度，是根据步骤g读取的找矿目标层顶界面和底界面海拔的差值计算所得。
[0021]步骤i测点平面位置是步骤a中所获得的每个测点的平面坐标，找矿目标层厚度信息是步骤h计算所得找矿目标层厚度信息数据。
[0022]本专利技术建立了系统的基于CSAMT找矿目标层厚度信息提取方法，能够将CSAMT二维反演电阻率断面找矿目标层厚度信息投影到平面上，实现找矿目标层厚度在平面上的显示，为矿产资源勘查提供依据和参考。
附图说明
[0023]图1是本专利技术的方法流程图。
[0024]图2是本专利技术实施例中CSAMT单个测点原始数据的频率
‑
视电阻率和频率
‑
相位差双对数曲线图。
[0025]图3是本专利技术实施例中静态位移校正和远区数据挑选处理前后对比图。
[0026]图4是本专利技术实施例中数据处理生成的二维反演电阻率断面图。
[0027]图5是本专利技术实施例中找矿目标层在二维反演电阻率断面解释标志图。
[0028]图6是本专利技术实施例中找矿目标层顶界面和底界面解释图。
[0029]图7是本专利技术实施例中找矿目标层厚度等值线平面图。
具体实施方式
[0030]结合图1，本专利技术提供的基于CSAMT找矿目标层厚度信息提取方法，包括以下步骤：
[0031]S1、开展CSAMT测量，获取符合规范的原始数据。每个勘测区有多条测线，每条测线上有多个测点，获取符合规范的原始数据包括每个测点的坐标信息和CSAMT原始数据，其中每个测点的坐标信息是用手持GPS获取的，包括经度、纬度和海拔高度；每个测点的CSAMT原始数据包括每个测点对应频率的视电阻率和相位差数据，可用频率
‑
视电阻率和频率
‑
相位差双对数曲线图来表示，如图2所示：横轴为频率，左侧纵轴为视电阻率，右侧纵轴为相位差，图中实线为频率
‑
视电阻率双对数曲线，虚线为频率
‑
相位差双对数曲线。
[0032]S2、对原始数据进行处理，具体包括：静态位移校正、远区数据挑选、地形改正和二维反演。
[0033](1)使用Zonge公司提供的Astatic.exe软件，对每条测线原始数据进行静态位移校正处理和远区数据的挑选，图3为静态位移校正和远区数据挑选处理前后对比图：处理前
176号测点处卡尼亚电阻率呈直立条带状分布，经过处理有效地消除了近地表电性不均匀体的影响，使有用信息反映的更加明显清晰。
[0034]远区数据是指把近区数据去除后剩余的数据。近区数据特征表现在如下两个方面：卡尼亚电阻率值在电阻率－频率双对数图上，由高频向低频呈45
°
的直线上升，与地电特性无关；阻抗相位趋近于0。
[0035](2)地形改正和二维反演处理是通过SCS2D反演软件进行。
[0036]S3、根据步骤S2得到的反演结果，生成最终二维反演电阻率断面图，如图4所示，横坐标为测点对应的平面距离，纵坐标为测点所对应的海拔高度，等值线的数值为测点相应平面距离、海拔高度所对应的反演电阻率值。
[0037]S4、收集、统计、分析勘测区及周边钻孔的测井电阻率资料，提取找矿目标层与上下岩层的电阻率差异。结合图5，分析可知：A层为目标层上部岩层，为相对中阻
‑
中高阻电阻率层；B层为找矿目标层，整体为相对低阻电性层，中上部分布有不连续的相对中阻电阻率层；C层为目标层下部岩层，整体为相对高阻电阻率层。找矿目标层与上下岩层有着明显的电阻率差异。
[00本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种基于CSAMT找矿目标层厚度信息提取方法，其特征是，包括以下步骤：a、开展CSAMT测量，得到勘测区每条测线每个测点的原始数据；b、对获取的原始数据进行数据处理，包括静态位移校正、远区数据挑选、地形改正和二维反演；c、根据反演的结果，绘制每条测线的二维反演电阻率断面图；d、收集、统计、分析勘测区及周边钻孔的测井电阻率资料，提取找矿目标层与上下岩层的电阻率差异；e、根据找矿目标层与上下岩层的电阻率差异，在二维反演电阻率断面图中建立找矿目标层解释标志；f、依据找矿目标层解释标志，在每条测线的二维反演电阻率断面图中勾画出找矿目标层的顶界面、底界面；g、读取每条测线每个测点找矿目标层的顶界面、底界面海拔信息数据；h、根据读取的每条测线每个测点找矿目标层的顶界面、底界面海拔信息，计算出每条测线每个测点的找矿目标层的厚度信息数据；i、将每个测点的找矿目标层厚度信息数据与其平面位置进行匹配，建立勘测区所有测点平面位置与找...

【专利技术属性】
技术研发人员：焦智伟，张翔，张伟，汪来，孟锐，王亚飞，艾虎，牛禹，谢明宏，邱崇涛，
申请(专利权)人：核工业航测遥感中心，
类型：发明
国别省市：