一种检测光耦性能的测试夹具制造技术

本实用新型专利技术涉及电子元器件检测技术领域，具体涉及一种检测光耦性能的测试夹具，包括示波器、数据连接线、外部保护壳组件、光耦器件和检测电路，所述检测电路安装在外部保护壳组件的腔内用于检测光耦器件，所述光耦器件安插在外部保护壳组件的顶部且与检测电路电气连接，所述数据连接线的一端安插在外部保护壳组件的顶部且与检测电路电气连接，另一端连接在示波器的接线口上，所述示波器放置在外部保护壳组件的外部用于验证光耦器件发出的电信号是否正常，本实用新型专利技术的一种检测光耦性能的测试夹具，通过设计检测电路和示波器的配和能够解决现有技术中部分性能存在问题的光耦器件使用到电路中造成电路故障，从而需要耗时耗力检修电路的问题。修电路的问题。修电路的问题。

【技术实现步骤摘要】
一种检测光耦性能的测试夹具


[0001]本技术涉及电子元器件检测
，具体涉及一种检测光耦性能的测试夹具。

技术介绍

[0002]光耦合器(opticalcoupler equipment，英文缩写为OCEP)亦称光电隔离器或光电耦合器，简称光耦。它是以光为媒介来传输电信号的器件，通常把发光器(红外线发光二极管LED)与受光器(光敏半导体管，光敏电阻)封装在同一管壳内。当输入端加电信号时发光器发出光线，受光器接收光线之后就产生光电流，从输出端流出，从而实现了“电—光—电”控制。以光为媒介把输入端信号耦合到输出端的光电耦合器，由于它具有体积小、寿命长、无触点，抗干扰能力强，输出和输入之间绝缘，单向传输信号等优点，在数字电路上获得广泛的应用。为了确保光耦器件能正常工作，就需要对其电信能进行验证，通过验证确保光耦器件性能完好，可以正常工作，若在电路中使用到存在问题的光耦器件，会使电路发生故障，从而需要耗时耗力的检修电路，增加使用者的工作量和使用感。

技术实现思路

[0003]本技术提供一种检测光耦性能的测试夹具，其目的在于通过控制MOS管的通断来验证光耦器件发出的电信号是否正常，并用来评估光耦器件能否正常工作。
[0004]为达此目的，本技术采用以下技术方案：
[0005]提供一种检测光耦性能的测试夹具，包括示波器、数据连接线、外部保护壳组件、光耦器件和检测电路，所述检测电路安装在外部保护壳组件的腔内用于检测光耦器件，所述光耦器件安插在外部保护壳组件的顶部且与检测电路电气连接，所述数据连接线的一端安插在外部保护壳组件的顶部且与检测电路电气连接，另一端连接在示波器的接线口上，所述示波器放置在外部保护壳组件的外部用于验证光耦器件发出的电信号是否正常。
[0006]进一步的，所述外部保护壳组件包括壳体和上盖板，所述壳体的腔内设有固定圈用于固定检测电路位置，所述上盖板上方的一侧矩阵式设有若干的插接孔用于光耦器件引脚插接在检测电路上，所述上盖板上方的另一侧设有连接口用于使数据连接线连到检测电路中，所述上盖板安装在壳体的顶部用于遮盖壳体腔内。
[0007]进一步的，所述检测电路包括电路板、连接线座子和光耦测试座子，所述光耦测试座子安装在电路板上且与插接孔对应用于固定连接光耦器件，所述连接线座子安装在电路板上且与连接口对应用于固定连接数据连接线。
[0008]进一步的，所述电路板包括电阻R1、电阻R2、电阻R3、电阻R4、电阻R5、MOS管Q1和测试点，所述电阻R1的一端连接1V8电源电压，另一端连接光耦器件的4引脚上，所述电阻R3的一端连接MOS管Q1漏极D引脚上，另一端连接在光耦器件的3引脚上，所述电阻R2的一端连接1V8电源电压，另一端连接电阻R3的一端，所述电阻R5的一端连接光耦器件的1引脚上，另一端连接在3V3电源电压上，所述电阻R4的一端连接电阻R5的一端，另一端连接测试点，所述
光耦器件的2引脚信号接地，所述MOS管Q1栅极G接入controlA，所述MOS管Q1源极S接地。
[0009]本技术的有益效果：
[0010]1、本技术的一种检测光耦性能的测试夹具，通过设计检测电路和示波器的配和能够解决现有技术中部分性能存在问题的光耦器件使用到电路中造成电路故障，从而需要耗时耗力检修电路的问题。
[0011]2、通过设计检测电路，利用controlA信号控制MOS管的通断产生的连续方波信号，再使用示波器检测连续方波信号以此判断光耦器件的好坏，构成检测电路的元器件价格普通，可以减低生产成本，好的光耦器件可以降低电路出故障的可能性，从而提高使用者的使用感和降低工作量。
[0012]3、在光耦器件检测过程中，只需要将光耦器件的引脚穿过上盖板的插接孔将光耦器件固定在光耦测试座子上，测试完毕后取下即可，操作简单方便、成本低廉且可以多次使用，性价比高，同时测试环境搭建容易。
附图说明
[0013]为了更清楚地说明本技术实施方案或现有技术中的技术方案，下面将对实施方案或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本技术的一些实施方案，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0014]图1为本技术的整体立体结构分解示意图；
[0015]图2为本技术外部保护壳组件的整体立体结构分解示意图；
[0016]图3为本技术检测电路的整体立体结构分解示意图；
[0017]图4为本技术电路板电路示意图；
[0018]图中：
[0019]1、示波器；11、接线口；
[0020]2、数据连接线；
[0021]3、外部保护壳组件；31、壳体；311、固定圈；32、上盖板；321、插接孔；322、连接口；
[0022]4、光耦器件；
[0023]5、检测电路；51、电路板；52、连接线座子；53、光耦测试座子。
具体实施方式
[0024]为了使本技术实现的技术手段、创作特征、达成目的与功效易于明白了解，下面结合具体图示，进一步阐述本技术。
[0025]参照图1所示，一种检测光耦性能的测试夹具，包括示波器1、数据连接线2、外部保护壳组件3、光耦器件4和检测电路5，所述检测电路5安装在外部保护壳组件3的腔内用于检测光耦器件4，所述光耦器件4安插在外部保护壳组件3的顶部且与检测电路5电气连接，所述数据连接线2的一端安插在外部保护壳组件3的顶部且与检测电路5电气连接，另一端连接在示波器1的接线口11上，所述示波器1放置在外部保护壳组件3的外部用于验证光耦器件4发出的电信号是否正常，检测者先使用数据连接线2将外部保护壳内的检测电路5和示波器1连接在一起，再将待测光耦器件4安插在外部保护壳组件3的顶部并使光耦器件4与检
测电路5电气连接，通过使用检测电路5，使与检测电路5电气连接的光耦器件4产生连续的方波信号，检测电路5通过数据连接线2将产生的方波信号输送到示波器1内，从而验证光耦器件4发出的电信号是否正常，并用来评估光耦器件4能否正常工作，外部保护壳组件3对检测电路5可以起到保护作用，保护检测电路5在使用过程中的电路安全，同时也增加了设备的美观度，待测光耦器件4安插检测后可以取下更换下一个待测光耦器件4，可循环检测使用。
[0026]参照图2所示，所述外部保护壳组件3包括壳体31和上盖板32，所述壳体31的腔内设有固定圈311用于固定检测电路5位置，所述上盖板32上方的一侧矩阵式设有若干的插接孔321用于光耦器件4引脚插接在检测电路5上，所述上盖板32上方的另一侧设有连接口322用于使数据连接线2连到检测电路5中，所述上盖板32安装在壳体31的顶部用于遮盖壳体31腔内，壳体31腔内设有的固定圈311将检测电路5牢牢的固定在腔内，防止使用过程中检测电路5在壳体31腔内晃动撞击导致检测电路5上焊接的元器件松动影响后续的检测结果，上盖板3本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种检测光耦性能的测试夹具，其特征在于，包括示波器(1)、数据连接线(2)、外部保护壳组件(3)、光耦器件(4)和检测电路(5)，所述检测电路(5)安装在外部保护壳组件(3)的腔内用于检测光耦器件(4)，所述光耦器件(4)安插在外部保护壳组件(3)的顶部且与检测电路(5)电气连接，所述数据连接线(2)的一端安插在外部保护壳组件(3)的顶部且与检测电路(5)电气连接，另一端连接在示波器(1)的接线口(11)上，所述示波器(1)放置在外部保护壳组件(3)的外部用于验证光耦器件(4)发出的电信号是否正常。2.根据权利要求1所述的一种检测光耦性能的测试夹具，其特征在于，所述外部保护壳组件(3)包括壳体(31)和上盖板(32)，所述壳体(31)的腔内设有固定圈(311)用于固定检测电路(5)位置，所述上盖板(32)上方的一侧矩阵式设有若干的插接孔(321)用于光耦器件(4)引脚插接在检测电路(5)上，所述上盖板(32)上方的另一侧设有连接口(322)用于使数据连接线(2)连到检测电路(5)中，所述上盖板(32)安装在壳体(31)的顶部用于遮盖壳体(31)腔内。3....

【专利技术属性】
技术研发人员：陈晨，
申请(专利权)人：太仓市同维电子有限公司，
类型：新型
国别省市：