AOI检测模板设定方法技术

本发明专利技术涉及AOI检测领域，具体为AOI检测模板设定方法，包括如下步骤，S1、开机，启动电源、电脑及相机，检查参数，确保参数属于正常值；S2、相机设置，设定上光源亮度值及下光源亮度值；S3、模板制作，拍照模板选定、对位点设置、查阅、留存；S4、设置免测区，框选、编辑、避孔；S5、特殊处理，通过对模板进行优化，降低在检测过程中产生误判和漏判，提升检测效果。提升检测效果。

【技术实现步骤摘要】
AOI检测模板设定方法


[0001]本专利技术涉及AOI检测领域，具体为AOI检测模板设定方法。

技术介绍

[0002]早期的PCB生产中，检测主要由人工目检配合电检测来完成的，随着电子技术的发展，PCB布线密度不断提高，人工目检难度增大，误判率升高，且对检测者的健康损害更大，电检测程序编制更加烦琐，成本更高，并且无法检测某些类型的缺陷，因此，AOI自动光学检测技术越来越多地应用于PCB制造中。
[0003]A0I (Automatic Optical Inspection )自动光学检测设备在各个行业中都得到了较为广泛的使用，在PCB加。过程中，作为重要的检测设备。
[0004]A0I原理是:利用各种光源通过光学镜片过滤后照射在待检PCB板上,然后反射光(激发光)通过各种过滤镜片,反射到接收器上,接收器根据光信号强弱产生相应电信号，经过一系列的信号转换后，设备区分出PCB板面图形状况，再与AOI本身寄存的PCB板面图形数据进行比对，有差异的位置就报出缺陷，最后通过检验员进行确认处理，以完成整个检测过程。
[0005]AOI虽然具有比人工检测更高的效率，但毕竟是通过图像采集和分析处理来得出结果，而图像分析处理的相关软件技术目前还未达到人脑的级别，因此在实际生产使用中的一些特殊情况，AOI的误判、漏判再所难免。针对于AOI在实际生产中所产生的误判和漏判，通过对模板进行优化，降低检测故障率的产生。

技术实现思路

[0006]本专利技术为了解决现有技术的检测过程中容易出现误判和漏判的问题，提供AOI检测模板设定方法。
[0007]本专利技术通过下述技术方案实现：AOI检测模板设定方法，包括如下步骤，S1、开机，启动电源、电脑及相机，检查参数，确保参数属于正常值；S2、相机设置，设定上光源亮度值及下光源亮度值；S3、模板制作，拍照模板选定、对位点设置、查阅、留存；S4、设置免测区，框选、编辑、避孔；S5、特殊处理。
[0008]作为本专利技术的一种优选方案：在S1中，参数包括上基值和下基值，上基值和下基值的取值范围为50
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8000。
[0009]作为本专利技术的一种优选方案：在S2中，上光源亮度值和下光源亮度值的取值范围为50
‑
8000。
[0010]作为本专利技术的一种优选方案：在S3中，拍照模板选定包括定板的位置确定、测试范围的选取和设定基值，在定板的位置确定中，PCB板置于屏幕中央，通过单拍进行调整，确保
拍照后的图像与模板对齐，在测试范围的选取中，调整选取测试的范围，在设定基值中，将基值调整为60
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200。
[0011]作为本专利技术的一种优选方案：在S3中，对位点设置包括对位点位置、对位点数量和对位点形状，在对位点位置中，于PCB板的四角进行定位，在对位点数量中，选取4正点定位，4正点形成矩形，在对位点形状中，设置矩形，完成对位点设置。
[0012]作为本专利技术的一种优选方案：在S3中，查阅包括模板查看及模板修改，模板查看通过放大、缩小及分页、判断是否存在断线，在模板修改中，设置有笔头，通过增加或者减小以调整笔头大小，擦除去除异常。
[0013]作为本专利技术的一种优选方案：在S3中，留存包括模板保存和模板调取，在模板保存中，模板设定完毕后，进行保存，并对模板进行料号标记，在模板调取中，打开模板库，搜索并读取模板库。
[0014]作为本专利技术的一种优选方案：在S4中，在框选中，选定免测区，在编辑中，通过选择，增加免测范围，通过去除，去除免测范围。
[0015]作为本专利技术的一种优选方案：在S5中，特殊处理包括断线多报、缺口多报和连线多报。
[0016]本专利技术与现有技术相比，具有如下的优点和有益效果：通过对模板进行优化，降低在检测过程中产生误判和漏判，提升检测效果。
实施方式
[0017]为使本专利技术的目的、技术方案和优点更加清楚明白，下面结合实施例，对本专利技术作进一步的详细说明，本专利技术的示意性实施方式及其说明仅用于解释本专利技术，并不作为对本专利技术的限定。
实施例
[0018]AOI检测模板设定方法，其特征在于：包括如下步骤，S1、开机，启动电源、电脑及相机，检查参数，确保参数属于正常值；S2、相机设置，设定上光源亮度值及下光源亮度值；S3、模板制作，拍照模板选定、对位点设置、查阅、留存；S4、设置免测区，框选、编辑、避孔；S5、特殊处理。
[0019]在本专利技术的一个实施例中，具体使用时，在S1中，参数包括上基值和下基值，上基值和下基值的取值范围为50
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8000。
[0020]在本专利技术的一个实施例中，具体使用时，在S2中，上光源亮度值和下光源亮度值的取值范围为50
‑
8000。
[0021]在本专利技术的一个实施例中，具体使用时，在S3中，拍照模板选定包括定板的位置确定、测试范围的选取和设定基值，在定板的位置确定中，PCB板置于屏幕中央，通过单拍进行调整，确保拍照后的图像与模板对齐，在测试范围的选取中，调整选取测试的范围，在设定基值中，将基值调整为60
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200。
[0022]首先针对拍照模板进行选定，确定针对于检测的母板。
[0023]在本专利技术的一个实施例中，具体使用时，在S3中，对位点设置包括对位点位置、对位点数量和对位点形状，在对位点位置中，于PCB板的四角进行定位，在对位点数量中，选取4正点定位，4正点形成矩形，在对位点形状中，设置矩形，完成对位点设置。
[0024]在基板确定后，对基板进行优化，设定对位点，确保母板与待检测板实现匹配。
[0025]在本专利技术的一个实施例中，具体使用时，在S3中，查阅包括模板查看及模板修改，模板查看通过放大、缩小及分页、判断是否存在断线，在模板修改中，设置有笔头，通过增加或者减小以调整笔头大小，擦除去除异常。
[0026]针对于母板和待检测板的结合，查看模板，并对模板进行修改。
[0027]在本专利技术的一个实施例中，具体使用时，在S3中，留存包括模板保存和模板调取，在模板保存中，模板设定完毕后，进行保存，并对模板进行料号标记，在模板调取中，打开模板库，搜索并读取模板库。
[0028]模板进行修改后，进行保存，不同的模板选用不同的料号进行保存，以备选用。
[0029]在本专利技术的一个实施例中，具体使用时，在S4中，在框选中，选定免测区，在编辑中，通过选择，增加免测范围，通过去除，去除免测范围。
[0030]针对于检测区，还存在非检测区，对非检测区进行免测区的划定，避免出现检测错误。
[0031]在本专利技术的一个实施例中，具体使用时，在S5中，特殊处理包括断线多报、缺口多报和连线多报。
[0032]针对于特殊情况，对不同的问题进行优化，降低特殊情况的发生几率。
[0033]工作原理：应对不同的检测状况，首先对模板进行设定，包括模板的制作，将模板修改至可使用的状态，降低误判和漏判，本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.AOI检测模板设定方法，其特征在于：包括如下步骤，S1、开机，启动电源、电脑及相机，检查参数，确保参数属于正常值；S2、相机设置，设定上光源亮度值及下光源亮度值；S3、模板制作，拍照模板选定、对位点设置、查阅、留存；S4、设置免测区，框选、编辑、避孔；S5、特殊处理。2.根据权利要求1所述的AOI检测模板设定方法，其特征在于：在S1中，参数包括上基值和下基值，上基值和下基值的取值范围为50
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8000。3.根据权利要求1所述的AOI检测模板设定方法，其特征在于：在S2中，上光源亮度值和下光源亮度值的取值范围为50
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8000。4.根据权利要求1所述的AOI检测模板设定方法，其特征在于：在S3中，拍照模板选定包括定板的位置确定、测试范围的选取和设定基值，在定板的位置确定中，PCB板置于屏幕中央，通过单拍进行调整，确保拍照后的图像与模板对齐，在测试范围的选取中，调整选取测试的范围，在设定基值中，将基值调整为60
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200。5.根据权利要求1...

【专利技术属性】
技术研发人员：田绍安，
申请(专利权)人：湖北中培电子科技有限公司，
类型：发明
国别省市：