一种LED显示单元采集校正方法技术

本发明专利技术涉及一种LED显示单元采集校正方法，该方法排除光斑底部噪声和交叉干扰，利用光斑顶部陡峭区域确定完整光斑亮度真值，实现了LED显示单元像素亮度的准确采集与校正，并且大大提高了采集效率。且大大提高了采集效率。且大大提高了采集效率。

【技术实现步骤摘要】
一种LED显示单元采集校正方法


[0001]本专利技术属于LED显示光学采集校正
，涉及一种LED显示单元像素亮度的精确采集方法。

技术介绍

[0002]常规的准确采集显示像素的前提是相邻光斑相互不交叉，不存在交叉效应。首先光斑能够完整分割，然后采集完整光斑的亮度积分值、再减去噪声值、得到亮度真值。而要保证相邻光斑不交叉的前提是隔行隔列采集并且间隔足够大，这就扩大了时间成本和复杂程度。如果能在间隔较小的隔行隔列采集甚至是面采集中，存在相邻光斑交叉的影响下，计算校正系数进行校正，可以大幅度的节省采集时间。

技术实现思路

[0003]本专利技术要解决的技术问题是提供一种可以排除光斑底部噪声和交叉干扰的LED显示单元采集校正方法。
[0004]为了解决上述技术问题，本专利技术的LED显示单元采集校正方法如下：
[0005]在相邻光斑之间亮度存在交叉影响情况下用相机采集LED显示单元图片P2；对图片P2中多个离散坐标点的相机像素亮度值进行拟合得到连续、光滑的三维图像Q2；设图片所在平面为xy平面，三维图像中包含xy平面上各点坐标及其对应的亮度值；针对三维图像Q2中任一光斑i，计算亮度值在拐点亮度值以上的亮度积分值并去噪声，得到亮度积分真值Mi；根据下述公式计算光斑i的完整光斑亮度积分真值Fi；
[0006][0007]其中为预先确定的拐点以上占比平均值，为预先确定的归一化占比平均值；
[0008]根据每个光斑的完整光斑亮度积分真值即可得到其校正系数，从而对LED显示单元进行校正。
[0009]进一步，针对三维图像Q2中任一光斑i，还可以先将其各坐标点亮度值按照峰值进行归一化；计算归一化亮度值在拐点归一化亮度值以上的亮度积分值并去噪声，得到亮度积分真值Mi。
[0010]进一步，在LED显示单元所有像素全部点亮时用相机采集LED显示单元图片P2。
[0011]进一步，也可以在LED显示单元隔行隔列像素点亮时用相机采集LED显示单元图片P2。
[0012]所述拐点以上占比平均值和归一化占比平均值采用下述方法确定：
[0013]在相邻光斑之间亮度不存在交叉影响情况下用相机采集隔行隔列像素点亮时的一张LED显示单元图片P1；在相邻光斑之间亮度存在交叉影响情况下用相机采集一张LED显示单元图片P2；
[0014]对图片P1、图片P2中多个离散坐标点的相机像素亮度值进行拟合分别得到连续、
光滑的三维图像Q1、三维图像Q2；
[0015]针对三维图像Q1中任一光斑，计算亮度值在拐点亮度值以上的亮度积分值并去噪声，得到亮度积分真值M1；计算完整光斑的亮度积分值并去噪声，得到亮度积分真值F1；计算亮度积分真值M1在亮度积分真值F1中所占的比例得到拐点以上占比r1；
[0016]r1＝M1/F1
[0017]针对三维图像Q2中的对应光斑，计算亮度值在拐点亮度值以上的亮度积分值并去噪声，得到亮度积分真值M2；将亮度积分真值M2归一化到亮度积分真值M1上，得到归一化占比r2；
[0018][0019]计算三维图像Q1中所有光斑对应的拐点以上占比r1的平均值得到拐点以上占比平均值计算三维图像Q1中所有光斑对应的归一化占比r2的平均值得到为归一化占比平均值
[0020]进一步，针对三维图像Q1中任一光斑，还可以先将其各坐标点亮度值按照峰值进行归一化处理，再计算归一化亮度值在拐点归一化亮度值A
g
以上的亮度积分值并去噪声，得到亮度积分真值M。
[0021]进一步，针对三维图像Q2中的对应光斑，还可以先将其各坐标点亮度值按照峰值进行归一化处理，再计算归一化亮度值在拐点归一化亮度值A
g
以上的亮度积分值并去噪声，得到亮度积分真值M2。
[0022]本专利技术提供一种从相互交叉、相互干扰的光斑中提取完整光斑亮度的方法。由于像素过小，导致光斑底部存在相互交叉，即光斑亮度失真，而高亮度的光斑顶部极小受到相邻光斑的干扰，光斑顶部陡峭区域已经包括了完整光斑的全部亮度信息。本专利技术排除光斑底部噪声和交叉干扰，利用光斑顶部陡峭区域确定完整光斑亮度真值，实现了LED显示单元像素亮度的准确采集与校正。对于相同像素间距的LED显示单元，仅采集一张像素全部点亮时的图片，即可根据预先确定的拐点以上占比平均值和归一化占比平均值得到全部像素的完整光斑亮度积分真值；对于相同的较小间距的LED显示单元，采用隔行隔列像素点亮方式采集包含全部光斑的多张图片，根据预先确定的拐点以上占比平均值和归一化占比平均值得到全部像素的完整光斑亮度积分真值，大大提高了采集效率。
附图说明
[0023]图1是相邻光斑底部亮度无交叉影响时的光斑亮度曲线。
[0024]图2是相邻光斑底部亮度存在交叉影响时的光斑亮度曲线。
[0025]图3是面采集、隔2采集、隔4采集、隔8采集的单个光斑亮度曲线，横向为x坐标，纵向为归一化的亮度值。
[0026]图4是面采集、隔4采集的单个光斑亮度曲线，横向为x坐标，纵向为归一化的亮度值。
[0027]图5是隔4采集的单个光斑亮度曲线，横向为x坐标，纵向为归一化的亮度值。
[0028]图6是隔8采集的单个光斑亮度曲线，横向为x坐标，纵向为归一化的亮度值。
[0029]图7是本专利技术的流程图。
具体实施方式
[0030]下面结合附图和实施例对本专利技术作进一步详细说明，可以理解的是，此处所描述的具体实施例仅仅用于解释本专利技术，而非对本专利技术的限定。另外还需说明的是，为了便于描述，附图中仅示出了与本专利技术相关的部分而非全部结构。
[0031]在本专利技术的描述中，除非另有明确的规定和限定，术语“相连”、“连接”、“固定”应做广义的理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或成一体；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接连接，也可以通过中间媒介间接连接，可以是两个元件内部的连通或两个元件的相互作用关系。对于本领域的普通技术人员而言，可以具体情况具体理解上述术语在本专利技术中的具体含义。
[0032]在本专利技术中，除非另有明确的规定和限定，第一特征在第二特征之“上”或之“下”可以包括第一和第二特征直接接触，也可以包括第一和第二特征不是直接接触而是通过它们之间的另外的特征接触。而且，第一特征在第二特征“之上”、“上方”和“上面”包括第一特征在第二特征正上方和斜上方，或者仅仅表示第一特征水平高度高于第二特征。第一特征在第二特征“之下”、“下方”、“下面”包括第一特征在第二特征正下方和斜下方，或仅仅表示第一特征水平高度小于第二特征。
[0033]在本实施例的描述中，术语“上”、“下”、“左”、“右”等方位或者位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述和简化操作，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位，以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本专利技术的限制。此外，术语“第一”、“第二”仅仅用于在描述上加以区分，并没有特殊的含义。
...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种LED显示单元采集校正方法，其特征在于该方法如下：在相邻光斑之间亮度存在交叉影响情况下用相机采集LED显示单元图片P2；对图片P2中多个离散坐标点的相机像素亮度值进行拟合得到连续、光滑的三维图像Q2；设图片所在平面为xy平面，三维图像中包含xy平面上各点坐标及其对应的亮度值；针对三维图像Q2中任一光斑i，计算亮度值在拐点亮度值以上的亮度积分值并去噪声，得到亮度积分真值Mi；根据下述公式计算光斑i的完整光斑亮度积分真值Fi；其中为预先确定的拐点以上占比平均值，为预先确定的归一化占比平均值；根据每个光斑的完整光斑亮度积分真值即可得到其校正系数，从而对LED显示单元进行校正。2.根据权利要求1所述的LED显示单元采集校正方法，其特征在于：针对三维图像Q2中任一光斑i，先将其各坐标点亮度值按照峰值进行归一化；计算归一化亮度值在拐点归一化亮度值以上的亮度积分值并去噪声，得到亮度积分真值Mi。3.根据权利要求1所述的LED显示单元采集校正方法，其特征在于：在LED显示单元所有像素全部点亮时用相机采集LED显示单元图片P2。4.根据权利要求1所述的LED显示单元采集校正方法，其特征在于：在LED显示单元隔行隔列像素点亮时用相机采集LED显示单元图片P2。5.根据权利要求1所述的LED显示单元采集校正方法，其特征在于：所述拐点以上占比平均值和归一化占比平均值采用下述方法确定：在相邻光斑之间亮度不存在交叉影响情况下用相机采集隔行隔列像素点亮时的一张LED显示单元图片P1...

【专利技术属性】
技术研发人员：郑喜凤，黄硕，刘凤霞，毛新越，丁铁夫，
申请(专利权)人：长春希达电子技术有限公司，
类型：发明
国别省市：