水分仪零位校准方法、装置、电子设备及存储介质制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种水分仪零位校准方法、装置、电子设备及存储介质，其中，该方法包括：确定待校准工序和至少一个基准工序，并分别确定每个基准工序处基准水分仪对应的基准值偏移量，其中，基准工序对应的工序执行时序晚于所述待校准工序对应的工序执行时序；基于预存储的与待校准工序对应的目标校准函数和每个基准工序处基准水分仪对应的基准值偏移量，确定待校准工序处待校准水分仪对应的零位偏移量，以基于零位偏移量对待校准工序处的待校准水分仪进行零位校准。本实施例的技术方案，实现了在每次烟叶制丝流程中对水分仪进行自动校准的效果，缩短了水分仪零位校准的校准周期，提高了水分仪的测量精度和利用校准后的水分仪进行测量的准确度。仪进行测量的准确度。仪进行测量的准确度。

【技术实现步骤摘要】
水分仪零位校准方法、装置、电子设备及存储介质


[0001]本专利技术涉及烟草水分检测
，尤其涉及一种水分仪零位校准方法、装置、电子设备及存储介质。

技术介绍

[0002]在卷烟制丝工艺控制中，烟草水分值是重要指标之一，直接影响烟草的内在质量。在自动化流水线生产过程中，水分仪的检测值是闭环控制系统中的重要环节，水分仪的准确性关系到烟草加工过程的质量控制精度及其稳定性。红外水分仪作为烟草制品水分的测量仪器，其测量的准确性显得尤为重要。在实际生产过程中，随着生产工艺、环境条件等因素的变化，需要对红外水分仪的零点值进行校准。
[0003]相关技术中，水分仪零位校准方法通常采用烘箱加热法(含水率检测法)进行人工校准，这种校准方法需要多次人工校准比对，操作过程复杂，校准过程耗时较长，进而，降低了水分仪零位校准的校准频率和校准精确度，同时，由于校准过程复杂，导致校准周期较长，在一次校准到下一次校准的期间，影响水分仪零位准确性的因素较多，从而降低了使用水分仪进行测量的准确度。

技术实现思路

[0004]本专利技术提供了一种水分仪零位校准方法、装置、电子设备及存储介质，以实现在每次烟叶制丝流程中对水分仪进行自动校准的效果，缩短了水分仪零位校准的校准周期，进而，提高了水分仪的测量精度，从而提高了利用校准后的水分仪进行测量的准确度。
[0005]根据本专利技术的一方面，提供了一种水分仪零位校准方法，该方法包括：
[0006]确定待校准工序和至少一个基准工序，并分别确定每个所述基准工序处基准水分仪对应的基准值偏移量，其中，所述基准工序与所述待校准工序属于同一烟叶制丝流程中的不同工序，所述基准工序对应的工序执行时序晚于所述待校准工序对应的工序执行时序；
[0007]基于预存储的与所述待校准工序对应的目标校准函数和每个所述基准工序处基准水分仪对应的基准值偏移量，确定所述待校准工序处待校准水分仪对应的零位偏移量，以基于所述零位偏移量对所述待校准工序处的所述待校准水分仪进行零位校准。
[0008]根据本专利技术的另一方面，提供了一种水分仪零位校准装置，该装置包括：
[0009]工序确定模块，用于确定待校准工序和至少一个基准工序，并分别确定每个所述基准工序处基准水分仪对应的基准值偏移量，其中，所述基准工序与所述待校准工序属于同一烟叶制丝流程中的不同工序，所述基准工序对应的工序执行时序晚于所述待校准工序对应的工序执行时序；
[0010]零位偏移量确定模块，用于基于预存储的与所述待校准工序对应的目标校准函数和每个所述基准工序处基准水分仪对应的基准值偏移量，确定所述待校准工序处待校准水分仪对应的零位偏移量，以基于所述零位偏移量对所述待校准工序处的所述待校准水分仪
进行零位校准。
[0011]根据本专利技术的另一方面，提供了一种电子设备，所述电子设备包括：
[0012]至少一个处理器；以及
[0013]与所述至少一个处理器通信连接的存储器；其中，
[0014]所述存储器存储有可被所述至少一个处理器执行的计算机程序，所述计算机程序被所述至少一个处理器执行，以使所述至少一个处理器能够执行本专利技术任一实施例所述的水分仪零位校准方法。
[0015]根据本专利技术的另一方面，提供了一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质存储有计算机指令，所述计算机指令用于使处理器执行时实现本专利技术任一实施例所述的水分仪零位校准方法。
[0016]本专利技术实施例的技术方案，通过确定待校准工序和至少一个基准工序，并分别确定每个基准工序处基准水分仪对应的基准值偏移量，进一步的，基于预存储的与待校准工序对应的目标校准函数和每个基准工序处基准水分仪对应的基准值偏移量，确定待校准工序处待校准水分仪对应的零位偏移量，以基于零位偏移量对待校准工序处的待校准水分仪进行零位校准，解决了现有技术中校准过程复杂，导致校准周期较长，在一次校准到下一次校准的期间，影响水分仪零位准确性的因素较多，从而降低了使用水分仪进行测量的准确度等问题，实现了在每次烟叶制丝流程中对水分仪进行自动校准的效果，采用下游基准水分仪采集的数据，实时分析上游待校准水分仪的零位是否存在偏移，并进行实时校准，缩短了水分仪零位校准的校准周期，进而，提高了水分仪的测量精度，从而提高了利用校准后的水分仪进行测量的准确度。
[0017]应当理解，本部分所描述的内容并非旨在标识本专利技术的实施例的关键或重要特征，也不用于限制本专利技术的范围。本专利技术的其它特征将通过以下的说明书而变得容易理解。
附图说明
[0018]为了更清楚地说明本专利技术实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本专利技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0019]图1是根据本专利技术实施例一提供的一种水分仪零位校准方法的流程图；
[0020]图2是根据本专利技术实施例二提供的一种水分仪零位校准装置的结构示意图；
[0021]图3是实现本专利技术实施例的水分仪零位校准方法的电子设备的结构示意图。
具体实施方式
[0022]为了使本
的人员更好地理解本专利技术方案，下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分的实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都应当属于本专利技术保护的范围。
[0023]需要说明的是，本专利技术的说明书和权利要求书及上述附图中的术语“第一”、“第
二”等是用于区别类似的对象，而不必用于描述特定的顺序或先后次序。应该理解这样使用的数据在适当情况下可以互换，以便这里描述的本专利技术的实施例能够以除了在这里图示或描述的那些以外的顺序实施。此外，术语“包括”和“具有”以及他们的任何变形，意图在于覆盖不排他的包含，例如，包含了一系列步骤或单元的过程、方法、系统、产品或设备不必限于清楚地列出的那些步骤或单元，而是可包括没有清楚地列出的或对于这些过程、方法、产品或设备固有的其它步骤或单元。
[0024]实施例一
[0025]图1是本专利技术实施例一提供的一种水分仪零位校准方法的流程图，本实施例可适用于对烟叶制丝流程中的所设置的水分仪进行零位校准的情况，该方法可以由水分仪零位校准装置来执行，该水分仪零位校准装置可以采用硬件和/或软件的形式实现，该水分仪零位校准装置可配置于终端和/或服务器中。如图1所示，该方法包括：
[0026]S110、确定待校准工序和至少一个基准工序，并分别确定每个基准工序处基准水分仪对应的基准值偏移量。
[0027]其中，在烟叶制丝流程中可以包括对多个制作工序，在实际应用中，将烟叶物料放置在烟叶制丝流程上的起点，基于传送带对烟叶物料进行传送，以基于烟叶制丝流程中的制作工序对烟叶物料或烟叶制品进行处理，从而可以最终得到烟丝成品，本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种水分仪零位校准方法，其特征在于，包括：确定待校准工序和至少一个基准工序，并分别确定每个所述基准工序处基准水分仪对应的基准值偏移量，其中，所述基准工序与所述待校准工序属于同一烟叶制丝流程中的不同工序，所述基准工序对应的工序执行时序晚于所述待校准工序对应的工序执行时序；基于预存储的与所述待校准工序对应的目标校准函数和每个所述基准工序处基准水分仪对应的基准值偏移量，确定所述待校准工序处待校准水分仪对应的零位偏移量，以基于所述零位偏移量对所述待校准工序处的所述待校准水分仪进行零位校准。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述确定至少一个基准工序，包括：基于所述烟草制丝流程中所包括的全部工序，确定至少一个候选工序；针对每个所述候选工序，获取在所述候选工序处与待测物料样本对应的水分检测值，以及在所述候选工序处与所述待测物料样本对应的水分仪显示值，并基于所述水分检测值、所述水分仪显示值以及所述待测物料样本的样本数量，确定与所述候选工序处的候选水分仪对应的误差精度；将所述误差精度满足预设误差条件的候选工序作为所述基准工序。3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述获取在所述候选工序处与待测物料样本对应的水分检测值，包括：确定在所述候选工序处所述待测物料样本对应的第一重量；对所述待测物料样本进行烘箱加热处理，确定与所述待测物料样本对应的第二重量；确定所述第一重量与所述第二重量之间的差值，得到第一差值，并确定所述第一差值与所述第一重量之间的比值，得到第一比值，将所述第一比值作为所述候选工序处与所述待测物料样本对应的水分检测值。4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述分别确定每个所述基准工序处基准水分仪对应的基准值偏移量，包括：针对每个所述基准工序处的基准水分仪：获取预存储的与所述基准水分仪对应的标准正态分布曲线；获取多个物料样本在所述基准工序处的水分仪显示值，并基于多个所述水分仪显示值，构建实际正态分布曲线，其中，所述水分仪显示值是基于所述基准水分仪测量得到的；将所述标准正态分布曲线的对称中心线与所述实际正态分布曲线的对称中心线进行比对，以确定所述基准工序处的所述基准水分仪对应的基准值偏移量。5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述基于预存储的与所述待校准工序对应的目标校准函数和每个所述基准工序处基准水分仪对应的基准值偏移量，确定所述待校准工序处待校准水分仪对应的零位偏移量，包括：从多个候选校准工序对应的目标校准函数中，调取与所述待校准工序对应的目标...

【专利技术属性】
技术研发人员：郭昌耀，陆磊，殷延齐，温旭，胡雪亮，王国园，靳林坚，
申请(专利权)人：江苏中烟工业有限责任公司，
类型：发明
国别省市：