一种空间四颗粒不等径集合体的土水特征曲线的确定方法技术

技术编号:38544304 阅读:47 留言:0更新日期:2023-08-22 20:54
本发明专利技术公开了一种空间四颗粒不等径集合体的土水特征曲线的确定方法,包括:根据每一种预设基质吸力,确定相邻两个颗粒之间的液桥体积;根据相邻两个颗粒之间的液桥体积,确定每一种预设基质吸力对应的空间四颗粒不等径集合体的质量含水率;根据多个预设基质吸力和其对应的质量含水率,确定空间四颗粒不等径集合体的土水特征曲线。本发明专利技术基于液桥理论,根据多个预设基质吸力,求出多个预设吸力对应的四颗粒集合体中,每两个相邻颗粒之间的液桥体积,进一步得出预设基质吸力对应的多个质量含水率,从而确定了空间不等径四颗粒的土水特征曲线,本发明专利技术以多颗粒集合体为研究对象,更符合现实环境中土体的存在形式,故本发明专利技术得到土水特征曲线更准确。水特征曲线更准确。水特征曲线更准确。

【技术实现步骤摘要】
一种空间四颗粒不等径集合体的土水特征曲线的确定方法


[0001]本专利技术涉及岩土工程
,具体涉及一种空间四颗粒不等径集合体的土水特征曲线的确定方法。

技术介绍

[0002]在水文学中,土水特征曲线(SWCC)是定义非饱和土中土壤基质吸力和质量含水率之间关系最基本的概念之一,也是描述非饱和土水、温度和溶质运移建模的基本工具。
[0003]现有技术基于液桥理论计算出了两个不等径颗粒间的基质吸力,进而得到不等径两颗粒的土水特征曲线。
[0004]然而,实际土体多以颗粒集合体的形式作用于外界环境,现有技术是基于两个不等径颗粒得到土水特征曲线的,没有考虑当不等径颗粒数增多时对土水特征曲线产生的影响,不能准确地反映实际环境中,土壤基质吸力与质量含水率间的关系。

技术实现思路

[0005]为解决上述问题,本专利技术公开了一种空间四颗粒不等径集合体的土水特征曲线的确定方法。
[0006]本专利技术公开了一种空间四颗粒不等径集合体的土水特征曲线的确定方法,包括以下步骤:
[0007]根据每一种预设基质吸力,本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种空间四颗粒不等径集合体的土水特征曲线的确定方法,其特征在于,包括以下步骤:根据每一种预设基质吸力,确定相邻两个颗粒之间的液桥体积;根据相邻两个颗粒之间的液桥体积,确定每一种预设基质吸力对应的所述空间四颗粒不等径集合体的质量含水率;根据多个预设基质吸力和其对应的质量含水率,确定所述空间四颗粒不等径集合体的土水特征曲线。2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,根据每一种预设基质吸力,确定相邻两个颗粒之间的液桥体积,具体为:获取液桥对应的两颗粒中,每一颗粒的尺寸信息、液体表面张力和固液接触信息;根据每一种预设基质吸力、液桥对应的两颗粒中,每一颗粒的尺寸信息、液体表面张力和固液接触信息,确定液桥的轮廓信息;根据所述两颗粒中,每一颗粒的尺寸信息和液桥的轮廓信息确定相邻两个颗粒之间的液桥体积。3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,根据每一种预设基质吸力、液桥对应的两颗粒中,每一颗粒的尺寸信息、液体表面张力和固液接触信息,确定液桥的轮廓信息,具体为:根据每一种预设基质吸力、液桥对应的两颗粒中,每一颗粒的尺寸信息和液体表面张力构建杨

拉普拉斯方程;根据液桥对应的两颗粒中,每一颗粒的尺寸信息、固液接触信息和液桥的轮廓信息构建隐函数方程;根据所述杨

拉普拉斯方程和所述隐函数方程确定液桥的轮廓信息。4.根据权利要求2或3任一项所述的方法,其特征在于,所述液桥的轮廓...

【专利技术属性】
技术研发人员:蒲诚刘奉银李跃涛赵靖伟李敬昌李渤万克诚李超温家兴周画画张云广张会员龙耀东
申请(专利权)人:中国电建集团西北勘测设计研究院有限公司
类型:发明
国别省市:

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