【技术实现步骤摘要】
一种基于开关电容技术的低延时电平位移器
[0001]本专利技术属于电平位移器
,具体涉及一种基于开关电容技术的低延时电平位移器。
技术介绍
[0002]为了减少功耗,许多电子设备正在向低电压供电的方向发展,例如,处理器I/O电压从1.8V转为1.5V,处理器核心电路电压一般小于1V,而下一代微处理器甚至会使用更低的电源电压。与此同时,外围电路的工作电压仍为3V~5V以保证性能。因此,为了确保不同供电电压下工作的不同模块之间正确的数据通信,使用具有宽转换电压的电平位移器是非常必要的。
[0003]另外,传统的电平位移器在输入电平变换瞬间,会在上拉网络与下拉网络之间发生电平竞争现象,导致电平转换速度变慢并且功耗增大。
技术实现思路
[0004]为了解决现有技术中存在的上述问题,本专利技术提供了一种基于开关电容技术的低延时电平位移器。本专利技术要解决的技术问题通过以下技术方案实现:
[0005]本专利技术提供了一种基于开关电容技术的低延时电平位移器,包括:控制信号产生器、内部转换电路、锁存器电路和输出电路,其中,
[0006]所述控制信号产生器,用于根据输入电平的状态与低延时电平位移器的输出电平的状态产生控制信号,其中,所述输入电平的电平幅度为第一电源电压,所述输出电平的电平幅度为第二电源电压,所述第一电源电压低于所述第二电源电压;
[0007]所述内部转换电路包括两路输出支路,所述内部转换电路用于根据所述控制信号输出两路输出信号,在输入电平状态发生变化的瞬时状态下,一 ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种基于开关电容技术的低延时电平位移器,其特征在于,包括:控制信号产生器、内部转换电路、锁存器电路和输出电路,其中,所述控制信号产生器,用于根据输入电平(IN)的状态与低延时电平位移器的输出电平(Out)的状态产生控制信号(Vc),其中,所述输入电平(IN)的电平幅度为第一电源电压(V
DDL
),所述输出电平(Out)的电平幅度为第二电源电压(V
DDH
),所述第一电源电压(V
DDL
)低于所述第二电源电压(V
DDH
);所述内部转换电路包括两路输出支路,所述内部转换电路用于根据所述控制信号(Vc)输出两路输出信号(Vp和Vq),在输入电平状态发生变化的瞬时状态下,一路输出支路的输出信号变为瞬间低电压,另一路输出支路的输出信号保持为第二电源电压,在输入电平状态不变的稳定状态下,两路输出支路的输出信号(Vp和Vq)均保持为第二电源电压;所述锁存器电路,用于根据接收的两路输出信号(Vp和Vq)产生一对电平幅度为第二电源电压的低延时互补电平信号(Va和Va_b);所述输出电路根据所述低延时互补电平信号(Va和Va_b)产生所述输出电平(Out)。2.根据权利要求1所述的基于开关电容技术的低延时电平位移器,其特征在于,所述控制信号产生器,包括:反相器INV1、MOS开关s1、s2、s3、s4、s5和s6,电容C1、电容C2、电阻R3和电阻R4,其中,所述输入电平(IN)经过所述反相器INV1产生反相电平信号(INB);所述MOS开关s1、所述MOS开关s2、所述电阻R3和MOS开关s5依次串联;所述电容C1的第一极板连接在所述MOS开关s1与所述MOS开关s2之间,第二极板连接在所述电阻R3与所述MOS开关s5之间;所述MOS开关s3、所述MOS开关s4、所述电阻R4和MOS开关s6依次串联;所述电容C2的第一极板连接在所述MOS开关s3与所述MOS开关s4之间,第二极板连接在所述电阻R4与所述MOS开关s6之间;所述MOS开关s1的第一端与所述MOS开关s3的第一端连接,且连接接地端(VSS);所述MOS开关s6的第二端与所述MOS开关s5的第二端连接,且作为所述控制信号产生器的输出端输出控制信号(Vc);所述电阻R3与所述电阻R4的第一端均输入第一电源电压(V
DDL
);所述输入电平(IN)控制所述MOS开关s1和s4的通断,所述反相电平信号(INB)控制所述MOS开关s2和s3的通断,所述输出电平(Out)控制所述MOS开关s5的通断,与所述输出电平(Out)互补的输出电平互补信号(Out_b)控制所述MOS开关s6的通断。3.根据权利要求2所述的基于开关电容技术的低延时电平位移器,其特征在于,所述MOS开关s1、s2、s3和s4为低阈值电压MOS管,所述MOS开关s5和s6为高阈值电压MOS管。4.根据权利要求2所述的基于开关电容技术的低延时电平位移器...
【专利技术属性】
技术研发人员:梁宇华,万婧,朱樟明,
申请(专利权)人:西安电子科技大学重庆集成电路创新研究院,
类型:发明
国别省市:
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