【技术实现步骤摘要】
质谱图解析方法、装置、设备及存储介质
[0001]本申请涉及质谱图
，具体而言，涉及一种质谱图解析方法、装置、设备及存储介质。
技术介绍
[0002]质谱仪采集到的待测物质的质谱图的横坐标一般为飞行时间或质量数(即质荷比)，纵坐标一般为强度(如峰高)。由于质谱仪性能波动以及分辨率等因素限制，当用质量数作为质谱图横坐标时，采集到的质量数会在真实质量数附近波动。
[0003]目前，一般是基于质谱图上的特征峰对质量数进行校正后再对质量数进行取整操作，根据取整操作后的质量数以及质量数对应的特征峰确定待测物质的类型。
[0004]然而，当质谱图中的特征离子的横坐标在两个质量数中间位置时，不同的取整方法可能会导致特征离子的出峰位置发生偏移，进而导致待测物质的分类结果发生错误。
[0005]所以，如何降低待测物质的分类结果发生错误的概率是当前亟待解决的技术问题。
技术实现思路
[0006]本申请的目的在于，针对上述现有技术中的不足，提供一种质谱图解析方法、装置、设备及存储介质，可以降低待测物质...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种质谱图解析方法，其特征在于，所述方法包括：根据待测物质的质谱图获取质谱数据集，所述质谱数据集中包括多对质谱数据；根据所述质谱数据集、预设填充策略以及预设的高斯卷积核，对预设大小的原始像素矩阵中的像素单元进行像素值填充，得到初始像素矩阵，所述初始像素矩阵中的各像素单元的像素值包括第一颜色信息、第二颜色信息以及第三颜色信息；对所述初始像素矩阵进行边缘特征提取，得到边缘特征；将所述边缘特征输入预先训练得到的分类模型中，由所述分类模型进行分类检测处理，得到所述待测物质的类型，其中，所述分类模型基于预先构建的训练样本训练得到，所述训练样本包括对样本像素矩阵进行边缘特征提取所得到的样本边缘特征，所述样本像素矩阵中的各样本像素单元的像素值包括第一颜色信息、第二颜色信息以及第三颜色信息。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述质谱数据集、预设填充规则以及预设的高斯卷积核，对预设大小的原始像素矩阵中的像素单元进行像素值填充，得到初始像素矩阵，包括：根据利用所述高斯卷积核进行卷积操作的参数、所述原始像素矩阵的大小，将所述原始像素矩阵转换为中间像素矩阵；基于所述预设填充策略，确定与所述质谱数据集中每对质谱数据关联的所述中间像素矩阵中的目标像素单元以及所述目标像素单元的邻域像素单元；根据所述目标像素单元、所述目标像素单元的邻域像素单元、预设的高斯卷积核以及所述质谱数据集，对所述中间像素矩阵中的像素单元进行像素值填充，得到初始像素矩阵。3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述根据所述目标像素单元、所述目标像素单元的邻域像素单元、预设的高斯卷积核以及所述质谱数据集，对所述中间像素矩阵中的像素单元进行像素值填充，得到初始像素矩阵，包括：将所述质谱数据集中的每对质谱数据填充至对应的目标像素单元中，得到所述目标像素单元的第一颜色信息以及第二颜色信息，所述第一颜色信息用于表征每对质谱数据中的强度、所述第二颜色信息用于表征每对质谱数据中的质量数；根据所述目标像素单元的邻域像素单元以及预设插值策略，得到所述目标像素单元的邻域像素单元的第一颜色信息以及第二颜色信息；根据所述目标像素单元、所述目标像素单元的邻域像素单元分别对应的第一颜色信息、第二颜色信息以及所述高斯卷积核对像素矩阵进行滑动滤波处理，得到各像素单元分别对应的第三颜色信息；根据所述目标像素单元的邻域像素单元的第一颜色信息以及第二颜色信息、各像素单元分别对应的第三颜色信息，得到初始像素矩阵。4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述对所述初始像素矩阵进行边缘特征提取，得到边缘特征，包括：根据所述初始像素矩阵中各像素单元的像素值以及预设的卷积模版对所述初始像素矩阵进行图像膨胀操作，得到图像膨胀操作后的像素矩阵；对图像膨胀操作后的像素矩阵进行边缘特征提取，得到边缘特征。5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述对图像膨胀操作后的像素矩阵进行边缘特征提取，得到边缘特征，包括：
根据预设的拉普拉斯模版对所述图像膨胀操作后的像素矩阵进行图像锐化操作，得到所述图像膨胀操作后的像素矩阵中的多个孤立点；根据所述图像膨胀操作后...
【专利技术属性】
技术研发人员：陈林，
申请(专利权)人：广东省麦思科学仪器创新研究院，
类型：发明
国别省市：
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