【技术实现步骤摘要】
一种基于高光谱偏振成像的目标毁伤效果评估方法
[0001]本专利技术属于光谱偏振探测
,特别是一种基于高光谱偏振成像的目标毁伤效果评估方法。
技术介绍
[0002]目标毁伤效果评估是现代武器装备系统发展的重要依据,精准的目标毁伤效果评估是现场作战制定应战方案、配置攻击武器必不可少的重要环节,也是武器装备技术的升级和优化的重要依据。
[0003]对于目标毁伤效果的评估方法大致分为三种:人工判读的方法,此类方法简单可靠,但是需要人工参与,评估时间长;基于贝叶斯理论的毁伤评估方法,此类方法可以充分利用各类信息,但是很少用到人工判读的知识经验;基于图像分析的毁伤效果评估方法,此类方法充分利用了人的经验作为先验知识,且图像处理算法速度快,但是由于战场环境的复杂多变,传统的基于目标光强信息的探测技术很难满足需求,导致评估结果不稳定。而高光谱偏振成像技术作为一种先进的光学测量手段,将目标介质的光谱信息、偏振信息、二维图像信息的探测技术融合于一体,为目标的识别和分析提供了更加丰富的信息源,有利于提高目标毁伤效果的评估能力。r/>
技术实现思路
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【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种基于高光谱偏振成像的目标毁伤效果评估方法,其特征在于,所述方法包括以下步骤:步骤1,采集目标毁伤前后的高光谱偏振图像;步骤2,对目标毁伤前后的高光谱偏振图像进行预处理;步骤3,利用灰度共生矩阵法提取预处理后的图像纹理特征,计算目标毁伤前后的纹理特征变化;步骤4,综合目标毁伤前后纹理特征变化,对目标的毁伤效果进行评估。2.根据权利要求1所述的基于高光谱偏振成像的目标毁伤效果评估方法,其特征在于,步骤1中所述采集目标毁伤前后的高光谱偏振图像,具体采用基于液晶调制的高光谱偏振成像系统实现。3.根据权利要求2所述的基于高光谱偏振成像的目标毁伤效果评估方法,其特征在于,所述基于液晶调制的高光谱偏振成像系统包括沿光轴依次设置的前置成像物镜(1)、光阑(2)、准直物镜(3)、偏振调制模块(4)、光谱调谐模块(5)、后置成像物镜(6)和面阵探测器(7);入射光经过前置成像物镜(1)、光阑(2)、准直物镜(3)、偏振调制模块(4)后,在一个调制周期内可产生四种不同偏振状态的光,再经光谱调谐模块(5)和后置成像物镜(6),最终成像在面阵探测器(7)上,采集到不同波段下,具有四种不同偏振状态的光谱偏振图像。4.根据权利要求3所述的基于高光谱偏振成像的目标毁伤效果评估方法,其特征在于,所述偏振调制模块(4)包括沿光轴依次设置的铁电液晶(4.1)、半波片(4.2)、铁电液晶(4.3)和四分之一波片(4.4)。5.根据权利要求4所述的基于高光谱偏振成像的目标毁伤效果评估方法,其特征在于,所述光谱调谐模块(5)为液晶可调谐滤光器。6.根据权利要求5所述的基于高光谱偏振成像的目标毁伤效果评估方法,其特征在于,步骤2所述对目标毁伤前后的高光谱偏振图像进行预处理,具体过程包括:步骤2
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1,采用局部上采样相位相关法,对目标毁伤前后的高光谱偏振图像进行图像配准;步骤2
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2,针对配准后的高光谱偏振图像,利用全偏振复原算法,复原出每个波段下的Stokes矢量图象S0,S1,S2,S3,进而计算出目标的DOP图像:步骤2
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3,对所有波段下目标毁伤前后的DOP图像进行融合:式中,M和N分别表示图像的宽度和高度,n表示所选取的光谱通道数目,DOP
k
(i,j)表示第k个光谱通道下DOP图像的每一个像素点(i,j)的值。7.根据权利要求6所述的基于高光谱偏振成像的目标毁伤效果评估方法,其特征在于,
步骤3所述利用灰度共生矩阵法提取预处理后的图像纹理特征,计算目标毁伤前后的纹理变化,具体过程包括:步骤3
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1,将DOP图像灰度级压缩至...
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