一种孔轴轴线空间对齐装置及方法制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种孔轴轴线空间对齐装置及方法，所述装置及方法利用高精度非接触式位移传感器对待对齐轴和孔的端面相对位置与轴线相对位置进行测量，分步实现轴和孔端面的平行及轴和孔轴线的空间对齐，该方法采用非接触式测量方法，测量方式灵活可靠，测量时不存在接触应力造成的测量误差，相比现有的肉眼观察或者人工测量的方式，具有较高的精度，可适用于对齐精度较高的场合。于对齐精度较高的场合。于对齐精度较高的场合。

【技术实现步骤摘要】
一种孔轴轴线空间对齐装置及方法


[0001]本专利技术涉及机械测量对接领域，尤其涉及一种孔轴轴线空间对齐装置及方法。

技术介绍

[0002]孔结构与轴结构在机械工程领域经常需要进行轴线对齐，目前实际工程中主要通过肉眼观察及人工测量的方式完成孔轴轴线对齐，但此种方法对于对齐精度较高的场合不适用，因此，有必要提出一种孔轴轴线空间对齐的新方法。

技术实现思路

[0003]有鉴于此，本专利技术提出一种孔轴轴线空间对齐装置及方法，该装置和方法能够通过位移传感器实时测量并指示孔的转动调整方向和位移调整方向，实现孔轴轴线对齐。
[0004]为达此目的，本专利技术提出以下技术方案：一种孔轴轴线空间对齐装置，所述装置以孔端面所在圆的圆心为坐标原点，竖直向上为Z轴正方向，X轴平行于孔1的轴线，坐标原点指向孔内部的方向为X轴正方向。
[0005]所述装置包括安装在孔外围结构上6个非接触式位移传感器和安装在轴上的面平行测量基准件；
[0006]所述6个非接触式位移传感器，其中3个非接触式位移传感器的测量方向沿孔轴向方向且均平行于本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种孔轴轴线空间对齐装置，所述装置以孔端面所在圆的圆心为坐标原点，X轴平行于孔的轴线，以孔圆心指向孔上顶部的方向为Z轴正方向建立坐标系；其特征在于，所述装置包括安装在孔外围结构上6个非接触式位移传感器和安装在轴上的面平行测量基准件；所述6个非接触式位移传感器，其中3个非接触式位移传感器的测量方向沿孔轴向方向且均平行于X轴，3个非接触式位移传感器沿X轴方向的相对距离为0；另外3个非接触式位移传感器的测量方向沿孔径向方向，其中两个非接触式位移传感器的测量方向均平行于Y轴且测量方向相反，且测头中心的连线与孔轴线垂直并相交；另外一个非接触式位移传感器的测头测量方向平行于Z轴，且测头中心与测量方向形成的直线与孔轴线垂直并相交，所述另外3个非接触式位移传感器的测头与孔轴线之间的距离相同；所述面平行测量基准件与轴端面平行。2.根据权利要求1所述的孔轴轴线空间对齐装置，其特征在于，所述测量方向沿孔轴向方向的3个非接触式位移传感器，其中第一非接触式位移传感器和第二非接触式位移传感器的测头中心的连线平行于Y轴，两者测头中心之间的距离为L1，第一非接触式位移传感器和第三非接触式位移传感器的测头中心的连线平行于Z轴，两者测头中心之间的距离为L2。3.一种孔轴轴线空间对齐方法，其特征在于，所述方法基于权利要求2所述的孔轴轴线空间对齐装置进行，包括：S1：调整孔的位置，使所有非接触式位移传感器的读数在量程范围内；S2：利用测量方向沿孔轴向方向的3个非接触式位移传感器测量并调整孔和轴...

【专利技术属性】
技术研发人员：井庆祝，刘祥，于洋，郑贵强，谢晓峰，闫锋，
申请(专利权)人：中国工程物理研究院电子工程研究所，
类型：发明
国别省市：