微粒位置对场强分布的分类方法、系统、存储介质及设备技术方案

本发明专利技术实施例公开了微粒位置对场强分布影响的分类方法，该方法包括下列步骤：构建有限元仿真模型；并根据所述有限元仿真模型确定微粒位置对升高座关键部件表面场强的影响数据；最后根据分类算法对所述影响数据进行分类，获取若干个影响程度的微粒位置分类结果，这种方法能够获取升高座内部的微粒对其内部电场的影响程度，并根据该影响程度对微粒位置进行划分，从而为分析微粒影响升高座运行的稳定性提供参数。定性提供参数。定性提供参数。

【技术实现步骤摘要】
微粒位置对场强分布的分类方法、系统、存储介质及设备


[0001]本专利技术涉及数据处理
，尤其涉及微粒位置对场强分布的分类方法、系统、存储介质及设备。

技术介绍

[0002]电力变压器是电力系统中极其重要的设备之一，它联系着不同电压等级的电力网络，对电能的安全运输和灵活配送起着至关重要的作用，而升高座是变压器的重要支撑结构，其内部的金属微粒对升高座内部的电场分布影响很大，这会影响变压器的工作状态；因此，获取金属微粒对升高座内部的电场分布的影响情况，可以为分析金属微粒对升高座运行稳定性的影响提供参数。

技术实现思路

[0003]基于此，有必要针对上述问题，提出了一种微粒位置对场强分布的分类方法。
[0004]一种微粒位置对场强分布的分类方法，所述方法包括下列步骤：
[0005]构建有限元仿真模型；
[0006]根据所述有限元仿真模型确定微粒位置对升高座关键部件表面场强的影响数据；
[0007]根据分类算法对所述影响数据进行分类，获取若干个影响程度的微粒位置分类结果。
>[0008]上述方本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.微粒位置对场强分布的分类方法，其特征在于，所述方法包括下列步骤：构建有限元仿真模型；根据所述有限元仿真模型确定微粒位置对升高座关键部件表面场强的影响数据；根据分类算法对所述影响数据进行分类，获取若干个影响程度的微粒位置分类结果。2.根据权利要求1所述的微粒位置对场强分布的分类方法，其特征在于，所述构建有限元仿真模型，具体包括：根据几何导入单元、网格绘制单元、边界条件单元、材料设置单元、求解器单元、影响数据输出单元构建有限元仿真模型。3.根据权利要求1所述的微粒位置对场强分布的分类方法，其特征在于，所述升高座关键部件为：升高座内部的均压球、均压环和引线。4.根据权利要求2所述的微粒位置对场强分布的分类方法，其特征在于，所述根据所述有限元仿真模型确定微粒位置对升高座关键部件表面场强的影响数据，具体包括：在所述几何导入单元导入升高座三维模型；通过蒙卡洛算法在所述升高座三维模型内部随机分布微粒；根据所述网格绘制单元对包含微粒的升高座三维模型进行离散化；在所述边界条件单元中预设边界条件；在所述材料设置单元预设所述升高座关键部件的材料参数；根据所述边界条件和材料参数在所述求解器单元确定微粒位置对升高座关键部件表面场强的影响；所述影响数据输出单元根据微粒位置对升高座关键部件表面场强的影响生成并且输出影响数据表。5.根据权利要求4所述的微粒位置对场强分布的分类方法，其特征在于，所述根据所述边界条件和材料参数在所述求解器单元确定微粒位置对升高座关键部件表面场强的影响还包括：判断所述微粒在升高座内部的分布密度与固定值的比较关系。6.根据权利要求5所述的微粒位置对场强分布的分类方法，其特征在于，所述判断所述微粒在升高座内部的分布密度与固定值的比较关系，具体包括：当所述分布密度≤固定值，重新生成微粒位置；当所述分布密度＞固定值，输出所述微粒位置对升高座关键部件表面场强的影响数据表。7.根据权利要求6所述的微粒位置对场强分布的分类方法，其特征在于，所述根据所述有限元仿真模型确定微粒位置对升高座关键部件表面场强的影响数据还包括：在所述升高座三维模型内部重新生成微粒后，重...

【专利技术属性】
技术研发人员：彭庆军，朱晓霰，钱国超，邹德旭，周仿荣，王浩州，王山，邹阅培，
申请(专利权)人：云南电网有限责任公司电力科学研究院，
类型：发明
国别省市：