一种基于刻度尺的抄垫块相对位移测量方法、装置及设备制造方法及图纸

本发明专利技术属于顶推模拟实验中抄垫块相对滑移测量技术领域，公开了一种基于刻度尺的抄垫块相对位移测量方法、装置及设备，包括：实时获取沿水平方向布设在相邻两层抄垫块上的刻度尺图像，其中，每个所述刻度尺图像上包括一条竖直标记线；读取相邻两层抄垫块上的刻度尺图像上竖直标记线的当前相对距离；根据所述当前相对距离与相邻两层抄垫块上的刻度尺图像上竖直标记线的初始相对距离计算得到抄垫块相对位移。本发明专利技术提高了测量精度和整体性，并且可以对抄垫间相对位移进行实时监测。可以对抄垫间相对位移进行实时监测。可以对抄垫间相对位移进行实时监测。

【技术实现步骤摘要】
一种基于刻度尺的抄垫块相对位移测量方法、装置及设备


[0001]本专利技术属于顶推模拟实验中抄垫块相对滑移测量
，具体涉及一种基于刻度尺的抄垫块相对位移测量方法、装置及设备。

技术介绍

[0002]目前，通常采用千分表来测量抄垫块之间的相对位移，在实验过程中需要把实验装置停止来读取千分表的读数，而此实验也会受到一定的环境因素的影响，所以实验装置的开启与停止也可能会对实验结果造成一定的影响。其次，在实验过程中进行读数也是比较耗费时间和人力，增长了实验周期和实验难度。

技术实现思路

[0003]针对现有技术中存在的问题，本专利技术提供了一种基于刻度尺的抄垫块相对位移测量方法、装置及设备，提高了测量精度和整体性，并且可以对抄垫间相对位移进行实时监测。
[0004]为了解决上述技术问题，本专利技术通过以下技术方案予以实现：
[0005]一种基于刻度尺的抄垫块相对位移测量方法，包括：
[0006]实时获取沿水平方向布设在相邻两层抄垫块上的刻度尺图像，其中，每个所述刻度尺图像上包括一条竖直标记线；
[0007]读取相邻两层抄垫块上的刻度尺图像上竖直标记线的当前相对距离；
[0008]根据所述当前相对距离与相邻两层抄垫块上的刻度尺图像上竖直标记线的初始相对距离计算得到抄垫块相对位移。
[0009]进一步地，所述根据所述当前相对距离与相邻两层抄垫块上的刻度尺图像上竖直标记线的初始相对距离计算得到抄垫块相对位移之后，还包括：
[0010]将所述抄垫块相对位移与预设的相对位移限值比较；
[0011]当所述抄垫块相对位移超过所述预设的相对位移限值时，进行预警。
[0012]进一步地，所述根据所述当前相对距离与相邻两层抄垫块上的刻度尺图像上竖直标记线的初始相对距离计算得到抄垫块相对位移，具体为：
[0013]利用所述当前相对距离减去所述相邻两层抄垫块上的刻度尺图像上竖直标记线的初始相对距离，即得到抄垫块相对位移。
[0014]进一步地，所述实时获取沿水平方向布设在相邻两层抄垫块上的刻度尺图像之前，还包括：
[0015]分别在相邻两层抄垫块上沿水平方向布设刻度尺，并在每个所述刻度尺上做一条竖直的标记线。
[0016]进一步地，所述相邻两层抄垫块上布设的刻度尺相互靠近并对齐。
[0017]进一步地，每层抄垫块上的刻度尺采用贴附的方式布设。
[0018]一种基于刻度尺的抄垫块相对位移测量装置，包括：
[0019]获取模块，用于实时获取沿水平方向布设在相邻两层抄垫块上的刻度尺图像，其中，每个所述刻度尺图像上包括一条竖直标记线；
[0020]读取模块，用于读取相邻两层抄垫块上的刻度尺图像上竖直标记线的当前相对距离；
[0021]计算模块，用于根据所述当前相对距离与相邻两层抄垫块上的刻度尺图像上竖直标记线的初始相对距离计算得到抄垫块相对位移。
[0022]进一步地，所述获取模块连接有摄像头，通过所述摄像头获取沿水平方向布设在相邻两层抄垫块上的刻度尺图像。
[0023]一种设备，包括存储器、处理器以及存储在所述存储器中并可在所述处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现所述的一种基于刻度尺的抄垫块相对位移测量方法的步骤。
[0024]一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现所述的一种基于刻度尺的抄垫块相对位移测量方法的步骤。
[0025]与现有技术相比，本专利技术至少具有以下有益效果：
[0026]本专利技术提供的一种基于刻度尺的抄垫块相对位移测量方法，通过实时获取沿水平方向布设在相邻两层抄垫块上的刻度尺图像，并读取相邻两层抄垫块上的刻度尺图像上竖直标记线的当前相对距离，根据当前相对距离与相邻两层抄垫块上的刻度尺图像上竖直标记线的初始相对距离计算得到抄垫块相对位移。本专利技术在测量时不需要接触抄垫块装置，不需要关闭实验装置进行读数，可以保证实验的连续性和测量的连续性，可以实时监测抄垫块之间的相对位移变化，提高了测量精度和整体性。
[0027]为使本专利技术的上述目的、特征和优点能更明显易懂，下文特举较佳实施例，并配合所附附图，作详细说明如下。
附图说明
[0028]为了更清楚地说明本专利技术具体实施方式中的技术方案，下面将对具体实施方式描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本专利技术的一些实施方式，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0029]图1为本专利技术一种基于刻度尺的抄垫块相对位移测量方法的流程图；
[0030]图2为本专利技术实施例一种基于刻度尺的抄垫块相对位移测量装置的示意图图；
[0031]图3为本专利技术实施例中实验时由于抄垫块相对位移所显示的毫米刻度尺变化示意图；
[0032]图4为本专利技术实施例抄垫试件侧视图。
[0033]图5为本专利技术实施例所贴刻度尺的详细图。
[0034]图中：1
‑
毫米刻度尺；2
‑
抄垫试件；3
‑
高速摄像头；4
‑
计算机；5
‑
抄垫块；6
‑
螺栓螺帽。
具体实施方式
[0035]为使本专利技术实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合附图对本专利技术
的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。
[0036]结合图1至图3所示，本专利技术实施例提供了一种基于刻度尺的抄垫块相对位移测量方法，具体包括以下步骤：
[0037]S1、实时获取沿水平方向布设在相邻两层抄垫块上的刻度尺图像，其中，每个刻度尺图像上包括一条竖直标记线。
[0038]需要说明的是，如图2所示，在获取沿水平方向布设在相邻两层抄垫块上的刻度尺图像之前，分别在相邻两层抄垫块上沿水平方向布设刻度尺，并在每个刻度尺上做一条竖直的标记线。
[0039]较佳的，相邻两层抄垫块上布设的刻度尺相互靠近并对齐，示例的，第n层抄垫块上的刻度尺布设在靠近第n层抄垫块顶部的位置，第n+1层抄垫块上的刻度尺布设在靠近第n+1层抄垫块底部的位置。
[0040]优选的，每层抄垫块上的刻度尺采用贴附的方式布设。示例的，刻度尺为柔性刻度尺，采用胶粘的方式将刻度尺沿水平方向粘在抄垫块上，可以直接粘在超垫块的侧面，简单方便，且在实验过程中不易受到损坏，进一步减少了测量系统的费用。
[0041]S2、读取相邻两层抄垫块上的刻度尺图像上竖直标记线的当前相对距离。
[0042]S3、根据当前相对距离与相邻两层抄垫块上的刻度尺图像上竖直标记线的初始相对距离计算得到抄垫块相对位移，具体计算方法为：
...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种基于刻度尺的抄垫块相对位移测量方法，其特征在于，包括：实时获取沿水平方向布设在相邻两层抄垫块上的刻度尺图像，其中，每个所述刻度尺图像上包括一条竖直标记线；读取相邻两层抄垫块上的刻度尺图像上竖直标记线的当前相对距离；根据所述当前相对距离与相邻两层抄垫块上的刻度尺图像上竖直标记线的初始相对距离计算得到抄垫块相对位移。2.根据权利要求1所述的一种基于刻度尺的抄垫块相对位移测量方法，其特征在于，所述根据所述当前相对距离与相邻两层抄垫块上的刻度尺图像上竖直标记线的初始相对距离计算得到抄垫块相对位移之后，还包括：将所述抄垫块相对位移与预设的相对位移限值比较；当所述抄垫块相对位移超过所述预设的相对位移限值时，进行预警。3.根据权利要求1所述的一种基于刻度尺的抄垫块相对位移测量方法，其特征在于，所述根据所述当前相对距离与相邻两层抄垫块上的刻度尺图像上竖直标记线的初始相对距离计算得到抄垫块相对位移，具体为：利用所述当前相对距离减去所述相邻两层抄垫块上的刻度尺图像上竖直标记线的初始相对距离，即得到抄垫块相对位移。4.根据权利要求1所述的一种基于刻度尺的抄垫块相对位移测量方法，其特征在于，所述实时获取沿水平方向布设在相邻两层抄垫块上的刻度尺图像之前，还包括：分别在相邻两层抄垫块上沿水平方向布设刻度尺，并在每个所述刻度尺上做一条竖直的标记线。5.根据权利要求4...

【专利技术属性】
技术研发人员：朱宝明，卜延渭，丑阿康，王浩，张毅毅，毕小鹏，张荔，张庚，李泽伟，
申请(专利权)人：陕西建工机械施工集团有限公司，
类型：发明
国别省市：