一种细粒度自适应主板功能测项选择方法及系统技术方案

本发明专利技术公开了一种细粒度自适应主板功能测项选择方法及系统，包括如下步骤：S1：分析主板电路图，建立针对主板功能测试的故障树；S2：对所述故障树进行可靠性分析，获得所述故障树中的顶事件和中间事件的发生概率表达式；S3：搜集整理故障主板的维修数据并统计故障树中基本事件的发生概率，设定主板功能测项的不良率阈值；S4：当测试主板型号发生切换时，设定切换后主板功能测试的不良率阈值；S5：计算主板功能测项的实际不良率，将所述实际不良率和对应主板型号的不良率阈值进行比较，得到主板功能测项的测试策略；该测项选择方法为主板功能测试的不同阶段设计出优于其他测项选择方法的不良率阈值组合。的不良率阈值组合。的不良率阈值组合。

【技术实现步骤摘要】
一种细粒度自适应主板功能测项选择方法及系统


[0001]本专利技术涉及主板测试
，尤其涉及一种细粒度自适应主板功能测项选择方法及系统。

技术介绍

[0002]随着电子信息技术的发展，人们对电子产品的需求越来越高。笔记本电脑作为主要的电子产品，在人们的生活和工作中发挥了重要的作用，用户对其质量要求也越来越高。随着超大规模集成电路和片上系统的发展，笔记本电脑的功能主要集成在主板上，所以笔记本成品的故障多发生于主板。由于成品阶段测试出的故障主板会造成更高的返修成本，目前主流的笔记本制造厂商往往在成品测试前加入主板功能测试环节，但是主板功能测试环节产生的测试成本不容忽视。
[0003]由于主板生产具有大规模、高良率的特征，可以通过测项选择方法对挑选出的部分功能测项进行测试，该方法能够同时减少不良主板和合格主板的测试成本。
[0004]目前行业现行的测项选择方法是仅测试不良率高于阈值的测试项目，若不良率阈值设置过高容易造成大量不良主板流入成品测试阶段，反之，测试过于严格导致花费大量的时间成本。因而，设置科学合理的不良率阈值是主板功能本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种细粒度自适应主板功能测项选择方法，其特征在于，包括如下步骤：S1：分析主板电路图，建立针对主板功能测试的故障树；S2：对所述故障树进行可靠性分析，获得所述故障树中的顶事件和中间事件的发生概率表达式；S3：搜集整理故障主板的维修数据并统计故障树中基本事件的发生概率，使用自底向上的阈值设定方法，基于所述基本事件的发生概率以及故障树中的顶事件和中间事件的发生概率表达式设定主板功能测项的不良率阈值；S4：当测试主板型号发生切换时，根据步骤S1至S3重新建立切换后主板功能测试的故障树并基于自顶向下阈值设定方法设定切换后主板功能测试的不良率阈值；S5：统计实际产线上主板的测试数据，计算主板功能测项的实际不良率，将所述实际不良率和对应主板型号的不良率阈值进行比较，得到主板功能测项的测试策略。2.根据权利要求1所述的细粒度自适应主板功能测项选择方法，其特征在于，在步骤S1：分析主板电路图，建立针对主板功能测试的故障树中，具体包括：系统分析主板的原理图，将主板分为CPU模块、PCH芯片组模块、EC模块和各功能模块，其中各功能模块与主板功能测项直接对应；系统分析各功能模块的故障原因，所述故障原因包括测项功能模块本身故障、与测项功能模块直接相连的功能模块故障以及连接两功能模块的总线或接口故障；通过分析主板的生产工艺流程和故障主板的维修记录数据，确定引发主板功能测项故障的根本原因；以主板故障为顶事件，以主板功能测项故障为中间事件，以引发主板功能测项故障的根本原因为基本事件，建立针对主板功能测试环节的故障树。3.根据权利要求2所述的细粒度自适应主板功能测项选择方法，其特征在于，在步骤S2：对所述故障树进行可靠性分析，获得所述故障树中的顶事件和中间事件的发生概率表达式中，具体包括：将所述故障树结构化简，化简后的故障树中上层事件均通过或门和下层事件相连；基于化简后的故障树得到顶事件和中间事件的发生概率；所述顶事件和中间事件的发生概率表达式如下：其中，示中间事件M
j
或顶事件T的发生概率，S表示故障树化简后顶事件对应的基本事件集合或者故障树分支化简后中间事件对应的基本事件集合，表示基本事件X
i
的发生概率，i＝1,2,...,,＝1,2,...,。4.根据权利要求3所述的细粒度自适应主板功能测项选择方法，其特征在于，在步骤S3：搜集整理故障主板的维修数据并统计故障树中基本事件的发生概率，使用自底向上的阈值设定方法，基于基本事件的发生概率以及故障树中的顶事件和中间事件的发生概率表达式设定主板功能测项的不良率阈值中，具体包括：当历史数据丰富时，搜集整理故障主板的维修数据并统计故障树中基本事件的发生概
率，基于所述顶事件和中间事件的发生概率表达式，计算得到顶事件和中间事件的发生概率P
T
和基于顶事件和中间事件的发生概率P
T
和设定主板和功能测项的不良率阈值β
j or T
；不良率阈值β
j or T
设定如下：其中，β
j
为功能测项j对应的不良率阈值，β
T
为主板对应的不良率阈值。5.根据权利要求4所述的细粒度自适应主板功能测项选择方法，其特征在于，在步骤S4：当测试主板型号发生切换时，根据步骤S1至S3重新建立切换后主板功能测试的故障树并基于自顶向下阈值设定方法设定切换后主板功能测试的不良率阈值；重新分析切换后主板电路图，建立针对切换后主板功能测试的故障树；基于同类基本事件的发生概率相近，不同类基本事件的发生概率存在差别，将基本事件分成三类：总线及接口连接故障、芯片自身故障和芯片焊接不良，分别记为B1、B2和B3；假设三类基本事件的发生概率成比例为1:r1:2，则三类基本事件的发生概率分别为p、r1p、r2p，基于所述顶事件和中间事件的发生概率表达式，得到切换后主板的顶事件和中间事件仅包含未知数p的发生概率表达式；设定切换后主板对应的不良率阈值β
T
为500<...

【专利技术属性】
技术研发人员：赵云波，李瑶瑶，王康成，康宇，柏鹏，
申请(专利权)人：合肥综合性国家科学中心人工智能研究院安徽省人工智能实验室，
类型：发明
国别省市：