计算存储性能指标数据参考值的方法、装置、设备及介质制造方法及图纸

本发明专利技术提供了一种计算存储性能指标数据参考值的方法、装置、设备及可读介质，方法包括：获取存储性能指标数据的历史数据，并将历史数据以时间单位划分为若干周期单元；采用滑动窗口方式对每个周期单元内的历史数据进行逐点采样以得到每个周期单元每个时刻的采样数据；计算每个时刻的采样数据的样本均值和标准差；根据预设公式计算每个时刻的存储性能指标数据的参考值。通过使用本发明专利技术的方案，能够避免提前进行大量实验或测试获得阈值，能够降低对特定环境的要求，当软硬件或配置等任一环境发生改变时，可以不必重新进行实验测试，从而大量降低人力、财力和时间的耗费。财力和时间的耗费。财力和时间的耗费。

【技术实现步骤摘要】
计算存储性能指标数据参考值的方法、装置、设备及介质


[0001]本专利技术涉及计算机领域，并且更具体地涉及一种计算存储性能指标数据参考值的方法、装置、设备及可读介质。

技术介绍

[0002]存储性能指标数据是衡量存储性能好坏的重要指标，为了判断某一时间段性能指标数据是否正常，有以下方式：第一种是通过人工经验判断，但此方式对运维人员的技术、经验能力及精力要求较高，且不适合应用于系统自动化识别。第二种是设置阈值，此方式需要用户提前进行大量实验或测试，方可获得阈值数据，实验测试需要消耗一定人力、财力和时间，且对测试人员的专业技术能力有一定要求，并且通过实验或测试检测的阈值数据，只对特定环境有效，当软硬件或配置等任一环境发生改变，需要重新进行实验测试，而重新实验和测试意味着需要重复投入人力、财力和时间。

技术实现思路

[0003]有鉴于此，本专利技术实施例的目的在于提出一种计算存储性能指标数据参考值的方法、装置、设备及可读介质，通过使用本专利技术的技术方案，能够避免提前进行大量实验或测试获得阈值，能够降低对特定环境的要求，当软硬件或配置等任一环境发生改变时，可以不必重新进行实验测试，从而大量降低人力、财力和时间的耗费。
[0004]基于上述目的，本专利技术的实施例的一个方面提供了一种计算存储性能指标数据参考值的方法，包括以下步骤：
[0005]获取存储性能指标数据的历史数据，并将历史数据以时间单位划分为若干周期单元；
[0006]采用滑动窗口方式对每个周期单元内的历史数据进行逐点采样以得到每个周期单元每个时刻的采样数据；
[0007]计算每个时刻的采样数据的样本均值和标准差；
[0008]根据预设公式计算每个时刻的存储性能指标数据的参考值。
[0009]根据本专利技术的一个实施例，存储性能指标数据包括IOPS、时延和带宽。
[0010]根据本专利技术的一个实施例，获取存储性能指标数据的历史数据，并将历史数据以时间单位划分为若干周期单元包括：
[0011]获取存储性能指标数据中的预设时间段内的历史数据；
[0012]将历史数据以天为单位划分为若干周期单元。
[0013]根据本专利技术的一个实施例，采用滑动窗口方式对每个周期单元内的历史数据进行逐点采样以得到每个周期单元每个时刻的采样数据包括：
[0014]将每分钟一个历史数据设定为一个时刻的采样点；
[0015]设定每个时刻的采样数据的范围；
[0016]计算每个周期单元内每个时刻的采样数据对应的采样数据范围内的最大值或最
小值，并将最大值或最小值作为每个时刻的采样数据。
[0017]根据本专利技术的一个实施例，计算每个时刻的采样数据的样本均值和标准差包括：
[0018]计算所有周期单元内相同时刻的采样数据的样本均值和标准差。
[0019]根据本专利技术的一个实施例，根据预设公式计算每个时刻的存储性能指标数据的参考值包括：
[0020]响应于使用最大值作为每个时刻的采样数据，使用公式ReferenceValue＝μ3+k*σ3计算每个时刻的存储性能指标数据的参考值，其中ReferenceValue为存储性能指标数据的参考值，μ3为一个时刻采样数据的样本均值，σ3为一个时刻采样数据的标准差，其中k∈{1,2,3}。
[0021]根据本专利技术的一个实施例，根据预设公式计算每个时刻的存储性能指标数据的参考值包括：
[0022]响应于使用最小值作为每个时刻的采样数据，使用公式ReferenceValue＝μ3‑
k*σ3计算每个时刻的存储性能指标数据的参考值，其中ReferenceValue为存储性能指标数据的参考值，μ3为一个时刻采样数据的样本均值，σ3为一个时刻采样数据的标准差，其中k∈{1,2,3}。
[0023]本专利技术的实施例的另一个方面，还提供了一种计算存储性能指标数据参考值的装置，装置包括：
[0024]划分模块，划分模块配置为获取存储性能指标数据的历史数据，并将历史数据以时间单位划分为若干周期单元；
[0025]采样模块，采样模块配置为采用滑动窗口方式对每个周期单元内的历史数据进行逐点采样以得到每个周期单元每个时刻的采样数据；
[0026]第一计算模块，第一计算模块配置为计算每个时刻的采样数据的样本均值和标准差；
[0027]第二计算模块，第二计算模块配置为根据预设公式计算每个时刻的存储性能指标数据的参考值。
[0028]本专利技术的实施例的另一个方面，还提供了一种计算机设备，该计算机设备包括：
[0029]至少一个处理器；以及
[0030]存储器，存储器存储有可在处理器上运行的计算机指令，指令由处理器执行时实现上述任意一项方法的步骤。
[0031]本专利技术的实施例的另一个方面，还提供了一种计算机可读存储介质，计算机可读存储介质存储有计算机程序，计算机程序被处理器执行时实现上述任意一项方法的步骤。
[0032]本专利技术具有以下有益技术效果：本专利技术实施例提供的计算存储性能指标数据参考值的方法，通过获取存储性能指标数据的历史数据，并将历史数据以时间单位划分为若干周期单元；采用滑动窗口方式对每个周期单元内的历史数据进行逐点采样以得到每个周期单元每个时刻的采样数据；计算每个时刻的采样数据的样本均值和标准差；根据预设公式计算每个时刻的存储性能指标数据的参考值的技术方案，能够避免提前进行大量实验或测试获得阈值，能够降低对特定环境的要求，当软硬件或配置等任一环境发生改变时，可以不必重新进行实验测试，从而大量降低人力、财力和时间的耗费。
附图说明
[0033]为了更清楚地说明本专利技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本专利技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的实施例。
[0034]图1为根据本专利技术一个实施例的计算存储性能指标数据参考值的方法的示意性流程图；
[0035]图2为根据本专利技术一个实施例的周期划分的示意图；
[0036]图3为根据本专利技术一个实施例的计算一个时刻的参考值的示意图；
[0037]图4为根据本专利技术一个实施例的计算每个周期每个时刻的参考值的示意图；
[0038]图5为根据本专利技术一个实施例的计算存储性能指标数据参考值的装置的示意图；
[0039]图6为根据本专利技术一个实施例的计算机设备的示意图；
[0040]图7为根据本专利技术一个实施例的计算机可读存储介质的示意图。
具体实施方式
[0041]为使本专利技术的目的、技术方案和优点更加清楚明白，以下结合具体实施例，并参照附图，对本专利技术实施例进一步详细说明。
[0042]基于上述目的，本专利技术的实施例的第一个方面，提出了一种计算存储性能指标数据参考值的方法的一个实施例。图1示出的是该方法的示意性流程图。
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种计算存储性能指标数据参考值的方法，其特征在于，包括以下步骤：获取存储性能指标数据的历史数据，并将历史数据以时间单位划分为若干周期单元；采用滑动窗口方式对每个周期单元内的历史数据进行逐点采样以得到每个周期单元每个时刻的采样数据；计算每个时刻的采样数据的样本均值和标准差；根据预设公式计算每个时刻的存储性能指标数据的参考值。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，存储性能指标数据包括IOPS、时延和带宽。3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，获取存储性能指标数据的历史数据，并将历史数据以时间单位划分为若干周期单元包括：获取存储性能指标数据中的预设时间段内的历史数据；将历史数据以天为单位划分为若干周期单元。4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，采用滑动窗口方式对每个周期单元内的历史数据进行逐点采样以得到每个周期单元每个时刻的采样数据包括：将每分钟一个历史数据设定为一个时刻的采样点；设定每个时刻的采样数据的范围；计算每个周期单元内每个时刻的采样数据对应的采样数据范围内的最大值或最小值，并将最大值或最小值作为每个时刻的采样数据。5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，计算每个时刻的采样数据的样本均值和标准差包括：计算所有周期单元内相同时刻的采样数据的样本均值和标准差。6.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，根据预设公式计算每个时刻的存储性能指标数据的参考值包括：响应于使用最大值作为每个时刻的采样数据，使用公式ReferenceValue＝μ3+k*σ3计算每个时刻的存储性能指标数据的参考值，其中ReferenceValue为存储性能指标数...

【专利技术属性】
技术研发人员：郝振，郭坤，李娟，
申请(专利权)人：济南浪潮数据技术有限公司，
类型：发明
国别省市：