一种微显示驱动芯片检测方法、装置、系统及电子设备制造方法及图纸

本发明专利技术公开一种微显示驱动芯片检测方法、装置、系统及电子设备，涉及驱动芯片检测技术领域，应用于包括磁场传感器的微显示驱动芯片检测系统中，所述方法包括：在将所述磁场传感器放置至待测未封装微显示驱动芯片表面后，通过扫描确定所述待测未封装微显示驱动芯片对应的磁场图像；在所述磁场图像与原始设计磁场图像匹配的情况下，确定所述待测未封装微显示驱动芯片对应的驱动电路检测合格；在所述磁场图像与所述原始设计磁场图像不匹配的情况下，确定所述待测未封装微显示驱动芯片对应的所述驱动电路检测不合格，可以实现在微显示驱动芯片进行封装之前，实现对驱动电路性能的检测，提高驱动芯片测试的稳定性和可靠性。提高驱动芯片测试的稳定性和可靠性。提高驱动芯片测试的稳定性和可靠性。

【技术实现步骤摘要】
一种微显示驱动芯片检测方法、装置、系统及电子设备


[0001]本专利技术涉及驱动芯片检测
，尤其涉及一种微显示驱动芯片检测方法、装置、系统及电子设备。

技术介绍

[0002]近些年来，新型显示技术层出不穷，微显示技术作为显示技术的重要分支，是跟随者各式各样移动终端和电子只能设备快速发展而崛起的平板显示技术。与传统的平板显示技术相比，微显示技术具有高分辨率、高清晰度和节能环保等优点。
[0003]微显示技术中主要包括Micro
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LED和LCoS等。图1示出了一种Micro
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LED的结构示意图，图2示出了一种LCoS的结构示意图，如图1和图2所示，微显示驱动芯片的电路可以包括图1中的驱动电路以及图2中的驱动开关和保持电容，可见其驱动电路都集中在微显示驱动芯片的底层硅基晶圆中，硅基晶圆以上无电路分布。
[0004]目前对微显示驱动芯片的测试均为封装后测试最终产品性能，包括图像质量测试以及响应时间测试等。但是，目前针对成品的测试大大增加了最终成品的成本，成本的高低取决于微显示驱动芯片的良率，往往大尺寸以及发分辨率的微显示驱动芯片的良率较低，因此大大提高了最终微显示成品的成本，并且在封装完成后进行整体测试，测试难度大，在微显示驱动芯片出现问题时，难以查找问题的源头，降低了驱动芯片测试的稳定性和可靠性。

技术实现思路

[0005]本专利技术的目的在于提供一种微显示驱动芯片检测方法、装置、系统及电子设备，解决在封装完成后进行整体测试，测试难度大，在微显示驱动芯片出现问题时，难以查找问题的源头，降低了驱动芯片测试的稳定性和可靠性的问题。
[0006]第一方面，本专利技术提供一种微显示驱动芯片检测方法，应用于包括磁场传感器的微显示驱动芯片检测系统中，所述方法包括：
[0007]在将所述磁场传感器放置至待测未封装微显示驱动芯片表面后，通过扫描确定所述待测未封装微显示驱动芯片对应的磁场图像；
[0008]在所述磁场图像与原始设计磁场图像匹配的情况下，确定所述待测未封装微显示驱动芯片对应的驱动电路检测合格；
[0009]在所述磁场图像与所述原始设计磁场图像不匹配的情况下，确定所述待测未封装微显示驱动芯片对应的所述驱动电路检测不合格。
[0010]采用上述技术方案的情况下，本专利技术提供的微显示驱动芯片检测方法，应用于包括磁场传感器的微显示驱动芯片检测系统中，在将所述磁场传感器放置至待测未封装微显示驱动芯片表面后，通过扫描确定所述待测未封装微显示驱动芯片对应的磁场图像；在所述磁场图像与原始设计磁场图像匹配的情况下，确定所述待测未封装微显示驱动芯片对应的驱动电路检测合格；在所述磁场图像与所述原始设计磁场图像不匹配的情况下，确定所
述待测未封装微显示驱动芯片对应的所述驱动电路检测不合格，可以实现在微显示驱动芯片进行封装之前，实现对驱动电路性能的检测，降低了后期检测的难度，显著降低了检测成本，提高了检测效率，可以将检测驱动电路不合格的芯片进行剔除，使其不再进入后期封装工序，降低最终成品的报废率，提高驱动芯片测试的稳定性和可靠性。
[0011]在一种可能的实现方式中，所述通过扫描确定所述待测未封装微显示驱动芯片对应的磁场图像，包括：
[0012]响应于在扫描过程中对所述待测未封装微显示驱动芯片施加的电源及输入信号，遍历所述待测未封装微显示驱动芯片上所有的像素点，分别确定所述待测未封装微显示驱动芯片在所有所述像素点形成的磁场信号；
[0013]基于多个所述磁场信号确定所述待测未封装微显示驱动芯片对应的所述磁场图像。
[0014]在一种可能的实现方式中，所述磁场传感器以金刚石N
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V色心制备得到。
[0015]在一种可能的实现方式中，所述基于多个所述磁场信号确定所述待测未封装微显示驱动芯片对应的所述磁场图像，包括：
[0016]利用所述以金刚石N
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V色心制备得到的所述磁场传感器对多个所述磁场信号进行高物理分辨率的解析，确定所述待测未封装微显示驱动芯片对应的所述磁场图像。
[0017]在一种可能的实现方式中，在所述在所述磁场图像与原始设计磁场图像匹配的情况下，确定所述待测未封装微显示驱动芯片对应的驱动电路检测合格之前，所述方法还包括：
[0018]对原始设计电路进行磁场仿真确定所述原始设计磁场图像。
[0019]第二方面，本专利技术还提供一种微显示驱动芯片检测装置，应用于包括磁场传感器的微显示驱动芯片检测系统中，所述装置包括：
[0020]第一确定模块，用于在将所述磁场传感器放置至待测未封装微显示驱动芯片表面后，通过扫描确定所述待测未封装微显示驱动芯片对应的磁场图像；
[0021]第二确定模块，用于在所述磁场图像与原始设计磁场图像匹配的情况下，确定所述待测未封装微显示驱动芯片对应的驱动电路检测合格；
[0022]第三确定模块，用于在所述磁场图像与所述原始设计磁场图像不匹配的情况下，确定所述待测未封装微显示驱动芯片对应的所述驱动电路检测不合格。
[0023]在一种可能的实现方式中，所述第一确定模块包括：
[0024]第一确定子模块，用于响应于在扫描过程中对所述待测未封装微显示驱动芯片施加的电源及输入信号，遍历所述待测未封装微显示驱动芯片上所有的像素点，分别确定所述待测未封装微显示驱动芯片在所有所述像素点形成的磁场信号；
[0025]第二确定子模块，用于基于多个所述磁场信号确定所述待测未封装微显示驱动芯片对应的所述磁场图像；
[0026]所述磁场传感器以金刚石N
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V色心制备得到，所述第二确定子模块包括：
[0027]确定单元，用于利用所述以金刚石N
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V色心制备得到的所述磁场传感器对多个所述磁场信号进行高物理分辨率的解析，确定所述待测未封装微显示驱动芯片对应的所述磁场图像；
[0028]所述装置还包括：
[0029]第四确定模块，用于对原始设计电路进行磁场仿真确定所述原始设计磁场图像。
[0030]第二方面提供的微显示驱动芯片检测装置的有益效果与第一方面或第一方面任一可能的实现方式描述的微显示驱动芯片检测方法的有益效果相同，此处不做赘述。
[0031]第三方面，本专利技术还提供一种微显示驱动芯片检测系统，包括磁场传感器、全光学非破坏性微波分布成像子系统和待测未封装微显示驱动芯片；其中，所述磁场传感器和所述全光学非破坏性微波分布成像子系统连接，所述磁场传感器设置在所述待测未封装微显示驱动芯片表面；
[0032]在将所述磁场传感器放置至待测未封装微显示驱动芯片表面后，所述全光学非破坏性微波分布成像子系统，用于通过扫描确定所述待测未封装微显示驱动芯片对应的磁场图像，在所述磁场图像与原始设计磁场图像匹配的情况下，确定所述待测未封装微显示驱动芯片对应的驱动电路检测合格；在所述磁场图像与所述原始设计磁场图像不匹配的情况下，确定所述待测未封装微显示驱动芯片对本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种微显示驱动芯片检测方法，其特征在于，应用于包括磁场传感器的微显示驱动芯片检测系统中，所述方法包括：在将所述磁场传感器放置至待测未封装微显示驱动芯片表面后，通过扫描确定所述待测未封装微显示驱动芯片对应的磁场图像；在所述磁场图像与原始设计磁场图像匹配的情况下，确定所述待测未封装微显示驱动芯片对应的驱动电路检测合格；在所述磁场图像与所述原始设计磁场图像不匹配的情况下，确定所述待测未封装微显示驱动芯片对应的所述驱动电路检测不合格。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述通过扫描确定所述待测未封装微显示驱动芯片对应的磁场图像，包括：响应于在扫描过程中对所述待测未封装微显示驱动芯片施加的电源及输入信号，遍历所述待测未封装微显示驱动芯片上所有的像素点，分别确定所述待测未封装微显示驱动芯片在所有所述像素点形成的磁场信号；基于多个所述磁场信号确定所述待测未封装微显示驱动芯片对应的所述磁场图像。3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述磁场传感器以金刚石N
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V色心制备得到。4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述基于多个所述磁场信号确定所述待测未封装微显示驱动芯片对应的所述磁场图像，包括：利用所述以金刚石N
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V色心制备得到的所述磁场传感器对多个所述磁场信号进行高物理分辨率的解析，确定所述待测未封装微显示驱动芯片对应的所述磁场图像。5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在所述在所述磁场图像与原始设计磁场图像匹配的情况下，确定所述待测未封装微显示驱动芯片对应的驱动电路检测合格之前，所述方法还包括：对原始设计电路进行磁场仿真确定所述原始设计磁场图像。6.一种微显示驱动芯片检测装置，其特征在于，应用于包括磁场传感器的微显示驱动芯片检测系统中，所述装置包括：第一确定模块，用于在将所述磁场传感器放置至待测未封装微显示驱动芯片表面后，通过扫描确定所述待测未封装微显示驱动芯片对应的磁场图像；第二确定模块，用于在所述磁场图像与原始设计磁场图像匹配的情况下，确定所述待测未封装微显示驱动芯片对应的驱动电路检测合格；第三确定模块，用于在所述磁场图像与所述原始设计磁场图像不匹配的情况下，确定所述待测未封装微显示驱动芯片对应的所述驱动电路检测不合格。7.根据权利要求6所述的装置，其特征在于，所述第一确定模块包括：第一确定子模块，用于响应于在扫描过程中对所述待测未封装微显示驱动芯片施加的电源及输入信号，遍历所述待测未封装微显示驱动芯片上所有的像素点，分别确定所述待测未封装微显示驱动芯片在所有所述像素点形...

【专利技术属性】
技术研发人员：马子仪，赵发展，
申请(专利权)人：中国科学院微电子研究所，
类型：发明
国别省市：