一种继电器多参数校验方法技术

本发明专利技术公开了一种继电器多参数校验方法，其通过校验仪测试继电器参数，所述校验仪设置有用于连接待测继电器的测试接口，测试接口通过导线连接件与待测继电器线圈的正负两端、触点相连。本发明专利技术通过预测试确定动作电压与返回电压的近似值，以该近似值为参考，实际的动作电压与返回电压在参考值附近，则采取在精确测试中，在参考值附近区间，使V＝f(t)的变化速度较预测试中小，这样测得的动作电压和返回电压较实际的动作电压和返回电压滞后少，更接近于真实的动作电压和返回电压，减小了测试误差，且不用重复多次测试，提高了测试效率。提高了测试效率。提高了测试效率。

【技术实现步骤摘要】
一种继电器多参数校验方法


[0001]本专利技术涉及继电器的测试校验，具体是一种继电器多参数校验方法。

技术介绍

[0002]继电器是一种当输入量(如电压、电流、温度等)达到一定数值时，输出量发生跳跃式变化的电器。当输入量达到规定值时，被控制的输出电路会导通或断开，实际上继电器就是用较小的电流去控制较大电流的一种“自动开关”，其广泛应用于电力保护、测量、自动化、通信和遥控等装置中。
[0003]继电器的参数主要为动作电压、返回电压、动作电流、动作功率、动作时间、返回时间等，继电器的参数好坏是反事故、除隐患的一项重要内容。为把好质量关，除了国家标准和行业标准，采购商也会与生产厂家制定符合具体需求的检验标准和方法。
[0004]常见的测试中，一般多采用万用表、直流可调源、耐压测试仪、电阻测试仪等工具，多人配合，手工记录，检验一个继电器的时间为五到十分钟，在批量生产线上，这种测试方法完全不能满足生产需要，而为保证质量指标，抽检比例显然下调有限，并不能解决测试效率低的根本问题。
[0005]为此，中国专利公开号为CN205103374U的专利文献提出了一种继电器参数测试仪，其包括控制器、检测器及显示器，控制器为可实现计时功能的单片机构成，该单片机与一继电器驱动电路相连。其中，单片机通过计时器计时。其实施例中，吸合电压是指继电器线圈的电压从0V开始,逐步增大电压,直到触点刚能吸合的电压值；释放电压是指从继电器线圈额定电压开始，逐步减小电压，直到触点刚能释放的电压值。并为了提高检测精度，测试时，单片机系统自动测试继电器各项参数，并在测试10次后自动计算平均值，控制显示器显示10次测量的均值。
[0006]在获取吸合电压或释放电压时，都是在继电器触点动作信号产生后获取加载在继电器线圈两端的电压值，而测试过程是一个加载电压不断升高或降低的连续输出，但继电器存在动作时间，即实际的动作电压值和根据触点信号滞后获取的电压值并不完全一致，仅仅靠上述测试10次后自动计算平均值并不能解决根本的误差问题，并且多次测量还会增加测量时间，测试效率低。

技术实现思路

[0007]针对上述现有技术中的不足之处，本专利技术提出一种一种继电器多参数校验方法，用于解决现有测试仪参数测量单一的问题，可实现单次多参数测试，提高校验效率。
[0008]为了实现上述目的，本专利技术的技术方案：
[0009]一种继电器多参数校验方法，其通过校验仪测试继电器参数，所述校验仪设置有用于连接待测继电器的测试接口，测试接口通过导线连接件与待测继电器线圈的正负两端、触点相连，校验仪包括：
[0010]MCU模块，根据接收到的指令和数据进行运算处理，输出数字信号，并通过GPS电路
获取时间信息，以及通过存储器储存数据和返回至MCU模块的测试信息；
[0011]人机交互模块，与MCU模块连接，包括嵌入壳体中的指令输入键和显示屏，指令输入键向MCU模块输送测试指令和操作指令，显示屏将MCU模块的测试信息和数据显示出来；
[0012]数模转换模块，与MCU模块连接，接收MCU模块输出的数字信号，并将数字信号转换为模拟信号输出；
[0013]高压测试模块，与数模转换模块和待测继电器连接，接收来自数模转换模块输出的模拟信号，并根据该模拟信号对应输出测试电压到待测继电器的线圈两端；
[0014]采集反馈模块，与MCU模块、待测继电器连接和高压测试模块，包括反馈回路和模数转换器，反馈回路根据待测继电器触点的开合动作向MCU模块发出反馈信号，模数转换器通过采集电路采集高压测试模块输出的测试电压值以及流过待测继电器的线圈的电流值转换为数字信号后发送至MCU模块；
[0015]电源转换模块，与上述各模块连接，将外部电源转换为各模块所需的工作电压；
[0016]MCU模块输出的数字信号经过数模转换模块后以模拟信号控制高压测试模块输出测试电压，测试电压的升降变化受MCU模块控制，测试电压V与时间变量t存在函数关系式V＝f(t)，测试过程包含预测试和精确测试：
[0017]在预测试中，测试电压V随时间t不断升高的过程中，测得动作电压V
H0
；测试电压V随时间t不断降低的过程中，测得返回电压V
L0
；
[0018]在精确测试中，测试电压V随时间t不断升高的过程中趋近于V
H0
时，以及测试电压V随时间t不断降低的过程中趋近于V
L0
时，使V的变化速度较预测试中小，即此时在测试电压相同的情况下，精确测试中f(t)的切线斜率小于预测试中f(t)的切线斜率，由此测出新的动作电压V
H1
和返回电压V
L1
作为最终的参数值。
[0019]进一步地，所述高压测试模块输出的测试电压值与模拟信号值呈线性比例关系，则有：
[0020]在预测试中，测试电压值与模拟信号值呈线性比例k1升高，测得动作电压V
H0
；测试电压值与模拟信号值呈线性比例k2降低，测得返回电压V
L0
；
[0021]在精确测试中，测试电压在m％*V
H0
点开始测试电压值与模拟信号值呈线性比例k3升高，测得动作电压V
H1
；测试电压在n％*V
L0
为起点开始测试电压值与模拟信号值呈线性比例k4降低，测得返回电压V
L1
；
[0022]其中，1＜k3＜k1，1＜k4＜k2，m％＜100％，n％＞100％。
[0023]进一步地，在精确测试中，测试电压值与模拟信号值始终呈线性比例k3升高，测试电压值与模拟信号值始终呈线性比例k4降低。
[0024]进一步地，在精确测试中，所述测试电压值以m％*V
H0
为起始电压开始升高，所述测试电压值以n％*V
L0
为起始电压开始降低。
[0025]进一步地，所述k1＝k2，k3＝k4。
[0026]进一步地，所述m＝80，n＝120。
[0027]进一步地，k3＝k1/10,k4＝k2/10。
[0028]本方案通过预测试确定动作电压与返回电压的近似值，以该近似值为参考，实际的动作电压与返回电压在参考值附近，则采取在精确测试中，在参考值附近区间，使V＝f(t)的变化速度较预测试中小，这样测得的动作电压和返回电压较实际的动作电压和返回
电压滞后少，更接近于真实的动作电压和返回电压，减小了测试误差，且不用重复多次测试，提高了测试效率。
附图说明
[0029]图1是本专利技术的校验仪的系统原理架构图。
[0030]图2是本专利技术一种实施例中数模转换模块的电路原理图。
[0031]图3是本专利技术一种实施例中高压测试模块中的DC
‑
DC升压变换器的电路原理图。
[0032]图4是本专利技术一种实施例中高压测试模块中的第一驱动芯片的电路原理图。
[0033]本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种继电器多参数校验方法，其特征在于：通过校验仪测试继电器参数，所述校验仪设置有用于连接待测继电器的测试接口，测试接口通过导线连接件与待测继电器线圈的正负两端、触点相连，校验仪包括：MCU模块，根据接收到的指令和数据进行运算处理，输出数字信号，并通过GPS电路获取时间信息，以及通过存储器储存数据和返回至MCU模块的测试信息；人机交互模块，与MCU模块连接，包括嵌入壳体中的指令输入键和显示屏，指令输入键向MCU模块输送测试指令和操作指令，显示屏将MCU模块的测试信息和数据显示出来；数模转换模块，与MCU模块连接，接收MCU模块输出的数字信号，并将数字信号转换为模拟信号输出；高压测试模块，与数模转换模块和待测继电器连接，接收来自数模转换模块输出的模拟信号，并根据该模拟信号对应输出测试电压到待测继电器的线圈两端；采集反馈模块，与MCU模块、待测继电器连接和高压测试模块，包括反馈回路和模数转换器，反馈回路根据待测继电器触点的开合动作向MCU模块发出反馈信号，模数转换器通过采集电路采集高压测试模块输出的测试电压值以及流过待测继电器的线圈的电流值转换为数字信号后发送至MCU模块；电源转换模块，与上述各模块连接，将外部电源转换为各模块所需的工作电压；MCU模块输出的数字信号经过数模转换模块后以模拟信号控制高压测试模块输出测试电压，测试电压的升降变化受MCU模块控制，测试电压V与时间变量t存在函数关系式V＝f(t)，测试过程包含预测试和精确测试：在预测试中，测试电压V随时间t不断升高的过程中，测得动作电压V
H0
；测试电压V随时间t不断降低的过程中，测得返回电压V
L0
；在精确测试中，测试电压V随时间t不断升高的过程中趋近于V
H0
时，以及测试电压V随时间t不断降低的过程中趋近于V
L0
时，使V的变化速度较预测试中...

【专利技术属性】
技术研发人员：何琎珩，赵烜，王珏，马医国，杨阳，刘曦，
申请(专利权)人：成都柔石电力科技有限公司，
类型：发明
国别省市：