一种全自动芯片元件检测设备制造技术

本实用新型专利技术属于芯片元件检测技术领域，尤其是一种全自动芯片元件检测设备，现提出如下方案，包括定位框架和设置在定位框架内部的定位机构，所述定位机构包括滑动组件、调整组件和定位组件；所述滑动组件包括电动推杆、升降块、滑动导杆、连接滑块和滑动导槽，所述定位框架的内壁固定连接有电动推杆，通过设置调整连杆，连接滑块滑动通过调整孔槽带动调整连杆沿滑动导槽的外壁同步滑动，进而使调整连杆滑动通过定位滑槽带动定位夹板沿限位凹槽的外壁滑动，同时，当对不同尺寸的芯片主体进行夹紧时，通过连接滑块沿调整孔槽滑动，带动调整连杆两端的定位夹板异步滑动，通过四组定位夹板相对滑动，实现对不同尺寸的芯片主体的定位夹紧操作。紧操作。紧操作。

【技术实现步骤摘要】
一种全自动芯片元件检测设备


[0001]本技术涉及一种全自动芯片元件检测设备。

技术介绍

[0002]在芯片制作完成后，需要对芯片的高度、长度和宽度进行测量，从而将不良品和良品分拣出来，在对芯片元件检测时，需要通过视觉检测操作，视觉检测就是用机器代替人眼来做测量和判断，视觉检测是指通过机器视觉产品即图像摄取装置，将被摄取目标转换成图像信号，传送给专用的图像处理系统，根据像素分布和亮度、颜色等信息，转变成数字化信号；图像系统对这些信号进行各种运算来抽取目标的特征，进而根据判别的结果来控制现场的设备动作。
[0003]但是，现有技术中的芯片元件检测设备在使用时出现无法对不同尺寸芯片进行定位的问题，为此我们提出一种全自动芯片元件检测设备。

技术实现思路

[0004]本技术提出的一种全自动芯片元件检测设备，解决了现有技术中存在无法自动上料和无法对不同尺寸芯片进行定位的问题。
[0005]为了实现上述目的，本技术采用了如下技术方案：
[0006]一种全自动芯片元件检测设备，包括定位框架和设置在定位框架内部的定位机构，所本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种全自动芯片元件检测设备，包括定位框架和设置在定位框架内部的定位机构，其特征在于：所述定位机构包括滑动组件、调整组件和定位组件；所述滑动组件包括电动推杆、升降块、滑动导杆、连接滑块和滑动导槽，所述定位框架的内壁固定连接有电动推杆，所述电动推杆的输出端安装有升降块，所述升降块的外壁旋接有滑动导杆，所述滑动导杆的顶端旋接有连接滑块，所述连接滑块与定位框架的连接部位开设有滑动导槽；所述调整组件包括调整连杆和调整孔槽，所述连接滑块的顶端活动连接有调整连杆，所述调整连杆与连接滑块的连接部位开设有调整孔槽；所述定位组件包括定位夹板、定位滑槽、限位凹槽和芯片主体，所述调整连杆的一端活动连接有定位夹板，所述定位夹板与调整连杆的连接部位开设有定位滑槽，所述定位夹板的底端滑动连接有与定位框架内壁固定连接的限位凹槽，所述定位夹板的侧壁延伸至定位框架的上方紧密贴合有芯片主体。2.根据权利要求1所述的一种全自动芯片元件检测设备，其特征在于：所述定位框架的侧壁固定连接有上料框架，所述上料框架的外壁固定连接有上料电机，所述上料电机的输出端安装有螺纹杆，所述螺纹杆的外壁螺纹连接有螺纹滑块，所述螺纹滑块的外壁活动连接有与上料框架顶端旋接的主动摆板，所述主动摆板与螺纹滑块的连接部位开设有摆动...

【专利技术属性】
技术研发人员：李刚，
申请(专利权)人：杭州浙冠电子有限公司，
类型：新型
国别省市：