信号量测转接装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术公开了一种信号量测转接装置，包括测量板，及与测量板连接的对接板，测量板设有由若干测试点组合构成的测试区域，测试区域分为高速信号测试区和低速信号测试区，测量板上还设有卡槽。本实用新型专利技术避免了在服务器机箱内部时有部件干涉的问题，测量更加方便，同时实现了快速量测的目的，提高了对pin脚故障定位的效率。定位的效率。定位的效率。

【技术实现步骤摘要】
信号量测转接装置


[0001]本技术涉及信号量测
，更具体地说是信号量测转接装置。

技术介绍

[0002]一般在服务器主板配置有多个PCIE卡槽，而卡槽本身开口窄，pin脚密，当扩展PCIE卡出现功能异常需要用万用表或者示波器量测PCIEpin脚进行故障定位时，由于pin脚密集，且在服务器机箱内部，有部件干涉，测试非常不方便，而且目前只能找准单个pin脚位置细细量测，且由于引脚密集量测时还可能会导致相邻引脚短路，进行故障定位信号量测也非常不方便。

技术实现思路

[0003]本技术的目的在于克服现有技术的不足，提供信号量测转接装置，旨在解决信号测量不方便的问题。
[0004]为实现上述目的，本技术采用以下技术方案：
[0005]本技术提供了信号量测转接装置，包括测量板，及与所述测量板连接的对接板，所述测量板设有由若干测试点组合构成的测试区域，所述测试区域分为高速信号测试区和低速信号测试区，所述测量板上还设有卡槽。
[0006]其进一步技术方案为：所述低速信号测试区的所述测试点包括电源信号测试点、时钟信号测试点、在位信号测试点、串行总线测试点、激活信号测试点、热插拔检测测试点以及地脚测试点。
[0007]其进一步技术方案为：所述高速信号测试区的所述测试点包括差分高速数据传输信号测试点。
[0008]其进一步技术方案为：所述高速信号测试区、所述低速信号测试区和所述卡槽布置于所述测量板的同一侧面上。
[0009]其进一步技术方案为：所述高速信号测试区和所述低速信号测试区分别位于所述卡槽的相对的两侧。
[0010]其进一步技术方案为：所述测试点为圆形形状，所述测试点的直径为2
‑
4毫米。
[0011]其进一步技术方案为：相邻两个所述测试点的中心间距为3
‑
8毫米。
[0012]其进一步技术方案为：所述对接板垂直连接于所述测量板。
[0013]其进一步技术方案为：所述对接板至少具有一相对的两端，所述对接板相对的两端中的其中一端为引脚焊接端，所述测量板设有与所述引脚焊接端焊接配合的贴片焊接引脚。
[0014]其进一步技术方案为：所述对接板相对的两端中的另一端设有金手指。
[0015]本技术与现有技术相比的有益效果是：本技术通过设置的测量板和对接板，并且在测量板上设有由若干测试点组合构成的测试区域，测试区域的所有测试点均与服务器主板上的卡槽pin脚一一对应的，因此，通过对测量板上的各测试点的量测，便实现
了对服务器主板卡槽所有pin脚信号的测量，避免了在服务器机箱内部时有部件干涉的问题，测量更加方便。另外，测试区域分为高速信号测试区和低速信号测试区，通过这样的分类，可快速找到对应的测试点，实现了快速量测的目的，同时也提高了对pin脚故障定位的效率。
[0016]上述说明仅是本技术技术方案的概述，为了能够更清楚了解本技术技术手段，可依照说明书的内容予以实施，并且为了让本技术的上述和其它目的特征及优点能够更明显易懂，以下特举较佳实施例，详细说明如下。
附图说明
[0017]为了更清楚地说明本技术实施例技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0018]图1为本技术具体实施例提供的信号量测转接装置的结构示意图；
[0019]图2为本技术具体实施例提供的信号量测转接装置另一视角的结构示意图。
[0020]附图标记
[0021]1、测量板；11、卡槽；12、高速信号测试区；13、低速信号测试区；14、测试点；2、对接板；21、金手指。
具体实施方式
[0022]下面将结合本技术具体实施例，对本技术的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。
[0023]应当理解，当在本说明书和权利要求书中使用时，术语“包括”和“包含”指示所描述特征、整体、步骤、操作、元素和/或组件的存在，但并不排除一个或多个其它特征、整体、步骤、操作、元素、组件和/或其集合的存在或添加。
[0024]还应当理解，在本技术说明书中所使用的术语仅仅是出于描述特定实施例的目的而并不意在限制本技术。如在本技术说明书和所附权利要求书中所使用的那样，除非上下文清楚地指明其它情况，否则单数形式的“一”、“一个”及“该”意在包括复数形式。
[0025]还应当进一步理解，在本技术说明书和所附权利要求书中使用的术语“和/或”是指相关联列出的项中的一个或多个的任何组合以及所有可能组合，并且包括这些组合。
[0026]如图1、图2所示，本技术实施例提供了一种信号量测转接装置，包括测量板1，及与测量板1连接的对接板2，测量板1设有由若干测试点14组合构成的测试区域，测试区域分为高速信号测试区12和低速信号测试区13，测量板1上还设有卡槽11。
[0027]测量板1和对接板2均为PCB板，测量板1和对接板2形成电性连接，对接板2还与服务器主板被测通用PCIE卡槽内，目的是将服务器主板被测通用PCIE卡槽的信号传输到测量
板1上，测量板1上的测试区域的所有测试点14均与服务器主板上的PCIE卡槽pin脚一一对应的，因此，通过对测量板1上的各测试点14的量测，便实现了对服务器主板卡槽11所有pin脚信号的测量，从而避免了在服务器机箱内部时有部件干涉的问题，测量更加方便。另外，测试区域分为高速信号测试区12和低速信号测试区13，通过这样的分类，可快速找到对应的测试点14，实现了快速量测的目的，同时也提高了对pin脚故障定位的效率。
[0028]设计的卡槽11是用于安装PCIE网卡或者GPU卡等PCIE外设，在某些情况下，对服务器主板上的PCIE卡槽pin脚的信号测试需要在插卡状态才能满足要求，而由于对接板2已占用了服务器主板被测通用PCIE卡槽，因此，为了满足量测要求，需要将PCIE卡安装在对接板2的卡槽11。
[0029]在一实施例中，低速信号测试区13的测试点14包括电源信号测试点14、时钟信号测试点14、在位信号测试点14、串行总线测试点14、激活信号测试点14、热插拔检测测试点14以及地脚测试点14。高速信号测试区12的测试点14包括差分高速数据传输信号测试点14。
[0030]在一实施例中，高速信号测试区12、低速信号测试区13和卡槽11布置于测量板1的同一侧面上。高速信号测试区12和低速信号测试区13分别位于卡槽11的相对的两侧。将高速信号测试区12、低速信号测试区13布置在同一侧面且通过卡槽11隔离，整体布局紧本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.信号量测转接装置，其特征在于，包括测量板，及与所述测量板连接的对接板，所述测量板设有由若干测试点组合构成的测试区域，所述测试区域分为高速信号测试区和低速信号测试区，所述测量板上还设有卡槽。2.根据权利要求1所述的信号量测转接装置，其特征在于，所述低速信号测试区的所述测试点包括电源信号测试点、时钟信号测试点、在位信号测试点、串行总线测试点、激活信号测试点、热插拔检测测试点以及地脚测试点。3.根据权利要求1所述的信号量测转接装置，其特征在于，所述高速信号测试区的所述测试点包括差分高速数据传输信号测试点。4.根据权利要求1所述的信号量测转接装置，其特征在于，所述高速信号测试区、所述低速信号测试区和所述卡槽布置于所述测量板的同一侧面上。5.根据权利要求4所述的信号量测转接装置，其特征在于，所述高速...

【专利技术属性】
技术研发人员：纪大为，郭薄志，王丁，顾长亮，王震，
申请(专利权)人：东莞记忆存储科技有限公司，
类型：新型
国别省市：