一种双反射面复合镜光轴偏差检测系统及检测方法技术方案

技术编号:38430720 阅读:21 留言:0更新日期:2023-08-07 11:27
本发明专利技术提出了一种双反射面复合镜光轴偏差检测系统及检测方法,属于光学加工与检测领域。解决了高精度双反射面复合镜光轴偏差检测困难的问题。检测系统包括光轴检测机构和经纬仪,所述光轴检测机构数量为两组,两组光轴检测机构分别设置在双反射面复合镜的两个反射面前方,所述光轴检测机构包括CGH检测板、干涉仪和调整台,所述CGH检测板设置在干涉仪出射光前方,所述CGH检测板和干涉仪均设置在调整台上,所述经纬仪设置在两个CGH检测板中间。它主要用于双反射面复合镜光轴偏差检测。主要用于双反射面复合镜光轴偏差检测。主要用于双反射面复合镜光轴偏差检测。

【技术实现步骤摘要】
一种双反射面复合镜光轴偏差检测系统及检测方法


[0001]本专利技术属于光学加工与检测领域,特别是涉及一种双反射面复合镜光轴偏差检测系统及检测方法。

技术介绍

[0002]随着航空航天技术的迅猛发展,人们对于高分辨率图像的需求也越来越迫切,在满足高分辨率成像的同时,要求光学系统的结构更加紧凑,降低系统装调难度以适应载荷的批产需求。两反射面一体式反射镜组件的两反射面一体化加工设计,降低了加工与装调难度,基准重合度高,同时有效压缩光学系统的轴向长度,使得结构紧凑。
[0003]在光学元件镜面的铣磨成型、研磨与抛光过程中,由于镜体与加工机床的相对位置误差,易使得光学镜面光轴存在偏差,引起反射镜面形产生慧差。若光学加工过程中光轴偏差较大,在集成组装为光学系统时装调过程复杂,需要耗费较长的调试时间,甚至会出现光轴偏差较大导致装调失败的现象。
[0004]现有技术中的光轴偏差检测多为单反射镜光轴偏差检测,较容易建立加工检测基准,光轴检测相对容易。如申请公布号CN114739323A、名称为“光学元件光轴与机械轴偏差测试系统、测试方法以及偏差修正方法”的专利技术专利提出一种对光学元件光轴与机械轴偏差的测量方法,但该方法仅适用于单面反射镜的光轴与机械基准间的光轴偏差检测,且多次转换标定基准,存在误差累计。
[0005]双反射面一体化加工设计,降低了装调难度,光学系统结构更加紧凑,空间利用率高。但在光学加工过程中,其光轴会发生变化,双反射面一体式反射镜对光轴偏差更为敏感,为保证光轴偏差满足使用要求,迫切建立一种快速、高精度双反射面复合镜光轴偏差检测方法。

技术实现思路

[0006]有鉴于此,本专利技术旨在提出一种双反射面复合镜光轴偏差检测系统及检测方法,以解决高精度双反射面复合镜光轴偏差检测困难的问题。
[0007]为实现上述目的,本专利技术采用以下技术方案:一种双反射面复合镜光轴偏差检测系统,它包括光轴检测机构和经纬仪,所述光轴检测机构数量为两组,两组光轴检测机构分别设置在双反射面复合镜的两个反射面前方,所述光轴检测机构包括CGH检测板、干涉仪和调整台,所述CGH检测板设置在干涉仪出射光前方,所述CGH检测板和干涉仪均设置在调整台上,所述经纬仪设置在两个CGH检测板中间。
[0008]更进一步的,所述CGH检测板安装在CGH检测板调整架上,所述CGH检测板调整架设置在调整台上。
[0009]更进一步的,所述调整台为六自由度调整台。
[0010]更进一步的,所述双反射面复合镜通过工装设置在双反射面复合镜安装支架上。
[0011]更进一步的,所述CGH检测板包括CGH基底、CGH对准区域和CGH检测区域,所述CGH
对准区域和CGH检测区域均设置在CGH基底上,所述CGH检测区域位于CGH对准区域内侧。
[0012]更进一步的,所述双反射面复合镜包括第一反射面和第二反射面,所述第一反射面和第二反射面之间沿圆周方向均布多个双反射面复合镜支撑筋,所述双反射面复合镜中心开设有贯穿第一反射面和第二反射面的通光孔,所述双反射面复合镜上开设有多个双反射面复合镜安装孔。
[0013]本专利技术还提供了一种双反射面复合镜光轴偏差检测系统的检测方法,它包括以下步骤:步骤1:搭建光轴检测机构,在双反射面复合镜的两个反射面前方设置CGH检测板和干涉仪,将CGH检测板和干涉仪设置在调整台上;步骤2:根据双反射面复合镜的两个反射面的光学设计结果,通过调整台调整两组光轴检测机构中CGH检测板和干涉仪的位置,利用两组光轴检测机构分别对两个反射面的面形进行检测,使两个反射面的光轴分别平行于对应侧干涉仪光轴,两个反射面的光轴分别垂直于对应侧CGH检测板;步骤3:将经纬仪放置在两个CGH检测板中间,用来测量两CGH检测板水平角和垂直角的相对角度,此角度与理论设计值的偏差即为双反射面复合镜两光轴的偏差。
[0014]更进一步的,所述步骤2中通过调整CGH检测板和干涉仪的位置,使得干涉仪发出的测量光束经过CGH对准区域返回到干涉仪,将Zernike系数的离焦及慧差项调至小于0.003个波长,实现干涉仪与CGH检测板的对准。
[0015]更进一步的,所述步骤2中通过调整第一反射面侧的调整台来改变干涉仪和CGH检测板与双反射面复合镜的相对位置,使得当干涉仪发出的测量光束经过CGH检测区域入射到第一反射面并返回到干涉仪,将Zernike系数的离焦及慧差项调至小于0.003个波长,此时第一反射面的光轴平行于干涉仪光轴,实现干涉仪与第一反射面的对准。
[0016]更进一步的,所述步骤2中通过调整第二反射面侧的调整台来改变干涉仪和CGH检测板与双反射面复合镜的相对位置,使得当干涉仪发出的测量光束经过CGH检测区域入射到第二反射面并返回到干涉仪,将Zernike系数的离焦及慧差项调至小于0.003个波长,此时第二反射面的光轴平行于干涉仪光轴,实现干涉仪与第二反射面的对准。
[0017]与现有技术相比,本专利技术的有益效果是:现有反射镜结构多为单体反射镜,较容易建立加工检测基准,光轴检测相对准确方便,而双反射面一体式反射镜两反射面位置固定,使得对光轴偏差更为敏感,光轴检测更为复杂。
[0018]本专利技术提出双面复合镜光轴偏差检测系统,能够快速准确显示出光轴偏差,更直观准确的反映出光轴需要调整的角度,使光学加工检测过程可视化,高效直观,弥补了以往仅靠理论计算与实际加工尺寸带来偏差的缺陷。该系统可以快速检测两反射面的光轴偏差,提高光学加工效率。
[0019]本专利技术提出的双面复合镜光轴偏差检测系统,光轴偏差检测过程中不需要重复装夹,不存在多次转换标定基准误差累计,测量精度高、测量方法简单。
附图说明
[0020]构成本专利技术的一部分的附图用来提供对本专利技术的进一步理解,本专利技术的示意性实施例及其说明用于解释本专利技术,并不构成对本专利技术的不当限定。在附图中:
图1为本专利技术所述的一种双反射面复合镜光轴偏差检测系统结构示意图;图2为本专利技术所述的双反射面复合镜两反射面面形检测示意图;图3为本专利技术所述的双反射面复合镜的第一反射面结构示意图;图4为本专利技术所述的双反射面复合镜的第二反射面结构示意图;图5为本专利技术所述的双反射面复合镜剖面结构示意图;图6为本专利技术所述的CGH检测板结构示意图;图7为本专利技术所述的水平角偏差示意图;图8为本专利技术所述的垂直角偏差示意图。
[0021]1‑
双反射面复合镜,2

CGH检测板,3

CGH检测板调整架,4

干涉仪,5

调整台,6

双反射面复合镜安装支架,7

经纬仪,101

第一反射面,102

第二反射面,103

双反射面复合镜安装孔,104

双反射面复合镜支撑筋,105

通光孔,201

CGH基底,202
...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种双反射面复合镜光轴偏差检测系统,其特征在于:它包括光轴检测机构和经纬仪(7),所述光轴检测机构数量为两组,两组光轴检测机构分别设置在双反射面复合镜(1)的两个反射面前方,所述光轴检测机构包括CGH检测板(2)、干涉仪(4)和调整台(5),所述CGH检测板(2)设置在干涉仪(4)出射光前方,所述CGH检测板(2)和干涉仪(4)均设置在调整台(5)上,所述经纬仪(7)设置在两个CGH检测板(2)中间。2.根据权利要求1所述的一种双反射面复合镜光轴偏差检测系统,其特征在于:所述CGH检测板(2)安装在CGH检测板调整架(3)上,所述CGH检测板调整架(3)设置在调整台(5)上。3.根据权利要求1所述的一种双反射面复合镜光轴偏差检测系统,其特征在于:所述调整台(5)为六自由度调整台。4.根据权利要求1所述的一种双反射面复合镜光轴偏差检测系统,其特征在于:所述双反射面复合镜(1)通过工装设置在双反射面复合镜安装支架(6)上。5.根据权利要求1所述的一种双反射面复合镜光轴偏差检测系统,其特征在于:所述CGH检测板(2)包括CGH基底(201)、CGH对准区域(202)和CGH检测区域(203),所述CGH对准区域(202)和CGH检测区域(203)均设置在CGH基底(201)上,所述CGH检测区域(203)位于CGH对准区域(202)内侧。6.根据权利要求1所述的一种双反射面复合镜光轴偏差检测系统,其特征在于:所述双反射面复合镜(1)包括第一反射面(101)和第二反射面(102),所述第一反射面(101)和第二反射面(102)之间沿圆周方向均布多个双反射面复合镜支撑筋(104),所述双反射面复合镜(1)中心开设有贯穿第一反射面(101)和第二反射面(102)的通光孔(105),所述双反射面复合镜(1)上开设有多个双反射面复合镜安装孔(103)。7.一种如权利要求1

6任意一项所述的双反射面复合镜光轴偏差检测系统的检测方法,其特征在于:它包括以下步骤:步骤1:搭建光轴检测机构,在双反射面复合镜(1)的两个反射面前方设置CGH检测板(2)和干涉仪(4),将CGH检测板...

【专利技术属性】
技术研发人员:王守达洪永丰隋富刚
申请(专利权)人:长春通视光电技术股份有限公司
类型:发明
国别省市:

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