漏洞测试方法、装置、电子设备和存储介质制造方法及图纸

本公开的实施例提供了一种漏洞测试方法、装置、电子设备和存储介质。应用于计算机技术领域，方法包括对待漏洞测试对象中测试变量的测试数据进行等价类划分；从测试变量中分别提取一个等价类并进行组合，得到一轮测试中的各测试类向量对应的等价类组合并从中分别随机提取一个测试数据并进行组合，得到各测试向量；使用各测试向量对待漏洞测试对象进行一轮测试；重新从测试类向量对应的等价类组合中的各等价类中分别随机提取一个测试数据，得到各新一轮的测试向量并使用各新一轮的测试向量对待漏洞测试对象进行新一轮测试。以此方式，可以实现在等价类高覆盖下对等价类中测试数据的随机提取，提高发现漏洞几率，进而提高漏洞测试效率。洞测试效率。洞测试效率。

【技术实现步骤摘要】
漏洞测试方法、装置、电子设备和存储介质


[0001]本公开涉及计算机
，尤其涉及一种漏洞测试方法、装置、电子设备和存储介质。

技术介绍

[0002]漏洞测试指在漏洞被利用之前发现并修补漏洞的技术，保证单位或企业系统的安全性。
[0003]遍历检测的方式在漏洞测试领域应用广泛，然而在漏洞测试过程中时间消耗较大且发现漏洞概率较低，导致漏洞测试具有较低的效率。
[0004]因此，亟需一种具有较高测试效率的漏洞测试方法、装置、电子设备和存储介质。

技术实现思路

[0005]本公开提供了一种漏洞测试方法、装置、电子设备和存储介质。
[0006]根据本公开的第一方面，提供了一种漏洞测试方法。该方法包括：对待漏洞测试对象中测试变量C1、C2
…
Cn的测试数据进行等价类划分，分别得到P1、P2
…
Pn个等价类，n为大于1的正整数，Pn为大于等于1的正整数；从测试变量C1、C2
…
Cn中分别提取一个等价类并进行组合，得到一轮测试中的各测试类向量对应的等价类组合；其本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种漏洞测试方法，其特征在于，包括：对待漏洞测试对象中测试变量C1、C2
…
Cn的测试数据进行等价类划分，分别得到P1、P2
…
Pn个等价类，n为大于1的正整数，Pn为大于等于1的正整数；从所述测试变量C1、C2
…
Cn中分别提取一个等价类并进行组合，得到一轮测试中的各测试类向量对应的等价类组合；其中，所述测试类向量的数量为且各测试类向量对应的等价类组合互不相同；从所述测试类向量对应的等价类组合中的各等价类中分别随机提取一个测试数据并进行组合，得到各测试向量；根据各所述测试向量和已测试向量集合的关系判断是否使用各所述测试向量对所述待漏洞测试对象进行一轮测试，所述已测试向量集合包含已经测试过的测试向量；重新从所述测试类向量对应的等价类组合中的各等价类中分别随机提取一个测试数据，得到各新一轮的测试向量；根据各所述新一轮的测试向量和已测试向量集合的关系判断是否使用各所述新一轮的测试向量对所述待漏洞测试对象进行新一轮测试。2.根据权利要求1所述的漏洞测试方法，其特征在于，从所述测试变量C1、C2
…
Cn中分别提取一个等价类并进行组合，包括：将从所述测试变量C1、C2
…
Cn中分别提取到的一个等价类按照所述测试变量C1、C2
…
Cn的顺序进行组合。3.根据权利要求1所述的漏洞测试方法，其特征在于，根据各所述测试向量和已测试向量集合的关系判断是否使用各所述测试向量对所述待漏洞测试对象进行一轮测试，包括：分别判断各所述测试向量是否在已测试向量集合中，并采用存在于所述已测试向量集合中的测试向量对所述待漏洞测试对象进行一轮测试。4.根据权利要求1所述的漏洞测试方法，其特征在于，根据各所述测试向量和已测试向量集合的关系判断是否使用各所述测试向量对所述待漏洞测试对象进行一轮测试，还包括：将已经完成对所述待漏洞测试对象测试的测试向量加入所述已测试向量集合中。5.根据权利要求1所述的漏洞测试方法，其特征在于，根据各所述测试向量和已测试向量集合的关系判断是否使用各所述测试向量对所述待漏洞测试对象进行一轮测试，还包括：判断本轮测试中各所述测试向量是否均完成与所述已测试向量集合的关系判断，若是，则重新从所述测试类向量对应的等价类组合中的各等价类中分别随机提取一个测试数据，得到各新一轮的测试向量。6.根据权利要求1所述的漏洞测试方法，其特征在于，根据各所述新一...

【专利技术属性】
技术研发人员：肖达，李斌，刘思尧，吴宗后，
申请(专利权)人：北京华云安信息技术有限公司，
类型：发明
国别省市：