一种运算放大电路及光电检测系统技术方案

本公开提供了一种运算放大电路及光电检测系统，该运算放大电路包括第一放大模块和第二放大模块，第一放大模块包括第一放大器和跨导电阻，第二放大模块包括第二放大器；第二放大器的正相输入端与反相输入端分别与第一放大器的正相输入端和反相输入端耦接，第二放大器的输出端与第一放大器的正相输入端耦接，第二放大模块用于消除第一放大器两个输入端的电压差。电压差。电压差。

【技术实现步骤摘要】
一种运算放大电路及光电检测系统


[0001]本公开涉及集成电路
，尤其涉及一种运算放大电路及光电检测系统。

技术介绍

[0002]在光通信系统中，需要将光信号进行光电转换以得到电压值，然后将检测出的电压值通过模数转换器(Analog
‑
to
‑
Digital Converter，ADC)转换成数字量，从而计算出光功率值。通常，采用跨阻放大器(Trans
‑
Impedance Amplifier，TIA)电路或者对数放大电路对光功率进行检测，但实际上，TIA电路和对数放大电路中运算放大器的两个输入端会存在电压差，导致电路中会存在失调电压，且会随温度发生变化，在高低温下因为暗电流或者温度移漂会导致转换后的电压值发生变化，而需要在不同的温度下对模块定标，时间成本高。

技术实现思路

[0003]本公开提供了一种运算放大电路及光电检测系统。
[0004]本公开的技术方案是这样实现的：
[0005]第一方面，本公开实施例提供了一种运算放大电路，所述运算放大电路包括第本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种运算放大电路，其特征在于，所述运算放大电路包括第一放大模块和第二放大模块，所述第一放大模块包括第一放大器和跨导电阻，所述第二放大模块包括第二放大器；其中，所述第一放大器的反相输入端与所述跨导电阻的第一端连接，所述第一放大器的输出端与所述跨导电阻的第二端连接并作为所述运算放大电路的输出端，所述第一放大器的正相输入端形成所述运算放大电路的正相输入端，所述第一放大器的反相输入端形成所述运算放大电路的反相输入端，所述第一放大模块用于执行信号的放大处理；所述第二放大器的正相输入端与所述第一放大器的正相输入端耦接，所述第二放大器的反相输入端与所述第一放大器的反相输入端耦接，所述第二放大器的输出端与所述第一放大器的正相输入端耦接，所述第二放大模块用于消除所述第一放大器的正相输入端和所述第一放大器的反相输入端的电压差。2.根据权利要求1所述的运算放大电路，所述第二放大模块还包括电容，所述电容的第一端与所述第二放大器的反相输入端连接，所述电容的第二端与所述第二放大器的输出端连接。3.根据权利要求2所述的运算放大电路，其特征在于，所述第一放大模块还包括第一电阻，所述第一电阻的第一端与所述第二放大器的正相输入端耦接，所述第一电阻的第二端与所述第一放大器的正相输入端连接。4.根据权利要求3所述的运算放大电路，其特征在于，所述第二放大模块还包括第二电阻、第三电阻和第四电阻；其中，所述第二电阻的第一端与所述第一电阻的第一端连接，所述第二电阻的第二端与所述第二放大器的正相输入端连接；所述第三电阻的第一端与所述第一放大器的反相输入端连接，所述第三电阻的第二端与所述第二放大器的反相输入端连接；所述第四电阻的第一端与所述第二放大器的输出端连接，所述第四电阻的第二端与所述第一放大器的正相输入端连接。5.根据权利要求4所述的运算放大电路，其特征在于，所述第一放大模块还包括第一模拟开关和多个候选电阻，所述第一模拟开关用于选择其中一个所述候选电阻形成所述跨导电阻；其中，所述第一模拟开关的第一端与所述跨导电阻的第一端连接，所述第一模拟开关的第二端与所述第一放大器的反相输入端连接。6.一种光电检测系统，其特征在于，所述光电检测系统包括第一运算放大电路和第一光电二极管，且所述第一运算放大电路采用如权利要求5所...

【专利技术属性】
技术研发人员：李齐涛，陈志，
申请(专利权)人：武汉光迅科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：