本发明专利技术公开了一种显示结构的校准方法、显示结构的校准装置、显示结构的校准设备及存储介质，属于显示屏技术领域。其中，显示结构包括显示面板和设于显示面板上的多个透镜，显示面板包括多个像素单元，透镜与像素单元对应设置，该方法包括：显示结构的校准方法包括以下步骤：获取摄像头拍摄的显示结构显示的测试图像对应的第二图像数据，测试图像为显示结构根据待显示的第一图像数据和第一调整参数显示的图像，第一调整参数包括不同像素单元与对应透镜之间的相对位置偏差；根据第二图像数据与第一图像数据对应的标准图像数据的偏差值确定显示结构的校准矩阵；根据校准矩阵控制显示结构显示图像。本申请实现了提高裸眼3D显示屏显示图像的准确性。显示图像的准确性。显示图像的准确性。
【技术实现步骤摘要】
显示结构的校准方法、装置、设备及存储介质
[0001]本专利技术涉及显示屏领域，尤其涉及一种显示结构的校准方法、显示结构的校准装置、显示结构的校准设备及存储介质。
技术介绍
[0002]目前，裸眼3D显示屏的显示结构包括显示面板和在显示面板上设置的透镜分光膜，通过显示结构实现3D显示，随着裸眼3D显示屏显示要求的提高，需要对3D显示屏进行校准，当前的校准方式通过对3D显示屏整体进行校准，减少透镜偏移对显示效果的影响，但是随着3D显示屏的尺寸增大，除了整体偏移，还存在透镜分光膜的不均匀，透镜分光膜贴合不均匀的问题，导致部分显示区域图像显示错误和偏差，从而使裸眼3D显示屏显示图像的准确性较低。
[0003]上述内容仅用于辅助理解本专利技术的技术方案，并不代表承认上述内容是现有技术。
技术实现思路
[0004]本专利技术的主要目的在于提供一种显示结构的校准方法、显示结构的校准设备、显示结构的校准装置及存储介质，旨在提高裸眼3D显示屏显示图像的准确性。
[0005]为实现上述目的，本专利技术提供一种显示结构的校准方法，所述显示结构用于显示3D图像，所述显示结构包括显示面板和设于所述显示面板上的多个透镜，所述显示面板包括多个像素单元，所述透镜与所述像素单元对应设置，所述显示结构的校准方法包括以下步骤：
[0006]获取摄像头拍摄的所述显示结构显示的测试图像对应的第二图像数据，所述测试图像为所述显示结构根据待显示的第一图像数据和第一调整参数显示的图像，所述第一调整参数包括不同所述像素单元与对应所述透镜之间的相对位置偏差；
[0007]根据所述第二图像数据与所述第一图像数据对应的标准图像数据的偏差值确定所述显示结构的校准矩阵；
[0008]根据所述校准矩阵控制所述显示结构显示图像。
[0009]可选地，所述根据第二图像数据与所述第一图像数据对应的标准图像数据的偏差值确定所述显示结构的校准矩阵的步骤包括：
[0010]校正所述第二图像数据中畸变的区域，得到校正图像数据；
[0011]对所述校正图像数据进行滤波，得到滤波图像数据；
[0012]根据边缘提取算法处理所述滤波图像，得到所述显示结构的显示区域对应的显示图像数据；
[0013]根据所述标准图像数据和所述显示图像数据的偏差值计算所述校准矩阵。
[0014]可选地，所述根据所述标准图像数据和所述显示图像数据的偏差值计算所述校准矩阵的步骤包括：
[0015]计算所述标准图像数据与所述显示图像数据中每个所述像素单元对应的所述偏差值；
[0016]归一化处理所述偏差值，得到第二调整参数；
[0017]根据所述第一调整参数和所述第二调整参数计算所述校准矩阵。
[0018]可选地，所述计算所述标准图像数据与所述显示图像数据中每个所述像素单元对应的所述偏差值的步骤包括：
[0019]当所述标准图像数据为单色图时，确定每个所述像素单元在所述标准图像数据中对应的第一子图像数据和在所述显示图像数据中对应的第二子图像数据的色彩差值，所述偏差值包括所述色彩差值；
[0020]当所述标准图像数据为条纹图时，对所述标准图像数据频域转换得到标准频谱图，并对所述显示图像数据的多个子区域进行频域转换得到多个子频谱图，根据每个所述子频谱图的子频率与所述标准频谱图的标准频率之间的差值确定所述偏差值。
[0021]可选地，所述获取摄像头拍摄的所述显示结构显示的测试图像对应的第二图像数据的步骤之前，还包括：
[0022]根据所述第一调整参数确定图像交织算法；
[0023]根据所述图像交织算法确定所述第一图像数据对应的至少两个子图像数据的显示位置，并根据所述显示位置及对应的所述子图像数据生成所述测试图像；
[0024]控制所述显示结构显示所述测试图像。
[0025]可选地，所述根据所述第一调整参数确定图像交织算法的步骤之前，还包括：
[0026]根据参考显示结构的参考校准矩阵确定所述第一调整参数，所述参考显示结构为与所述显示结构批次相同的显示结构；或
[0027]根据所述显示结构的仿真分析结果确定所述第一调整参数。
[0028]可选地，所述获取摄像头拍摄的所述显示结构显示的测试图像对应的第二图像数据的步骤之后，还包括：
[0029]根据所述第二图像数据计算所述显示结构的均匀度参数和串扰参数；
[0030]当所述均匀度参数大于预设均匀度时，或，当所述串扰参数大于预设串扰参数时，执行所述根据所述第二图像数据与所述第一图像数据对应的标准图像数据的偏差值确定所述显示结构的校准矩阵的步骤。
[0031]此外，为实现上述目的，本专利技术还提供一种显示结构的校准装置，显示结构包括显示面板和设于所述显示面板上的多个透镜，所述显示面板包括多个像素单元，所述透镜与所述像素单元对应设置，所述显示结构的校准装置包括：
[0032]采集模块，用于获取摄像头拍摄的所述显示结构显示的测试图像对应的第二图像数据，所述测试图像为所述显示结构根据待显示的第一图像数据和第一调整参数显示的图像，所述第一调整参数包括不同所述像素单元与对应所述透镜之间的相对位置偏差；
[0033]计算模块，用于根据第二图像数据与所述第一图像数据对应的标准图像数据的偏差值确定所述显示结构的校准矩阵；
[0034]显示模块，用于根据所述校准矩阵控制所述显示结构显示图像。
[0035]此外，为实现上述目的，本专利技术还提供一种显示结构的校准设备，所述显示结构的校准设备包括：存储器、处理器及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的显示结
构的校准程序，所述显示结构的校准程序配置为实现上述任一项所述的显示结构的校准方法的步骤。
[0036]此外，为实现上述目的，本专利技术还提供一种存储介质，所述存储介质上存储有显示结构的校准程序，所述显示结构的校准程序被处理器执行时实现上述任一项所述的显示结构的校准方法的步骤。
[0037]本专利技术提出一种显示结构的校准方法，该方法通过检测所述第二图像数据，并根据所述标准图像数据和第二图像数据的差异确定出由于透镜分光膜的不均匀和透镜分光膜贴合不均匀导致的异常的区域和异常情况，并确定出能使屏幕显示效果提高的校准矩阵，并根据校准矩阵控制所述显示结构显示图像，从而减少透镜分光膜的不均匀和透镜分光膜贴合不均匀，导致的部分显示区域3D显示错误和偏差的问题，进而提高裸眼3D显示屏显示图像的准确性。
附图说明
[0038]图1是本专利技术实施例方案涉及的硬件运行环境的显示结构的校准设备的结构示意图；
[0039]图2为本专利技术显示结构的校准方法第一实施例的流程示意图；
[0040]图3为本专利技术显示结构的校准方法第二实施例的流程示意图；
[0041]图4为本专利技术显示结构的校准方法第三实施例的流程示意图；
[0042]图5为本专利技术显示结构的校准方法第五实施例的流程示意图。
[0043]本专利技术目本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种显示结构的校准方法，所述显示结构用于显示3D图像，其特征在于，所述显示结构包括显示面板和设于所述显示面板上的多个透镜，所述显示面板包括多个像素单元，所述透镜与所述像素单元对应设置，所述显示结构的校准方法包括以下步骤：获取摄像头拍摄的所述显示结构显示的测试图像对应的第二图像数据，所述测试图像为所述显示结构根据待显示的第一图像数据和第一调整参数显示的图像，所述第一调整参数包括不同所述像素单元与对应所述透镜之间的相对位置偏差；根据所述第二图像数据与所述第一图像数据对应的标准图像数据的偏差值确定所述显示结构的校准矩阵；根据所述校准矩阵控制所述显示结构显示图像。2.如权利要求1所述的显示结构的校准方法，其特征在于，所述根据第二图像数据与所述第一图像数据对应的标准图像数据的偏差值确定所述显示结构的校准矩阵的步骤包括：校正所述第二图像数据中畸变的区域，得到校正图像数据；对所述校正图像数据进行滤波，得到滤波图像数据；根据边缘提取算法处理所述滤波图像，得到所述显示结构的显示区域对应的显示图像数据；根据所述标准图像数据和所述显示图像数据的偏差值计算所述校准矩阵。3.如权利要求2所述的显示结构的校准方法，其特征在于，所述根据所述标准图像数据和所述显示图像数据的偏差值计算所述校准矩阵的步骤包括：计算所述标准图像数据与所述显示图像数据中每个所述像素单元对应的所述偏差值；归一化处理所述偏差值，得到第二调整参数；根据所述第一调整参数和所述第二调整参数计算所述校准矩阵。4.如权利要求3所述的显示结构的校准方法，其特征在于，所述计算所述标准图像数据与所述显示图像数据中每个所述像素单元对应的所述偏差值的步骤包括：当所述标准图像数据为单色图时，确定每个所述像素单元在所述标准图像数据中对应的第一子图像数据和在所述显示图像数据中对应的第二子图像数据的色彩差值，所述偏差值包括所述色彩差值；当所述标准图像数据为条纹图时，对所述标准图像数据频域转换得到标准频谱图，并对所述显示图像数据的多个子区域进行频域转换得到多个子频谱图，根据每个所述子频谱图的子频率与所述标准频谱图的标准频率之间的差值确定所述偏差值。5.如权利要求1所述的显示结构的校准方法，其特征在于，所述获取摄像头拍摄的所述显示结构显示的测试图像...
【专利技术属性】
技术研发人员：濮怡莹，谈宝林，徐欢，吴二见，贾甲，康江辉，张启明，陆敏，马晓祺，
申请(专利权)人：深圳英伦科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：
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