一种X射线平板探测器时序同步与校正方法及系统技术方案

本发明专利技术一种X射线平板探测器时序同步与校正方法及系统，通过平板探测器采集图像；通过时序控制模块一方面给平板探测器的同步接口发出主同步脉冲，控制平板探测器的工作频率；另外一方面，把平板探测器返回的曝光窗口脉冲进行分频；分频后的副同步脉冲给到高压发生器接口控制X射线出束曝光；在上述步骤1中的平板探测器采集到的图像根据时序控制模块控制的脉冲与分频的设置，标记图像的属性；根据设定的策略进行暗场图像多帧平均或者递归平均，生成实时的偏移校正数据。本发明专利技术偏移校正数据实时更新，不需要提前生成，极大的简化了其他校正文件的生成方式，解决了应用的实时性与设备图像质量的之间的矛盾，同时还提供了变频采集的解决方案。的解决方案。的解决方案。

【技术实现步骤摘要】
一种X射线平板探测器时序同步与校正方法及系统


[0001]本专利技术涉及X射线探测器相关
，尤其涉及一种X射线平板探测器时序同步与校正方法及系统。

技术介绍

[0002]X射线检查是最具有代表性的医学影像手段，基于X射线与平板探测器的X射线成像技术广泛应用于DR(平片)，RF(透视)，CathLab(介入)设备中。X射线平板探测器的影像在采集后需要经过偏移校正(offset)，增益校正(gain)，坏点/坏线校正。为了完成这些校正，需要提前生成用于校正的数据(map)。由于偏移校正的数据和探测器的温度，模式等多重因素相关，所以需要尽可能频繁的刷新暗场数据生成偏移校正数据，否则图像质量会受到影像，甚至明显退化。在RF(透视)，CathLab(介入)应用中，对于设备的实时性能要求很高，目前的系统工作模式中，设备在使用过程中是不能够进行暗场数据刷新的。在这里临床应用的实时性与设备图像质量的保证之间就产生了矛盾。
[0003]经过海量简述发现，如公开号为CN110161555A的中国专利文献，在文献中具体公开了一种X射线探测器校正方法、装置、系统及存储介质，方法包括：获取至少一帧暗场图像组成暗场图像集；基于所述暗场图像集生成暗场校正模板，并基于所述暗场校正模板对所述探测器进行暗场校正；设置至少一个X射线剂量点，并获取对应X射线剂量点的亮场图像集；基于所述亮场图像集生成亮场校正模板，并基于所述亮场校正模板和所述暗场校正模板对所述探测器进行亮场校正。通过控制不同的X射线剂量点并曝光，控制所述探测器采集一组暗场图像集和多组不同X射线剂量点的亮场图像集，并基于采集到的图像集生成对应的校正模板，最后使用上述校正模板自动校正探测器，提高了X射线探测器校正的效率。
[0004]如图2所示，目前，生成校正文件(偏移校正数据、增益校正数据和坏点/坏线校正数据)的方式是对不同探测器工作模式分别多次采集图像数据，生成对应的数据，这个过程非常耗时。
[0005]有鉴于上述的缺陷，本设计人积极加以研究创新，以期创设一种X射线平板探测器时序同步与校正方法及系统，使其更具有产业上的利用价值。

技术实现思路

[0006]为解决上述技术问题，本专利技术的目的是提供一种X射线平板探测器时序同步与校正方法。
[0007]为实现上述目的，本专利技术采用如下技术方案：
[0008]本专利技术的目的之一：
[0009]一种X射线平板探测器时序同步与校正方法，
[0010]依次包括以下步骤：
[0011]步骤1、通过平板探测器采集图像；
[0012]步骤2、通过时序控制模块，一方面给平板探测器的同步接口发出主同步脉冲，控
制平板探测器的工作频率；另外一方面，把平板探测器返回的曝光窗口脉冲进行分频；分频后的副同步脉冲给到高压发生器接口控制X射线出束曝光；
[0013]步骤3、在上述步骤1中的平板探测器采集到的图像根据时序控制模块控制的脉冲与分频的设置，标记图像的属性；
[0014]步骤4、根据设定的策略进行暗场图像多帧平均或者递归平均，生成实时的偏移校正数据；
[0015]步骤5、如果处于校正模式，设定平板探测器模式，可以一次性获取X射线图像和暗场图像，并生成对应的增益校正数据和坏点/坏线校正数据；
[0016]步骤6、在工作状态下，由于校正文件都已经具备，可以完成每帧图像的校正。
[0017]作为本专利技术的进一步改进，在步骤1中的采集图像依次包括以下步骤：
[0018]步骤11、获取图像；
[0019]步骤12、判断上述获取的原始图像是否是X射线图像；
[0020]步骤121、如果获取的原始图像是X射线图像，则请求图像修正；
[0021]步骤122、如果获取的原始图像是暗场图像，则重新生成偏移校正数据并通过更新后的偏移校正数据请求图像修正；
[0022]步骤13、在上述步骤121或步骤122中同时通过增益校正数据和坏点/坏线校正数据请求进行图像修正；
[0023]步骤14、经过上述图像修正后获取干净的图像。
[0024]作为本专利技术的进一步改进，在步骤2中，把平板探测器返回的曝光窗口脉冲进行1/2分频、1/3分频、1/4分频
……
1/N分频。
[0025]作为本专利技术的进一步改进，在步骤3中，图像的属性为X射线图像或暗场图像。
[0026]作为本专利技术的进一步改进，在步骤4中，上述的暗场图像的选择策略采用和X射线图像最近的几帧暗场图像进行偏移校正数据生成。
[0027]作为本专利技术的进一步改进，上述的每帧暗场图像占用的权重配置方案采用平均权重。
[0028]作为本专利技术的进一步改进，在步骤5中，在工作采集状态中，设定对应平板探测器模式的时候，加载对应的增益校正数据和坏点/坏线校正数据。
[0029]作为本专利技术的进一步改进，在步骤6中，上述的校正文件包括偏移校正数据、增益校正数据和坏点/坏线校正数据。
[0030]本专利技术的目的之二：
[0031]一种X射线平板探测器时序同步与校正系统，执行如权利要求1～8任一项所述方法的时序同步与校正系统。
[0032]借由上述方案，本专利技术至少具有以下优点：
[0033]本专利技术提供了一种新的X射线平板探测器时序同步与校正方法，偏移校正数据实时更新，不需要提前生成，极大的简化了其他校正文件(增益校正数据和坏点/坏线校正数据)的生成方式，解决了应用的实时性与设备图像质量的之间的矛盾，同时还提供了变频(即实时改变采集帧频率)采集的解决方案。
[0034]本专利技术可对偏移校正数据实时更新，解决了之前需要定期(每隔10
‑
30分钟)需要进行一次偏移校正数据刷新的过程。
[0035]本专利技术可对偏移校正数据实时更新，尤其是采用了X射线图像后紧接一张暗场图像参与生成偏移校正数据，可以极大的解决X射线平板探测器在动态应用中的残影(Lag)问题。
[0036]本专利技术可以通过在校正模式下进行一次图像采集即可完成对应工作模式的校正文件生成工作，探测器校正流程变得简单高效。
[0037]本专利技术可实现实时切换帧率而无需停止采集。
[0038]本专利技术可让平板探测器的有效图像输出频率降低。
[0039]上述说明仅是本专利技术技术方案的概述，为了能够更清楚了解本专利技术的技术手段，并可依照说明书的内容予以实施，以下以本专利技术的较佳实施例并配合附图详细说明如后。
附图说明
[0040]为了更清楚地说明本专利技术实施例的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，应当理解，以下附图仅示出了本专利技术的某些实施例，因此不应被看作是对范围的限定，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他相关的附图。
[0041]图1是本专利技术一种X射线平板探测器时序同步与校正方法的结构示意图；
[0042]图2是传统工作模式中通过平板探测器采集图本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种X射线平板探测器时序同步与校正方法，其特征在于：依次包括以下步骤：步骤1、通过平板探测器采集图像；步骤2、通过时序控制模块，一方面给平板探测器的同步接口发出主同步脉冲，控制平板探测器的工作频率；另外一方面，把平板探测器返回的曝光窗口脉冲进行分频；分频后的副同步脉冲给到高压发生器接口控制X射线出束曝光；步骤3、在上述步骤1中的平板探测器采集到的图像根据时序控制模块控制的脉冲与分频的设置，标记图像的属性；步骤4、根据设定的策略进行暗场图像多帧平均或者递归平均，生成实时的偏移校正数据；步骤5、如果处于校正模式，设定平板探测器模式，可以一次性获取X射线图像和暗场图像，并生成对应的增益校正数据和坏点/坏线校正数据；步骤6、在工作状态下，由于校正文件都已经具备，可以完成每帧图像的校正。2.如权利要求1所述的一种X射线平板探测器时序同步与校正方法，其特征在于，在所述步骤1中的采集图像依次包括以下步骤：步骤11、获取图像；步骤12、判断上述获取的原始图像是否是X射线图像；步骤121、如果获取的原始图像是X射线图像，则请求图像修正；步骤122、如果获取的原始图像是暗场图像，则重新生成偏移校正数据并通过更新后的偏移校正数据请求图像修正；步骤13、在上述步骤121或步骤122中同时通过增益校正数据和坏点/坏线校正数据请求进行图像修正；步...

【专利技术属性】
技术研发人员：哈达，吕国政，
申请(专利权)人：影诺高新科技苏州有限公司，
类型：发明
国别省市：