本申请实施例提供一种标签检测方法、装置、电子设备及存储介质，其中，该方法包括：获取所述标签的成像图像；对所述成像图像中的标签缺陷进行提取，得到局部标签缺陷；对所述成像图像进行整体标签检测，得到完整标签缺陷；对所述成像图像进行偏移缺陷检测，得到偏移标签缺陷；根据所述局部标签缺陷、所述完整标签缺陷和所述偏移标签缺陷获得检测结果。实施本申请实施例，可以提高对标签检测的准确率，不易受到标签缺陷的影响，避免漏检、误检等情况的发生，可以满足工业生产过程中对标签检测的需求，提高产品的统一标准，降低成本和能耗。降低成本和能耗。降低成本和能耗。
【技术实现步骤摘要】
一种标签检测方法、装置、电子设备及存储介质
[0001]本申请涉及图像处理
，具体而言，涉及一种标签检测方法、装置、电子设备及计算机存储介质。
技术介绍
[0002]传统的产品外包装在标签贴瓶过程中通常没有太多要求，但随着市场的竞争加剧和消费者对产品包外观要求的不断提升，生产商对外包装质量的要求也在日益提高。
[0003]如果产品的外包装标签存在缺陷，会严重影响产品的外在价值，但是，在标签的印刷过程中，由于受到机械故障、工艺技术性能等因素的影响，印刷品的表面通常都存在不同程度的各种缺陷，例如划痕、鱼眼、脏污、糊版、气泡等缺陷。尤其对于一些传统行业，如白酒行业，白酒在我国有着悠久的历史和传统，如果酒瓶标签有缺陷，会影响白酒商业价值。
[0004]为了保证产品品质，多数厂商包括白酒厂商会雇佣大量人工对标签进行人工质量检测。传统的人工检测模式容易受到视觉疲劳等因素影响，工人会产生疲劳检测，导致漏检、错检等情况。而且人工目检效率低，因而无法满足工业化生产的需要。同时，人工检测耗时严重，标准不一，严重影响生产节拍。
技术实现思路
[0005]本申请实施例的目的在于提供一种标签检测方法、装置、电子设备及存储介质，可以提高对标签检测的准确率，不易受到标签缺陷的影响，避免漏检、误检等情况的发生，可以满足工业生产过程中对标签检测的需求，提高产品的统一标准，降低成本和能耗。
[0006]第一方面，本申请实施例提供了一种标签检测方法，所述方法包括：
[0007]获取所述标签的成像图像；
[0008]对所述成像图像中的标签缺陷进行提取，得到局部标签缺陷；
[0009]对所述成像图像进行整体标签检测，得到完整标签缺陷；
[0010]对所述成像图像进行偏移缺陷检测，得到偏移标签缺陷；
[0011]根据所述局部标签缺陷、所述完整标签缺陷和所述偏移标签缺陷获得检测结果。
[0012]在上述实现过程中，通过分别对成像图像进行标签缺陷提取、整体标签检测和偏移缺陷检测，可以提高对标签检测的准确率，不易受到标签缺陷的影响，避免漏检、误检等情况的发生，可以满足工业生产过程中对标签检测的需求，提高产品的统一标准，降低成本和能耗。
[0013]进一步地，所述对所述成像图像进行偏移缺陷检测，得到偏移标签缺陷的步骤，包括：
[0014]根据预先构建的标签字符模型对所述成像图像进行测量操作，得到特征点；
[0015]根据预先构建的关键点检测模型对所述特征点进行识别，得到角点像素坐标；
[0016]根据所述角点像素坐标对所述标签的实际距离进行匹配，得到所述偏移标签缺陷。
[0017]在上述实现过程中，对成像图像进行测量操作，并对得到的特征点进行识别，可以准确地得到角点像素坐标，角点像素坐标便于快速地匹配到偏移标签缺陷，并且根据角点像素坐标得到的偏移标签缺陷更加准确。
[0018]进一步地，预先构建标签字符模型的步骤，包括：
[0019]获取所述成像图像中的字符信息；
[0020]根据所述字符信息构建设计图；
[0021]根据所述设计图生成标签字符模型。
[0022]在上述实现过程中，根据字符信息构建设计图，并生成标签字符模型，可以提高标签中的字符在检测过程中的准确率，避免出现相似字符的漏检或者误检。
[0023]进一步地，所述根据所述角点像素坐标对所述标签的实际距离进行匹配，得到所述偏移标签缺陷的步骤，包括：
[0024]获取比例尺信息；
[0025]根据所述角点像素坐标获得像素差；
[0026]将所述像素差与所述标签的实际距离根据所述比例尺信息进行匹配，得到匹配结果；
[0027]判断所述匹配结果是否同时符合上限阈值和下限阈值，若是，将所述匹配结果作为所述偏移标签缺陷。
[0028]在上述实现过程中，将像素差与标签的实际距离进行匹配，可以减小检测过程中标签图像与真实标签之间的误差，使得检测结果更加准确，保证偏移标签缺陷的有效性和准确性。
[0029]进一步地，所述对所述成像图像中的标签缺陷进行提取，得到局部标签缺陷的步骤，包括：
[0030]对所述成像图像中的标签缺陷进行提取，得到置信度信息；
[0031]将所述置信度信息与置信度阈值进行对比，得到所述局部标签缺陷。
[0032]在上述实现过程中，将置信度信息与置信度阈值进行对比，可以快速地得到局部标签缺陷，并且可以提高局部标签缺陷的准确性，使得标签缺陷的提取过程中可以更加精准地定位到图像的局部。
[0033]进一步地，所述对所述成像图像进行整体标签检测，得到完整标签缺陷的步骤，包括：
[0034]对所述成像图像进行整体标签检测，得到面积参数；
[0035]将所述面积参数与面积阈值进行对比，得到所述完整标签缺陷。
[0036]在上述实现过程中，将面积参数与面积阈值进行对比，可以更快地得到完整标签缺陷，减少标签缺陷发生漏检的概率。
[0037]第二方面，本申请实施例还提供了一种标签检测装置，所述装置包括：
[0038]获取模块，用于获取所述标签的成像图像；
[0039]缺陷提取模块，用于对所述成像图像中的标签缺陷进行提取，得到局部标签缺陷；还用于对所述成像图像进行整体标签检测，得到完整标签缺陷；还用于对所述成像图像进行偏移缺陷检测，得到偏移标签缺陷；
[0040]检测模块，用于根据所述局部标签缺陷、所述完整标签缺陷和所述偏移标签缺陷
获得检测结果。
[0041]在上述实现过程中，通过分别对成像图像进行标签缺陷提取、整体标签检测和偏移缺陷检测，可以提高对标签检测的准确率，不易受到标签缺陷的影响，避免漏检、误检等情况的发生，可以满足工业生产过程中对标签检测的需求，提高产品的统一标准，降低成本和能耗。
[0042]进一步地，所述缺陷检测模块还用于：
[0043]根据预先构建的标签字符模型对所述成像图像进行测量操作，得到特征点；
[0044]根据预先构建的关键点检测模型对所述特征点进行识别，得到角点像素坐标；
[0045]根据所述角点像素坐标对所述标签的实际距离进行匹配，得到所述偏移标签缺陷。
[0046]在上述实现过程中，对成像图像进行测量操作，并对得到的特征点进行识别，可以准确地得到角点像素坐标，角点像素坐标便于快速地匹配到偏移标签缺陷，并且根据角点像素坐标得到的偏移标签缺陷更加准确。
[0047]第三方面，本申请实施例提供的一种电子设备，包括：存储器、处理器以及存储在所述存储器中并可在所述处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现如第一方面任一项所述的方法的步骤。
[0048]第四方面，本申请实施例提供的一种计算机可读存储介质，所述存储介质上存储有指令，当所述指令在计算机上运行时，使得所述计算机执行如第一方面任一项所述的方法。
[0049]第五方本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种标签检测方法，其特征在于，所述方法包括：获取所述标签的成像图像；对所述成像图像中的标签缺陷进行提取，得到局部标签缺陷；对所述成像图像进行整体标签检测，得到完整标签缺陷；对所述成像图像进行偏移缺陷检测，得到偏移标签缺陷；根据所述局部标签缺陷、所述完整标签缺陷和所述偏移标签缺陷获得检测结果。2.根据权利要求1所述的标签检测方法，其特征在于，所述对所述成像图像进行偏移缺陷检测，得到偏移标签缺陷的步骤，包括：根据预先构建的标签字符模型对所述成像图像进行测量操作，得到特征点；根据预先构建的关键点检测模型对所述特征点进行识别，得到角点像素坐标；根据所述角点像素坐标对所述标签的实际距离进行匹配，得到所述偏移标签缺陷。3.根据权利要求2所述的标签检测方法，其特征在于，预先构建标签字符模型的步骤，包括：获取所述成像图像中的字符信息；根据所述字符信息构建设计图；根据所述设计图生成标签字符模型。4.根据权利要求2所述的标签检测方法，其特征在于，所述根据所述角点像素坐标对所述标签的实际距离进行匹配，得到所述偏移标签缺陷的步骤，包括：获取比例尺信息；根据所述角点像素坐标获得像素差；将所述像素差与所述标签的实际距离根据所述比例尺信息进行匹配，得到匹配结果；判断所述匹配结果是否同时符合上限阈值和下限阈值，若是，将所述匹配结果作为所述偏移标签缺陷。5.根据权利要求1所述的标签检测方法，其特征在于，所述对所述成像图像中的标签缺陷进行提取，得到局部标签缺陷的步骤，包括：对所述成像图像中的标...
【专利技术属性】
技术研发人员：汤寅航，
申请(专利权)人：创新奇智青岛科技有限公司，
类型：发明
国别省市：
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