具有低校正期间的操作电路与其中的校正方法技术

一种具有低校正期间的操作电路与其中的校正方法。该校正方法用于校正操作电路，操作电路具有变动偏移值且包括至少一具有第一变动偏移值的比较电路，校正方法用以提供可调偏移值以校正变动偏移值，包括：P100：重置调整参数至初始值，将操作电路配置为校正组态，根据比较电路的比较结果进行初始校正程序，以决定具有N位的操作校正码，N为大于等于2的正整数；P200：将操作电路配置为操作组态，根据操作校正码进行预设操作程序，其中操作校正码对应于可调偏移值；P300：根据调整参数及测试校正码，进行低位数校正程序，以更新调整参数或更新操作校正码，接着回到程序P200。接着回到程序P200。接着回到程序P200。

【技术实现步骤摘要】
具有低校正期间的操作电路与其中的校正方法


[0001]本专利技术涉及一种操作电路，特别涉及一种具有低校正期间的操作电路。本专利技术还涉及具有低校正期间的校正方法。

技术介绍

[0002]请参阅图1A与图1B，图1A显示比较电路的变动偏移值随温度变化的关系图。图1B显示一种现有技术的可校正偏移值的操作电路(操作电路1000)。如图1A所示，由于工艺的关系，实际上的比较器与理想比较器之间，具有变动偏移值(offset)，也就是说，实际上的比较器并非理想，与理想比较器之间存在变动偏移值。此外，例如随着环境温度改变或其他环境因素的变化，上述变动偏移值也随的变化。举例而言，当温度为Tp1时，对应的变动偏移值为Vv1，当温度改变为Tp2时，变动偏移值则对应变化为Vv2。如图1B所示，现有技术的操作电路1000中，比较电路101实质上包括理想比较器11，并于预设操作程序时，具有变动偏移值Vv。如上所述，变动偏移值Vv随温度改变而变化，因此，偏移调整电路21根据比较电路101的比较结果VO以及校正信号Cen，而产生调整偏移值Va，由此校正比较电路101的变动偏移值Vv，使得操作电路1000更接近理想状态。
[0003]请同时参阅图1B与图1C，图1C显示现有技术的一种操作波形与程序图。操作电路1000于时段T11中进行校正程序P101，通过二分搜寻法逐次使得调整偏移值Va逼近变动偏移值Vv，并于二分搜寻法执行完成时更新调整偏移值Va，以补偿变动偏移值Vv，进而使得比较电路1000于预设操作程序时，尽可能地接近理想比较器。接着进入时段T12的预设操作程序P201，操作电路1000进行一般正常操作，此时以时段T11中更新的调整偏移值Va校正比较电路101的变动偏移值Vv，接着不断重复交错执行一次校正程序P101与一次预设操作程序P201。由于变动偏移值Vv随温度变化，因此现有技术的操作电路1000于预设操作程序P201中，需于固定的周期执行校正程序P101，且每一次校正程序P101都执行完整的二分搜寻法，并于搜寻完成时更新调整偏移值Va，由此使得调整偏移值Va定时更新，以准确地校正随温度变化的变动偏移值Vv。
[0004]上述现有技术的缺点在于，为了准确校正比较电路的变动偏移值，不仅需定时中断预设操作程序，而进行校正程序，且每一次的校正程序都需执行完整的二分搜寻法，因而造成中断而无法正常操作的时间过长。此外，即使变动偏移值变化不大，仍需于校正程序中执行完整的二分搜寻法，这也将造成不必要的功率耗损与时间的浪费。
[0005]相较于上述的现有技术，本专利技术的操作电路，具有低校正期间的优点，当变动偏移值无巨大变化时，不仅能大幅降低被中断而无法正常操作的时间，且能维持校正的精准度，降低不必要的功率耗损，提升电路操作效率。

技术实现思路

[0006]就其中一个观点言，本专利技术提供了一种校正方法，用于校正一操作电路，其中该操作电路具有一变动偏移值，该操作电路包括至少一比较电路，其中该校正方法用以提供一
可调偏移值以校正该变动偏移值，其中该变动偏移值包括该比较电路的一第一变动偏移值，该校正方法包含：P100：将该操作电路配置为一校正组态，并重置一调整参数至一初始值，根据该比较电路的一比较结果进行一初始校正程序，以决定具有N位的一操作校正码，其中N为大于等于2的正整数；P200：将该操作电路配置为一操作组态，根据该操作校正码操作该操作电路进行一预设操作程序，其中该操作校正码对应于该可调偏移值，用以于该预设操作程序中校正该变动偏移值；P300：将该操作电路配置为该校正组态，根据该调整参数调整一测试校正码，并根据该测试校正码操作该操作电路进行一低位数校正程序，以更新该调整参数或者根据所更新的该调整参数更新该操作校正码，其中该测试校正码相关于该操作校正码，接着回到程序P200。
[0007]在一较佳实施例中，该操作电路还包括一放大电路，耦接于该比较电路，其中该变动偏移值还包括该放大电路的一第二变动偏移值。
[0008]在一较佳实施例中，该低位数校正程序包括：将该操作电路配置为该校正组态；以及进行至多M次的子校正程序P305或者进行至多M次的子校正程序P306，其中M为小于N的正整数；接着回到程序P200；其中该子校正程序P305用以自该操作校正码起，以单斜率调整该测试校正码的一个最低有效位，用以确定继续调整该测试校正码或更新该操作校正码；其中该子校正程序P306用以通过二分搜寻法调整该测试校正码的一个位，用以确定继续调整该测试校正码或更新该操作校正码；其中该低位数校正程序中的M为一固定值，或一可变值。
[0009]在一较佳实施例中，该子校正程序P305包括：设定该测试校正码使其等于该操作校正码叠加该调整参数；以及判断该调整参数是否为该初始值，其中若该调整参数为该初始值，进行方向判断步骤S310，否则进行差值比较步骤S320；其中该方向判断步骤S310包括：根据该测试校正码提供该操作电路对应的该可调偏移值；根据该可调偏移值操作该比较电路以产生该比较结果；根据该比较结果决定一校正方向；以及将该调整参数叠加对应于该校正方向的一预设的单位差值以更新该调整参数；其中该差值比较步骤S320包括：根据该测试校正码提供该操作电路对应的该可调偏移值；根据该可调偏移值操作该比较电路以产生该比较结果；以及判断该比较结果的方向，其中若该比较结果对应于该校正方向为反相，进入校正码更新步骤S323，否则进入该调整参数更新步骤S324；其中该校正码更新步骤S323包括：将该操作校正码叠加该调整参数以更新该操作校正码；重置该调整参数至该初始值；其中该调整参数更新步骤S324包括：将该调整参数叠加该单位差值，以更新该调整参数；或者其中该子校正程序P306包括：以该调整参数示意该测试校正码的一当前测试位的一位序；将该测试校正码的该当前测试位设为一使能状态，该测试校正码的其余较低有效位(lower significant bits)设为一非使能状态；根据该测试校正码提供该操作电路对应的一可调偏移值；根据该可调偏移值操作该比较电路以产生该比较结果；以及判断该可调偏移值与该变动偏移值的大小，其中若该比较结果示意该可调偏移值大于该操作电路的该变动偏移值，将该测试校正码的该当前测试位设为该非使能状态；判断该位序是否为一最低有效位，其中若该调整参数示意已进行至该最低有效位，进行校正码更新步骤S325，否则进入调整参数更新步骤S326；其中该校正码更新步骤S325包括：根据该测试校正码更新该操作校正码；重置该调整参数至该初始值；其中该调整参数更新步骤S326包括：将当前该调整参数减1以更新该调整参数。
[0010]在一较佳实施例中，对应于该子校正程序P305的该调整参数的该初始值为0，其中对应于该子校正程序P306的该调整参数的该初始值为N。
[0011]在一较佳实施例中，该校正码更新步骤S323还包括：根据该校正方向将该操作校正码叠加该调整参数且扣除一单位差值以更新该操作校正码。
[0012]在一较佳实施例中，程序P300包括：以1个时钟周期，操作该比较本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种校正方法，用于校正一操作电路，其中该操作电路具有一变动偏移值，该操作电路包括至少一比较电路，其中该校正方法用以提供一可调偏移值以校正该变动偏移值，其中该变动偏移值包括该比较电路的一第一变动偏移值，该校正方法包含：P100：将该操作电路配置为一校正组态，并重置一调整参数至一初始值，根据该比较电路的一比较结果进行一初始校正程序，以决定具有N位的一操作校正码，其中N为大于等于2的正整数；P200：将该操作电路配置为一操作组态，根据该操作校正码操作该操作电路进行一预设操作程序，其中该操作校正码对应于该可调偏移值，用以于该预设操作程序中校正该变动偏移值；P300：将该操作电路配置为该校正组态，根据该调整参数调整一测试校正码，并根据该测试校正码操作该操作电路进行一低位数校正程序，以更新该调整参数或者根据所更新的该调整参数更新该操作校正码，其中该测试校正码相关于该操作校正码，接着回到程序P200。2.如权利要求1所述的校正方法，其中，该操作电路还包括一放大电路，耦接于该比较电路，其中该变动偏移值还包括该放大电路的一第二变动偏移值。3.如权利要求1所述的校正方法，其中，该低位数校正程序包括：将该操作电路配置为该校正组态；以及进行至多M次的子校正程序P305或者进行至多M次的子校正程序P306，其中M为小于N的正整数；接着回到程序P200；其中该子校正程序P305用以自该操作校正码起，以单斜率调整该测试校正码的一个最低有效位，用以确定继续调整该测试校正码或更新该操作校正码；其中该子校正程序P306用以通过二分搜寻法调整该测试校正码的一个位，用以确定继续调整该测试校正码或更新该操作校正码；其中该低位数校正程序中的M为一固定值，或一可变值。4.如权利要求3所述的校正方法，其中，该子校正程序P305包括：设定该测试校正码使其等于该操作校正码叠加该调整参数；以及判断该调整参数是否为该初始值，其中若该调整参数为该初始值，进行方向判断步骤S310，否则进行差值比较步骤S320；其中该方向判断步骤S310包括：根据该测试校正码提供该操作电路对应的该可调偏移值；根据该可调偏移值操作该比较电路以产生该比较结果；根据该比较结果决定一校正方向；以及将该调整参数叠加对应于该校正方向的一预设的单位差值以更新该调整参数；其中该差值比较步骤S320包括：根据该测试校正码提供该操作电路对应的该可调偏移值；根据该可调偏移值操作该比较电路以产生该比较结果；以及判断该比较结果的方向，其中若该比较结果对应于该校正方向为反相，进入校正码更新步骤S323，否则进入该调整参数更新步骤S324；
其中该校正码更新步骤S323包括：将该操作校正码叠加该调整参数以更新该操作校正码；重置该调整参数至该初始值；其中该调整参数更新步骤S324包括：将该调整参数叠加该单位差值，以更新该调整参数；或者其中该子校正程序P306包括：以该调整参数示意该测试校正码的一当前测试位的一位序；将该测试校正码的该当前测试位设为一使能状态，该测试校正码的其余较低有效位设为一非使能状态；根据该测试校正码提供该操作电路对应的一可调偏移值；根据该可调偏移值操作该比较电路以产生该比较结果；以及判断该可调偏移值与该变动偏移值的大小，其中若该比较结果示意该可调偏移值大于该操作电路的该变动偏移值，将该测试校正码的该当前测试位设为该非使能状态；判断该位序是否为一最低有效位，其中若该调整参数示意已进行至该最低有效位，进行校正码更新步骤S325，否则进入调整参数更新步骤S326；其中该校正码更新步骤S325包括：根据该测试校正码更新该操作校正码；重置该调整参数至该初始值；其中该调整参数更新步骤S326包括：将当前该调整参数减1以更新该调整参数。5.如权利要求4所述的校正方法，其中，对应于该子校正程序P305的该调整参数的该初始值为0，其中对应于该子校正程序P306的该调整参数的该初始值为N。6.如权利要求4所述的校正方法，其中，该校正码更新步骤S323还包括：根据该校正方向将该操作校正码叠加该调整参数且扣除一单位差值以更新该操作校正码。7.如权利要求4所述的校正方法，其中，程序P300包括：以1个时钟周期，操作该比较电路进行该低位数校正程序，其中该单位差值对应为对应于该校正方向的一最低有效位。8.如权利要求3所述的校正方法，其中，M等于1。9.如权利要求3所述的校正方法，其中，该M次的该子校正程序P305或该M次的该子校正程序P306所需的时间长度，小于该预设操作程序所需的时间长度。10.如权利要求3所述的校正方法，其中，该M次的该子校正程序P305或该M次的该子校正程序P306所需的时间长度，小于该初始校正程序所需的时间长度。11.如权利要求3所述的校正方法，其中，该可调偏移值对应于该操作校正码或该测试校正码的特性曲线为次基数2的曲线。12.如权利要求3所述的校正方法，其中，该初始校正程序包括：连续进行N次的子校正程序P306，其中对应于该子校正程序P306的该调整参数的该初始值为N。13.如权利要求3所述的校正方法，其中，于该预设操作程序中，该比较电路用于比较一输入信号与一参考阈值，或用于一模拟数字转换器中。14.一种操作电路，具有低校正期间，其中，该操作电路具有一变动偏移值，包含：
至少一比较电路，用以比较该比较电路的一第一输入端与该比较电路的一第二输入端的差值而产生一比较结果，其中该变动偏移值包括该比较电路的一第一变动偏移值；一偏移产生电路，耦接于该比较电路，用以根据具有N位的一操作校正码而产生一可调偏移值，以校正该变动偏移值；一偏移调整电路，用以根据以下步骤产生该操作校正码以校正该变动偏移值，且根据该操作校正码操...

【专利技术属性】
技术研发人员：郦又新，萧鸣均，
申请(专利权)人：立锜科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：