【技术实现步骤摘要】
降低开关站缺陷发生率的方法、装置、设备及存储介质
[0001]本专利技术涉及数字孪生
,尤其涉及一种降低开关站缺陷发生率的方法、装置、设备及存储介质。
技术介绍
[0002]开关站是通过开关装置将电力系统及其用户的用电设备有选择地连接或切断的电力设施,是电力系统中普遍存在的重要的器件。当开关站出现缺陷时,会增加开关站故障的风险,影响电力系统的安全性和稳定性,因此需要对如何降低开关站故障风险进行研究。
技术实现思路
[0003]本专利技术实施例的目的是提供一种降低开关站缺陷发生率的方法、装置、设备及存储介质,能够通过对导致开关站出现缺陷的原因进行逐步研究得到缺陷要因,针对缺陷要因对开关站进行对应优化,以降低开关站缺陷发生率,从而降低了开关站故障的风险,保障电力系统的安全性和稳定性。
[0004]为实现上述目的,本专利技术实施例提供了一种降低开关站缺陷发生率的方法,包括:
[0005]获取待研究开关站,针对待研究开关站设置若干缺陷类型,并对每一缺陷类型的缺陷次数和类型占比进行统计,以筛选出所述类型占比高于预设类型占比率的缺陷类型作为待研究缺陷;
[0006]针对所述待研究缺陷,设置若干缺陷症结,并对每一缺陷症结的缺陷频数和症结占比进行统计,以筛选出所述症结占比高于预设症结占比率的缺陷症结作为待研究症结;
[0007]针对所述待研究症结,设置待验证缺陷原因;
[0008]以所述待验证缺陷原因作为变量进行试验,记录关于所述待研究缺陷的试验结果,并根据所述试验结果确 ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种降低开关站缺陷发生率的方法,其特征在于,包括:获取待研究开关站,针对待研究开关站设置若干缺陷类型,并对每一缺陷类型的缺陷次数和类型占比进行统计,以筛选出所述类型占比高于预设类型占比率的缺陷类型作为待研究缺陷;针对所述待研究缺陷,设置若干缺陷症结,并对每一缺陷症结的缺陷频数和症结占比进行统计,以筛选出所述症结占比高于预设症结占比率的缺陷症结作为待研究症结;针对所述待研究症结,设置待验证缺陷原因;以所述待验证缺陷原因作为变量进行试验,记录关于所述待研究缺陷的试验结果,并根据所述试验结果确定所述待验证缺陷原因是否为缺陷要因;根据所述缺陷要因设置对应的优化措施,并根据所述优化措施对所述开关站进行优化,以降低开关站缺陷发生率。2.如权利要求1所述的降低开关站缺陷发生率的方法,其特征在于,所述获取待研究开关站,针对待研究开关站设置若干缺陷类型,包括:获取若干开关站的安装位置,根据所述安装位置对所述开关站进行分类,得到户外开关站和户内开关站;统计每一类开关站的缺陷发生率,筛选缺陷发生率高于预设发生率的开关站作为待研究开关站;根据所述待研究开关站的类型,设置若干缺陷类型。3.如权利要求1或2所述的降低开关站缺陷发生率的方法,其特征在于,当所述待研究开关站的类型为户外开关站时,所述缺陷类型包括土建环境缺陷、二次及保护设备缺陷、一次设备本体缺陷和电力电缆缺陷。4.如权利要求3所述的降低开关站缺陷发生率的方法,其特征在于,当所述待研究缺陷为所述土建环境缺陷时,所述缺陷症结包括凝露、锈蚀和开关站基础进水。5.如权利要求4所述的降低开关站缺陷发生率的方法,其特征在于,当所述缺陷症结为凝露时,所述待验证缺陷原因包括柜门密封条密封性差、平板型加热器空间加热不均匀、巡视人员技术培训时间短、开关站基础无通风装置、照明工具不足、电缆仓封堵不严和开关站加热器启动条件单一中的至少一种。6.如权利要求5所述的降低开关站缺陷发生率的方法,其特征在于,所述以所述待验证缺陷原因作为变量进行试验,记录关于所述待研究缺陷的试验结果,并根据所述试验结果确定所述待验证缺陷原因是否为缺陷要因,包括:以柜门密封条密封性作为唯一变量,在第一试验开关站的不同间隔分别设置密封性不同的柜门密封条,并记录在预设试验期间各个间隔的凝露的发生情况,以确定柜门密封条密封性差是否为缺陷要因;以平板型加热器空间加热均匀性能作为唯一变量,在第二试验开关站的不同间隔分别设置加热均匀性能不同的平板型加热器以进行加热,并记录在所述预设试验期间各个间隔内的凝露的发生情况,以确定平板型加热器空间加热不均匀是否为缺陷要因;以巡视人员技术培训时长作为唯一变量,设置巡视甲组、巡视乙组和巡视丙组,每一巡视组的实有人数相差不超过预设人数,巡视甲组的培训时长大于巡视乙组的培训时长,巡视乙组的培训时长大于巡视丙组的培训时长,针对第三试验开关站,统计每一巡视组内每
一作业人员巡视记录的凝露发生次数,根据培训时...
【专利技术属性】
技术研发人员:马意超,沈文良,蒋联杰,胡青,王凯,王蒙,费帆,屠嘉迪,吁洵哲,胡宇芬,李强强,周桀鹏,
申请(专利权)人:国网浙江省电力有限公司杭州市富阳区供电公司,
类型:发明
国别省市:
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