新型LGA模块测试治具制造技术

本实用新型专利技术公开了一种新型LGA模块测试治具，包括测试底板、固定架、翻盖测试座和RF测试探针，测试底板安装在固定架上，与固定架连接为一体式结构，测试底板的中部设有翻盖测试座，翻盖测试座包括第一测试板和第二测试板，第一测试板的一侧与第二测试板的一侧铰接相连，第一测试板与测试底板固定相连；第一测试板的内部设有容置槽，容置槽内设置有多个RF测试探针，本实用新型专利技术通过被测LGA封装模组射频信号通过RF探针直接与LGA射频信号脚连接，减小射频信号传输的路径和阻抗突变，提高了测试的精度与准确性，提高生产效率与模组品质。提高生产效率与模组品质。提高生产效率与模组品质。

【技术实现步骤摘要】
新型LGA模块测试治具


[0001]本技术涉及测试治具领域，尤其涉及一种新型LGA模块测试治具。

技术介绍

[0002]有许多治具之所以产生是因为商业的需要，因为有许多类型的治具是客制化的，某些是为了提高生产力、重复特定动作、或使工作更加精确，因为治具的设计基本上是建立于逻辑，类似的治具可能会因为使用于不同的时间和地点而分别产生，测试治具属于治具下面的一个类别，专门对产品的功能、功率校准、寿命、性能等进行测试、试验的一种治具。因其主要在生产线上用于产品的各项指标的测试，所以叫测试治具，例如需要对半导体探针进行测试，这时就需要一种通用型半导体探针测试治具。
[0003]目前，无线网络发展十分迅速，相应的电子产品发展很快，wifi亦发展到了WIFI 6/6E标准，其带宽高达160MHz，调制方式采用了更高阶的1024QAM，对射频信号链路要求更高；亦对模组测试治具中的射频链路有更高的要求，而现有的治具整体体积大，不利于架设测试环境；对被测模组全部使用双头探针与测试底板连接，对射频信号产生衰减与阻抗突变，不利射频信号的传输，因此如何解决这个问题，是我们当前所面临的困境。

技术实现思路

[0004]针对上述技术中存在的不足之处，本技术提供一种新型LGA模块测试治具，被测LGA封装模组射频信号通过RF探针直接与LGA射频信号脚连接，减小射频信号传输的路径和阻抗突变，提高了测试的精度与准确性，提高生产效率与模组品质。
[0005]为实现上述目的，本技术提供一种新型LGA模块测试治具，包括测试底板、固定架、翻盖测试座和RF测试探针，所述测试底板安装在所述固定架上，与所述固定架连接为一体式结构，所述测试底板的中部设有所述翻盖测试座，所述翻盖测试座包括第一测试板和第二测试板，第一测试板的一侧与第二测试板的一侧铰接相连，所述第一测试板与所述测试底板固定相连；所述第一测试板的内部设有容置槽，所述容置槽内设置有多个RF测试探针。
[0006]作为优选，所述固定架的上侧安装有所述测试底板，固定架的下侧通过连接杆与固定底板相连接，所述连接杆设置有多根，分别设置在所述固定架的四个顶角上，所述连接杆为伸缩结构，包括连接上杆和连接下杆，连接下杆为中空结构，连接上杆深入连接下杆内，且连接下杆的侧面设有旋钮。
[0007]作为优选，所述测试底板一侧还设有DC座，所述DC座固定在所述测试底板上，与所述测试底板电性连接。
[0008]作为优选，所述第一测试板朝向所述测试底板的一侧开设有缺口，所述第二测试板的侧面设置有扣紧结构，所述扣紧结构一端固定在第二测试板上，另一端可深入缺口内进行卡接固定。
[0009]作为优选，所述翻盖测试座和测试底板之间还设有固定块。
[0010]本技术的有益效果是：与现有技术相比，本技术提供的新型PCIEx1转LGA模块测试治具，将外部直流电源通过DC连接器连接DC座，将需要进行测试的LGA封装模块置于容置槽内，与RF探针相连接，同时可以将第二测试板扣接在第一测试板上，从而对LGA封装WIFI模块进行测试，本治具体积小巧仅，对空间要求小，有利於测试环境搭建；被测LGA封装WIFI模组的射频信号通过RF探针直接与LGA射频信号脚连接，减小射频信号传输的路径和阻抗突变，提高了测试的精度与准确性。
附图说明
[0011]图1为本技术的主体结构图；
[0012]图2为本技术的部分结构图；
[0013]图3为本技术的连接杆结构示意图。
[0014]主要元件符号说明如下：
[0015]1.固定底板 2.连接杆 3.固定架 4.测试底板 5.翻转测试座 6.扣紧结构
[0016]7.RF测试探针 8.固定块 9.DC座 21.连接上杆 22.连接下杆 23.旋钮
[0017]51.第一测试板 52.第二测试板 53 容置槽。
具体实施方式
[0018]为了更清楚地表述本技术，下面结合附图对本技术作进一步地描述，当本技术的保护范围不仅于此，在不付出创造性劳动的前提下，本领域技术人员所能够作出的简单置换都属于本申请的保护范围。
[0019]请参阅图1至图3，本技术公开了一种新型LGA模块测试治具，包括测试底板4、固定架3、翻盖测试座5和RF测试探针7，测试底板4安装在固定架3上，与固定架3连接为一体式结构，测试底板4的中部设有翻盖测试座5，翻盖测试座5包括第一测试板51和第二测试板52，第一测试板51的一侧与第二测试板52的一侧铰接相连，第一测试板51与测试底板4固定相连；第一测试板51的内部设有容置槽53，容置槽53内设置有多个RF测试探针7。在本实施例中，设置有翻盖测试座，从而可将待测模块直接放在容置槽内与测试探针相连接，减小射频信号传输的路径和阻抗突变，提高了测试的精度与准确性，而翻盖测试座在使用时可以形成屏蔽效应，可有效避免外部电子设备对待测模块造成的干扰。
[0020]固定架3的上侧安装有测试底板4，固定架3的下侧通过连接杆2与固定底板1相连接，连接杆2设置有多根，分别设置在固定架3的四个顶角上，连接杆2为伸缩结构，包括连接上杆21和连接下杆22，连接下杆22为中空结构，连接上杆21深入连接下杆22内，且连接下杆22的侧面设有旋钮23。在本实施例中，将连接杆设置为高度可调节的结构，这样就能够对整个测试底板的高度进行调节，满足不同情况下的测试需求，当需要对高度进行调节时，可以事先将旋钮调松，然后连接上杆向下或向上运动，当运动至合适的高度时，旋紧旋钮，从而实现对连接上杆进行固定。
[0021]测试底板4一侧还设有DC座9，DC座9固定在测试底板4上，与测试底板4电性连接；第一测试板51朝向测试底板4的一侧开设有缺口，第二测试板52的侧面设置有扣紧结构6，扣紧结构6一端固定在第二测试板52上，另一端可深入缺口内进行卡接固定，翻盖测试座5和测试底板4之间还设有固定块8。在本实施例中，设置有DC座，从而外接电源或者导线等，
进行数据的传输，而缺口和扣紧结构的配合，从而使得第一测试板和第二测试板能够进行卡接固定，从而在测试时进行外部信号的屏蔽；固定块为框型结构，使得第一测试板与测试底板之间形成一定的区域，这样在进行测试时，电接触产生的热量不会直接作用与测试底板上，确保使用安。
[0022]以上公开的仅为本技术的几个具体实施例，但是本技术并非局限于此，任何本领域的技术人员能思之的变化都应落入本技术的保护范围。
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种新型LGA模块测试治具，其特征在于，包括测试底板、固定架、翻盖测试座和RF测试探针，所述测试底板安装在所述固定架上，与所述固定架连接为一体式结构，所述测试底板的中部设有所述翻盖测试座，所述翻盖测试座包括第一测试板和第二测试板，第一测试板的一侧与第二测试板的一侧铰接相连，所述第一测试板与所述测试底板固定相连；所述第一测试板的内部设有容置槽，所述容置槽内设置有多个RF测试探针。2.根据权利要求1所述的新型LGA模块测试治具，其特征在于，所述固定架的上侧安装有所述测试底板，固定架的下侧通过连接杆与固定底板相连接，所述连接杆设置有多根，分别设置在所述固定架的四个顶角上，所述连接杆...

【专利技术属性】
技术研发人员：杨元仁，
申请(专利权)人：深圳市欧飞信科技有限公司，
类型：新型
国别省市：